Съемка на просвет

При съемке на просвет с помощью ПЭМ можно исследовать очень тонкие объекты (10 —10 мм). При съемках на отражение глубина проникновения составляет 3,0—20,0 нм, что даст возможность исследовать чрезвычайно тонкие пленки (например, оксидные) на поверхности металлов. Разрешение, контраст п достоверность исследований в значительной мере определяются правильностью приготовления образцов методом реплик, несущих характерные особенности исходных материалов. [c.495]

Электронограммы можно получать двумя способами, съемкой на просвет и съемкой на отражение. Съемка на просвет требует предваритель- [c.22]

Рис. 19. Схема светосильной фокусировки а—съемка на отражение , б—съемка на просвет

Рис. 5.18. Схемы съемки в фокусирующей камере с применением монохроматора а — на отражение, 6 — на просвет)

Наконец, очень ценные и, главное, прямые данные о фазовом составе и состоянии гребней рельефа на поверхности протравленного шлифа дает электронно-дифракционная съемка на отражение (точнее — на просвет тонких выступов) при очень малых (< 1 град.) углах падения электронного пучка. [c.33]

Съемку вели на просвет на медном излучении. [c.93]

Для случая съемки не на просвет , а на отражение рассмотренные соотношения несколько изменяются [1581. Для случая съемки монокристалла 1 еличина в выражении для интегральной интенсивности отражения [c.721]

Особенность электронографического метода состоит в том, что электронный пучок рассеивается веществом приблизительно в I f раз сильнее, чем рентгеновские лучи, и проникновение электронов в вещество невелико в сравнении с рентгеновскими лучами. Максимальная толщина окисных пленок, поддающихся злектронографированию, при съемке на просвет, составляет около 100 нм. При съемке методом отражения (применяя касательный к поверхности пучок электронов) можно анализировать окисные пленки толщиной порядка 1 нм и даже обнаруживать наличие мономолекулярного окисного слоя, т.е. фиксировать переход от хемисорбции к окислению. Электронография позволяет изучать процесс зародышеобразования, а при электронномикроскопическом исследовании фольговых образцов — кристаллическую структуру неметаллических включений (микродифракция). Таким образом, чувствительность метода весьма высока, и основное достоинство его заключается в возможности исследования малых объемов вещества. [c.22]

На рис. 2.5 приведены микрофотографии, иллюстрирующие изменение вида микроэлектронограмм, полученных путем съемки на просвет, в зависимости от / при охлаждении, причем эти микрофотографии соответствуют картинам электронной дифракции на рис. 2.4, а—d. На рис. 2.5, а показана структура исходной фазы с о.ц.к. решеткой типа [c.62]

Для построения прямой полюсной фигуры (ППФ) методом наклона, который обладает рядом преимуществ по сравнению с методом поворота, и для съемки на просвет используют специальный держатель — приставку ГП-2 или ГП-15 к дифрактометру типа ДРОН, Имеются специальные текстурдифрактометры, позволяющие автоматизировать процедуры изменения положения образца, угла а, расчета (введение поправок на интенсивность) и самого построения ППФ на бумаге (текстурдиф-рактометр ДАРТ-2,0). [c.137]

Для более точного определения ориентировки объекта применяли методику определения аксиальной текстуры на электронограмме косой текстуры. Чтобы получить при съемке на просвет такую эле-ктронограмму, необходимо повернуть препарат вокруг горизонтальной оси на угол, достаточный для того, чтобы выявились текстурные максимумы (см. рис. 8,6). [c.69]

Такие проявители мало пригодны для цветных процессов, где требуется восстановление в сине-зеленом участке спектра. На просвет обработанные в них фотоматериалы имеют красно-оранжевую окраску, обусловленную размером получаемых зерен серебра. При восстановлении сине-зеленая часть спектра поглощается. Попытки изменить окраску оказались малоэффективными — с амидоловым проявителем получаются желтые осадки. Дифракционная эффективность для сине-зеленой области получается очень малой — 4%. Дальнейшим развитием фотопроцессов стали процессы с отбеливанием. Первые отбеливатели были на основе сулемы. Теоретически отбеленная голограмма может иметь дифракционную эффективность до 100%. В специальных задачах (интерферометрия, копирование) можно работать без отбеливания, когда требуется повысить отношение сигнал/шум хотя бы и за счет низкой дифракционной эффектившсти. Тогда съемка ведется с обработкой без отбеливания, а копирование на бесшумную прозрачную пленку с низкой чувствительностью. Известны опыты Липпмана по использованию би-хромированной желатины для интерференционной цветной фотографии. [c.68]

Источником информации о структуре пленок служили их электронограммы, полученные с помощью электронографа ЭР-100. Их съемка осуществлялась двумя путями обычным — фотометрированием регистрационным — записью на потенциометре-самописце. Эталоном служила алк>миниевая кристаллическая пленка. Кривые интенсивности снимались на просвет в [c.44]

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод исследования строения вещества, основанный на дифракции электронов. Особенности этого метода по сравнению с ])ентгенографией и нейтронографией 1) значительно более сильное (иа неск. порядков величины) взаимодействие электропов с веществом, в силу чего на просвет можно исследовать препараты толщиной Ю —10 см. При съемках на отражение глубина проникновения электронов в вещество 30—50 А. При исследовании строения молекул объектом является струя пара при низком давлении (неск. десятков м.и рт. ст.). 2) Возможность определять (значительно проще, чем в нейтронографии) положение легких атомов в присутствии более тяжелых (Н в присутствии В, С, N и т. д. N в присутствии Ге, С, У). [c.508]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...