Эшелетт рабочая

Выбор параметров эшелетта н рабочей области [c.240]

Рабочая зеркальная грань обычно более широкая, чем нерабочая. Она играет главную роль в работе решетки. Световая волна дифрагирует на каждом зеркальном элементе шириной а и в отраженном свете дает пространственное дифракционное распределение интенсивности. Дифракционный максимум от каждого зеркального элемента расположен в направлении зеркального отражения луча. В этом же направлении, следовательно, имеет место максимум энергии, отраженной от решетки. Положение этого максимума будет зависеть от угла профиля решетки /. При этом положение максимума можно смещать по спектру, изменяя угол г профиля решетки. Такие решетки с концентрацией энергии в определенном порядке спектра получили название эшелеттов. [c.433]

Решетки, используемые в спектральных приборах, являются фазовыми. Они представляют собой регулярную последовательность канавок треугольного профиля (рис. 41.1). Рабочая широкая грань называется зеркальным элементом и ее поверхность выполняется очень качественно. Особенностью работы таких решеток является то обстоятельство, что для длины волны Я, зеркально отражающейся от рабочей грани штриха, имеет место максимальная концентрация энергии. Причем положение этого максимума можно смещать по спектру, изменяя угол I профиля штриха. Такие решетки получили название эшелетты . [c.294]

При падении на эшелетт параллельного пучка лучей на каждой зеркальной площадке происходит дифракция, как на узкой щели, и пучки, дифрагированные ка всех площадках, интерферируют между собой. При этом световой пучок сложного состава превращается во множество монохроматических пучков с различными длинами волн. Дифракционная картина от одного зеркального элемента накладывается на распределение, получающееся при интерференции света от N рабочих элементов решетки. Дифракционная картина наблюдается в фокальной поверхности выходного коллиматорного объектива. [c.359]

ЭШЕЛЛЁ (эшель) (франц. e helle — лестница) — спец. плоская отражательная дифракц. решётка с несимметричным треугольным профилем штриха, аналогичная эшелетту, но используемая при больших углах дифракции и высоких порядках спектра. Наиб, концентрация падающего на Э. излучения в спектр высокого порядка достигается за счёт увеличения угла скоса рабочей (более короткой) грани штриха П—угла блеска (рис.). Так как Э. используется [c.651]

Технология изготовления Э. и эшелеттов практически одинакова—с помощью нарезания штрихов алмазным резцом на делительной машине. При этом предъявляются более высокие требования к качеству изготовления крутой зеркальной рабочей грани несимметричного треугольного профиля (чистота, плоскостность). Поскольку формы штрихов Э. и эшелетта практически одинаковы (различие лишь в величине d), то при установке эшелетта, напр., с углом блеска (углом скоса пологой грани) П = 20" по автоколлимац. схеме установки Э. с углом блеска (углом скоса короткой грани) fi = 70" угл. дисперсия должна увеличиться в 7,6 раза, а разрешающая способность— в 2,7 раза. Поскольку угол падения параллельного пучка на Э. велик ( /i Q), ширина Э. W, перпендикулярная штрихам, должка быть больше его высоты Н Их я /)ф= Жсо5Й и при 3 = 70", чтобы сечение параллельного пучка было близко к квадрату, ширина Э. должна быть равна 2,9 Н. [c.651]

Мысль о том, что дифракционные решетки можно получать голографическим способом, впервые высказал Ю. Н. Денисюк в 1962 г. С тех пор голографические решетки получают все большее распространение в спектральном приборостроении благодаря своим преимуш,ествам отсутствию духов (порядков, обусловленных нарушением периодичности), малого случайного светорассеяния, быстроты изготовления, дешевизны, меньшей трудоемкости. Естественно, что от голографических решеток сложнее добиться нужных дифракционных характеристик, чем в случае нарезной решетки, например типа эшёлетт, где геометрия просто определяет так необходимый оптикам угол блеска. Однако, как неоднократно отмечалось во многих работах, при меньшей, чем у нарезных решеток, дифракционной эффективности решетки, изготовленные голографическим методом, обеспечивают более высокое качество волнового фронта в рабочем порядке (гармонике). К тому же в последнее время появился ряд работ, в которых утверждается, что с использованием фоторезиста и определенных схем записи — восстановления голограмм — возможно получение рельефно модулированных решеток с заданным профилем, в том числе и эшелеттов. [c.6]

Отмеченные резонансы присущи обеим поляризациям. Ве-Рис. 107. к определению зон наблюдения зер- личина амплитуд резонирующих кальных резоиаисов иа остроугольном эшелетте. гармоник спектра тесно связана С размером рабочей грани эшелетта и обычно пропорциональна ей. Положение максимумов резонансов всегда смещено по отношению к расчетному в коротковолновую область в -случае и в длинноволновую — в Я-случае. При этом величина смещения уменьшается с увеличением х и рабочей грани, оставаясь всегда больше для -поляризованных волн, чем для Я-поляризованных. Из приведенных в этой главе рисунков легко установить величину этих смещений., [c.158]

Свойство 1. Если при Я-поляризации эшелеттная решетка с углом блеска а = 90° — г ) освещается под углом падения ф = 90° — г ), ф > О и ф = —Tj при ф < О, то вся дифрагированная энергия концентрируется в — л-м порядке эффективность W-n = 1. все другие Wm = 0, т Ф —п. При этом во всем пространстве существует одна гармоника рассеянного поля. Это известное явление резонансного отражения названо зеркальным резонансом [25, 276]. Дело в том, что при Я-поляризации всегда наблюдается явление резонансного роста того порядка спектра рассеянного поля, направление распространения которого практически точно соответствует направлению зеркального отражения падающего поля от рабочей грани эшелетта. В отмеченном нами случае автоколлимационного отражения это явление имеет геометрический характер (геометрический резонанс П, являющийся частным случаем зеркального резонанса, гл. 3). [c.182]

Рабочая область спектра для эшелетта. Ь ак уже отмеча.лось, для заданного )шелетта и заданной его установки условие блеска строго выполняется лишь для одной определенной длины волпы Ао, п . Но на п])актпке редко приходится исследовать спектр, состоящий из одной пли нескольких линий, близких к лпиии с длиной П]1И исследовании же относительно широкого [c.241]

Технология изготов.тения эшелле и эшелеттов ирактически одинакова, ио из-за большого отношения с/,/, к качеству рабочей грани П1триха эше.кте предт.яв.тяют более высокие требования (чистота новерхности, отступление от плоскости), [c.248]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...