Структура несимметричного следа за пластиной

Структура несимметричного следа за пластиной [c.357]

Рассмотрим решение задачи об устойчивости тонкой свободно опертой прямоугольной многослойной пластины несимметричной структуры при двухосном равномерном сжатии. Для тонких пластин, которые не содержат слоев с низкой трансвер-сальыой сдвиговой жесткостью, учет деформаций поперечного сдвига не дает существенных уточнений. Поэтому при расчете можно сразу положить я1)1 = ф2 = 0. В этом случае в формулировке задачи (4.71) будут участвовать следующие обобщенные перемещения [c.208]

Исследоиания показывают, что иа предельных режимах (при больших X ) спутный след за пластиной принимает вид вихревых дорожек. В зависимосга от начальных условий движе(шя пластины режим течения при угле атаки а=90 и больни1Х получается различным. Имеют место две характерные структуры течения — симметричная и несимметричная. [c.92]

Приступая к расчету резонатора матричным методом, необходимо, в первую очередь, установить, применим ли этот метод к рассматриваемому резонатору. Матричный метод и правило AB D применимы лишь к резонаторам, обладаюш,им плоскостью симметрии. В частности, необходимо, чтобы осевой контур резонатора целиком лежал в этой плоскости симметрии, а все оптические элементы, об-разуюш,ие резонатор, должны располагаться зеркально симметрично относительно этой плоскости. Следует иметь в виду, однако, что эта симметрия касается только пространственного воздействия со стороны оптического элемента на пучок, но не воздействия на поляризацию пучка. Воздействие на поляризацию может быть и несимметричным. Папример, фазовые пластинки или поляризаторы, практически не изменяюгцие пространственной структуры пучка, могут несимметричным образом воздействовать на его поляризацию, т. е. главные оси фазовых пластин и поляризаторов могут быть произвольным образом развернуты относительно плоскости симметрии резонатора. Такое нарушение симметрии несуш,ественно, оно оставляет резонатор в рамках матричного метода и правила AB D, поскольку пространственная структура пучка и его поляризационное состояние отыскиваются независимо. [c.81]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...