Косселя картины

Колонковое приближение 231, 309, 312, 409 Корню спирали 34 Корреляционные функции 106 Косой текстуры снимки 360, 361 Косселя картины 213, 274, 313, 317, 384 Коэффициент отражения 333 [c.423]

В двухволновом случае диски падающего и дифракционного пучков будут пересекаться параллельными полосами интенсивности, согласно уравнению (9.4) для и /о= 1 /. На этой основе Мак-Гиллари [296 ] интерпретировала картины в сходящемся пучке, полученные Косселем и Молленштедтом от тонких кристаллов [c.200]

Дифракционные картины от монокристаллов, полученные в сходящемся пучке и представляющие собой наборы линий, наблюдались в рентгеновских лучах, электронных пучках и других излучениях при разнообразных экспериментальных условиях. В дифракционных картинах, которые получены с помощью рентгеновских лучей, излученных внутри монокристалла, образуются линии Косселя. Почти аналогичные линии Кикучи образуются, когда электроны, диффузно и неупруго рассеянные в кристалле, дифрагируют в кристалле. Эти и все другие похожие типы картин, обсуждаемые в данной главе, мы назовем в общем как картины К--линыы. [c.313]

В 1934 г. в первоначальных наблюдениях Косселя и др. [262] и ранее, в 1922 г., в отчасти спорной работе Кларка и Дьюэйна [551 антикатод в рентгеновской трубке был сделан из монокристалла. Характеристические рентгеновские лучи, возбужденные падающим электронным пучком, дифрагировали затем в кристалле, давая картину линий Косселя на фотопластинке. Картину, полученную Фогесом [383] в 1936 г. от монокристалла меди, позднее воспроизвел Джеймс [232 ]. Аналогичные картины, но с использованием не электронов, а рентгеновских лучей для возбуждения флуоресцентного рентгеновского излучения в кристалле получал Боррман [38]. Во всех этих случаях картины наблюдали с той же стороны кристалла, на которую падали электроны или рентгеновские лучи, но с тонким кристаллом возможна также геометрия на прохождение. [c.313]

Фиг. 14.1. Схема, поясняющая образование картин линий Косселя с излучением, возбужденным в точке Р в кристалле.

Поэтому проблема вычисления картины Косселя точно такая же, как и проблема вычисления волнового поля в кристалле, возбуждаемого плоской падающей волной. Так как картины Косселя образуются независимым характеристическим излучением от атомов, распределенных во всем объеме кристалла, интенсивность волнового поля в кристалле, возбужденного падающей плоской волной, суммируется для всех положений излучающих атомов. Это можно сделать с помощью теории дифракции, как предлагал Лауэ [2821 и позже Захариасен [401], Хирш [194], Като [2481 и др. [c.315]

Фиг. 14.3. Получение картин линий Косселя от источника излучения А снаружи кристалла для случаев (а) тонкого кристалла и (б) толстого кристалла.

Мы можем понять, почему некоторые из наиболее четких картин Косселя получены при использовании схемы эксперимента, показанной на фиг. 14.3, а, когда электронный пучок фокусируется в небольшое пятно на одной стороне тонкого кристалла, а картины Косселя наблюдаются в прошедших рентгеновских лучах. Из гео- [c.317]

Фиг. 14.4. Картина линий Косселя от кристалла германия толщиной 0,23 мм, полученная помещением источника СиКа излучения на расстоянии 3 см от кристалла. (Из работы Боррмана [411)

Схема эксперимента, показанная на фиг. 14.3, а, отвечает почти кинематическому случаю дифракции на несовершенном кристалле. Для толстого совершенного кристалла более приемлема схема, показанная на фиг. 14. 3, б. Как мы видели при обсуждении эффекта Боррмана (гл. 9), энергия передается через кристалл преимущественно вдоль сильно отражающих плоскостей. Прошедший и дифрагированный лучи дают одинаково сильные, узкие пики. Таким образом, в обоих направлениях, составляющих углы 6 , с дифракционными плоскостями, будут получены четко определенные яркие линии. Фон на картине будет очень слабым, потому что в тех направлениях, где нет дифракции, коэффициент поглощения гораздо выше. Картина линий Косселя, полученная от источника излучения, значительно удаленного от почти совершенного кристалла германия, показана на фиг. 14.4 . [c.319]

Картины с линиями, которые впервые наблюдал Кикучи [254 1 в диффузном фоне электронных дифракционных картин от монокристаллов, в значительной степени похожи на линии Косселя, за исключением того, что вследствие гораздо меньших длин волн и дифракционных углов в случае электронов конуСы дифракционных лучей очень неглубокие и пересекают фотопластинку почти по прямым линиям (фиг. 14.5). Другое очевидное различие заключается в том, что, в то время как в картинах Косселя линии [c.319]

Диффузное рассеяние в электронных дифракционных картинах состоит из псевдоупругого рассеяния, обязанного тепловым колебаниям атомов, разупорядочению атомов или дефектам кристалла, плюс неупругое рассеяние вследствие возбуждения электронов . Для толстых кристаллов становится существенным многократное диффузное рассеяние с более широким распределением по углу и энергии. Поскольку процессы рассеяния дают электронные пучки, некогерентные с падающим и с каждым другим лучом, можно считать, что диффузное рассеяние возникает внутри кристалла. Однако в противоположность случаю линий Косселя, где излучение рент- [c.320]

С другой стороны, если кристалл очень несовершенен, то из-за наличия диапазона угловых ориентаций отдельных небольших областей кристалла уширится профиль интенсивности линии Косселя в силу геометрических эффектов, обсужденных выше, и вызовет последующую потерю контраста. Следовательно, для наблюдения наилучших псевдокосселевских картин необходимо использовать кристалл, имеющий только определенную степень несовершенства. [c.324]

В случае электронов небольшие источники излучения снаружи кристалла можно легко создать, используя для этого линзу для фокусировки пучка электронов в небольшую область. Таким путем Коссель и Молленштедт [2631 получили картины в сходящемся пучке (гл. 9 и фиг. 9.4 и 9.5), в которых круглые диски интенсивности, соответствующие каждому дифракционному пятну, пересечены темными и светлыми линиями. Эти картины отличаются от картин Кикучи (которые иногда получаются на фоне неупругого рассеяния от картин в сходящемся пучке) тем, что здесь нет такого же перекрывания прошедших и дифракционных пучков. [c.325]

Кинематический метод объяснения контраста линии Косселя (фиг. 14.3, а) применяется в некоторых случаях, но для электронов направления дифракционных пучков не определяются с такой точностью и размеры кристаллов намного меньше. Таким образом, черно-белый контраст К-линии виден, если картина, очень близко расположенная к кристаллу, сильно увеличена с помощью электронного микроскопа, как это сделали в своих наблюдениях Дюпуа и Бовийен [122]. Однако если картина наблюдается на большом расстоянии от кристалла (от 20 до 50 см), углового расхождения дифрагированных пучков вследствие их естественной полуширины достаточно для того, чтобы смазать черно-белую структуру. Тогда контраст будет обусловлен чисто интерференционными динамическими эффектами, которые дают тонкую структуру, имеющую большую угловую ширину. [c.325]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...