Материалы для ультрафиолетовой и инфракрасной областей спектра

Материалы для ультрафиолетовой и инфракрасной областей спектра [c.307]

Дифракционные решетки получили большое распространение особенно в далеких ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра, где неизвестны прозрачные материалы для изготовления призм. Решетки бывают прозрачные и отражательные, плоские [c.358]

Некоторые природные оптические материалы, в частности, флюорит, имеющий коэффициент дисперсии, равный 95,3 при показателе преломления 1,43, далеко выходит за пределы области сортамента оптического стекла. Помимо этого, флюорит представляет особый интерес благодаря его высокой прозрачности в ультрафиолетовой и инфракрасной частях спектра, а также ввиду весьма выгодного изменения его частных дисперсий, используемого для исправления вторичного спектра. [c.153]

Методы измерения энергии и мощности излучения в ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной частях спектра были предметом постоянного изучения и совершенствования в течение очень многих лет [1 —11]. Появление лазеров выдвинуло ряд дополнительных проблем, а также несколько упростило дело. Упрощение связано с тем, что большинство лазеров испускает почти монохроматическое излучение. Так как частотные характеристики чувствительности большинства приемников существенно не изменяются в узких спектральных областях, проще становится проблема обработки данных. Более того, поскольку требуется измерять лишь излучение с узкой спектральной полосой становится возможным использование узкополосных фильтров в сочетании с некоторыми типами приемников. Тем самым снижается влияние ряда источников ошибок, внешних шумов и уменьшаются потери, вызванные переизлучением. Разумеется, возникают и некоторые осложнения. От лазеров можно получить значительно большие плотности энергии и мощности, чем от большинства тепловых источников света, и поэтому при работе с разными фотоприемниками нужно быть осторожным, чтобы избежать насыщения или повреждения приемников излучением. Поскольку некоторые лазеры дают крайне короткие импульсы, для измерения мгновенной мощности требуются малоинерционные приемники и связанная с ними аппаратура с соответствующим быстродействием. Для преодоления таких осложнений были затрачены большие усилия по разработке надежных методик, многие из которых мы изложим ниже. Кроме материалов, содержащихся в данной главе, мы рекомендуем читателю несколько обзоров по общепринятым методикам, опубликованным ранее [12—14]. [c.107]

Ход коэффициента поглощения а (или показателя по глощения к) для чистых (беспримесных) полупроводников таков как и у металлов в видимой части спектра он достаточно высок. При переходе к близкой инфракрасной области (край поглощения) величина а начинает резко убывать и материал становится прозрачным. Для примесных материалов достаточно высокая постоянная поглощения наблюдается вплоть до ультрафиолетовой части спектра. [c.213]

Как было уже показано в 2.2.1, ответственные за дисперсионные свойства диэлектрического материала электронные и атомные резонансы вызывают также поглощение в окрестности резонансных частот. Для интересующих нас материалов это резонансы в ультрафиолетовой области спектра, связанные с электронными структурами атомов кристаллической решетки, и резонансы в инфракрасной области, обусловленные колебаниями самих атомов в решетке. Хотя эти резонансы и лежат весьма далеко от тех оптических частот, которые мы хотим использовать, однако они вызывают столь сильное поглощение, что хвосты нх полос поглощения захватывают эту область при очень малом уровне потерь. На рис. 3.1 приведена оценка потерь, создаваемых краями полос по1 лощения в кварцевом волокне, легированном германием. [c.77]

За период, прошедший со времени выхода книги, был выявлен и исследован целый ряд новых материалов с квадратичной нелинейностью, перспективных для нелинейной оптики. В частности, появились перспективные кристаллы для инфракрасной области спектра GaSe, AgGaS2, dGeAs2 и др. [1—12], новые нелинейные кристаллы семейства формиатов, перспективные для ультрафиолетовой области спектра [13, 14], молекулярные кри- [c.237]

По диапазонам длин волн (в порядке убывания) или частот (в порядке возрастав..я) выделяют радиоспектроскопию, микроволновую спектроскопию, суб-миллиметровую спектроскопию, инфракрасную спектроскопию, оптическую спектроскопию (включающую ближнюю ИК-, видимую и частично УФ-области спектра и выделенную гл. обр. по прозрачности оптнч. материалов — стекла, кварца и др.), ультрафиолетовую спектроскопию, рентгеновскую спектроскопию. По характеру взаимодействия излучения с веществом С. подразделяют на линейную (обычную) С. и нелинейную спектроскопию, к-рая возникла благодаря применению лазеров для возбуждения спектров. Применение перестраиваемых лазеров на растворах красителей и полупроводниковых диодных лазеров, а также использование электронных цифровых методов регистрации спектров позволили достичь очень высокого спектрального разрешения и высокой точности спектральных измерений. [c.625]

При градуировке спектральных приборов необходимо иметь спектр с известными длинами волн. В ближней ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях для этих целей можно использовать ртутные лампы, гейслеровские трубки, натриевые, неоновые и другие лампы. В дальней инфракрасной области градуировка ведется по спектрам поглощения различных, хорошо изученных материалов при источнике излучения со сплошным спектром. [c.391]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...