Межплоскостные расстояния, расчет

Межплоскостные расстояния, расчет 107 Межчастичные расстояния, определение 92 Мессбауэра эффект 161, 178 Метод вращения ИЗ Метод порошка 114 [c.349]

Электронография при исследовании окалины занимает особое место Сущность метода заключается в использовании явления дифракции электронов, возникающего в результате когерентного рассеяния кристаллической решетки вещества пучка электронов с длиной волны X < < Id (где d - наименьшее изучаемое межплоскостное расстояние) Метод дает возможность получать такие же данные о кристаллической структуре веществ, как и рентгеновский метод. При этом для расчета электронограмм используется известное в рентгенографии уравнение Вульфа — Брэгга [c.22]

Параметры элементарной ячейки можно определить, используя формулы для их расчета при различных сингониях кристаллического вещества, т.е. формах его кристаллической ячейки, связывающие эти параметры, межплоскостные расстояния и индексы отражающих плоскостей h, к, I (табл. 2.1.1). [c.49]

Согласно одной из моделей, зона — это диск атомов меди толщиной в один атом, окруженный плоскостями решетки алюминия. Смещение в кристаллической решетке вокруг зоны охватывает не менее 14 атомных плоскостей. В первой соседней плоскости Аа/й равно —0,10 а — межплоскостное расстояние), а в 10-й — только —0,02 (на основе. расчета и рентгеновских данных). [c.225]

ФОРМУЛЫ для РАСЧЕТА МЕЖПЛОСКОСТНЫХ РАССТОЯНИЙ И ОБЪЕМА ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ V [c.107]

Программа не учитывает изменения величин межплоскостных расстояний и интенсивностей отражения для фаз, связанных с легированием и образованием твердых растворов. Очевидно, в этом случае достоверность определения фазового состава будет хуже. Задача. может быть решена в случае известного химического состава сплава. Это позволяет предположить, а затем и подтвердить с помощью теоретического индицирования и расчета интенсивностей присутствие фазы определенного структурного типа. [c.125]

Для повышения разрешающей способности рентгеновской оптики в этой области спектра целесообразны поиск и синтез новых кристаллов с большими межплоскостными расстояниями, состав и структура которых отвечают требованиям, сформулированным в п. 8.3. Поиск должен включать расчет дифракционных параметров и разработку методов выращивания совершенных кристаллов больших размеров. [c.314]

В простейшем случае двухволновой теории для изотропных материалов отсутствие искажения межплоскостных расстояний приводит к исчезновению контраста изображения линии дислокации, если g-b =0, где g — вектор дифракции. Это простое соотношение широко применялось для идентификации дислокаций, однако, как показывают тщательные расчеты, оно может оказаться непригодным для анизотропных материалов или в условиях л-волновой дифракции, так что его следует использовать с осторожностью. [c.406]

Ошибка оказывается равной примерно 1%. причем она уменьшается, если брать в расчет не все дифракционное поле, а только его наиболее важную часть, соответствующую, например, межплоскостным расстояниям до одного ангстрема. Это связано с необходимостью ввести поправку при учете дальних отражений [4], Необходимо также учитывать, что вычисленные посто- [c.53]

Каждая линия на рентгенограмме получается в результате отражения я-го порядка от плоскостей с определенным межплоскостным расстоянием й. Чтобы исключить из расчетов неизвестную величину п, можно рассматривать каждую ли- [c.133]

Определение малых содержаний углерода в мартенсите. Метод определения содержания углерода в твердом растворе по изменению din применим лишь при содержании С > (0,6—0,7) %, так как при меньших концентрациях дублет не разделяется и изменение межплоскостных расстояний уловить не удается. Однако на практике в закаленных сталях содержание углерода в мартенсите часто не достигает этой величины. Тогда для определения концентрации углерода можно применять метод, основанный на измерении расширения линии на рентгенограмме. Метод состоит в нахождении междублет-ного расстояния по общей ширине линии на рентгенограмме и вычислению по этой величине содерлсаиия углерода. Большое значение при этом имеет выбор линии на рентгенограмме. Для стали, не содержащей остаточного аустенита, расчет целесообразно проводить по ширине дублета [(ПО) — (101) (011)] при наличии остаточного аустенита на расширение этой линии влияет линия (111) аустенита, расположенная почти под тем же углом. В этом случае расчет целесообразно проводить но линии дублета [(112) — (211)(121)1. [c.23]

Определив угол 0 с точностью до 0,0Г и зная длину волны излучения, можно рассчитать значения межплоскостных расстояний i/для каждого дифракционного пика по формуле (2.1.1) или с помощью универсальных таблиц, которые были составлены путем расчетов для условия Вульфа — Брэгга к наиболее распространенным длинам волн с целью повышения точности и экспрессности расчетов. [c.53]

Для расчета параметра с выбираем дифракционную линию с межплоскостным расстоянием 202 U6796 А. Индексы Миллера hkl — 202, тогда [c.59]

Деформации резко возрастают при переходе к химической адсорбции, когда на поверхности образуются новые химические соединения и происходит регибридизация связей решетки (п.5.1.2). Поверхностный слой твердого тела ( // на рис.7.2) далеко не инертен, как предполагалось в некоторых теоретических расчетах. Структура и физические характеристики этого "живого" слоя изменяются как при физической, так и при химической адсорбции. В последние годы методами ЭПР, ЯМР, комбинационного рассеяния света, мес-сбауэровской и рентгеновской спектроскопии были зарегистрированы заметные макроскопические изменения межплоскостных расстояний и валентных углов при адсорбции. [c.226]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...