Размеры различных объектов, шкал

Размеры различных объектов, шкала 16 [c.617]

Шкала размеров различных объектов. [c.16]

Если в задачах оптимального проектирования все переменные проектирования и состояний являются непрерывными, то для решения задач параметрического синтеза могут быть использованы методы решения задач нелинейного программирования, основанные на хорошо разработанных процедурах поиска экстремума функций. Однако не всегда все элементы в проектируемых объектах могут принимать любые значения в пределах некоторой допустимой области. Это связано прежде всего со стандартизацией и унификацией комплектующих изделий в различных областях техники. Так, в радиотехнике параметры резисторов и конденсаторов могут принимать только определенные значения из разрешенной шкалы номиналов, в строительстве плиты перекрытия, балки и другие комплектующие изделия имеют ряд определенных стандартных размеров. Кроме того, на параметры разрабатываемых объектов также накладывается ряд ограничений, учитывающих условия стандартизации и унификации. Так, в электротехнике и радиоэлектронике разрешается использовать только определенные [c.274]

Для измерения поперечных размеров частицы в двух различных направлениях поворачивают либо окулярный микрометр до требуемого направления шкалы, либо предметный столик с закрепленным на нем препаратом. Площади проекции частицы удобно определять с помощью квадратно-сетчатой окулярной сетки. Число клеток, покрывающих изображение частицы, умноженное на площадь одной клетки и цену деления стороны квадрата сетки, полученную с помощью объект-микрометра, дает приближенное значение действительной площади частицы. - [c.173]

Сочетание средств и объектов с различными ТКЛР, а также применение приборов с термостатированной шкалой требуют определенной методики, так как хорошая воспроизводимость установочных размеров прибором не сопровождается компенсацией температурного расширения объектов измерения. Следовательно, необходимы введение расчетных поправок или регламентация частоты и порядка использования установочных мер с соответствующим ТКЛР. Для ориентировочного определения приведенного к линии измерения ТКЛР прибора используются [c.196]

Принципы измерений увеличенных изображений частиц при всех этих способах подобны измерениям при непосредственном анализе частиц в поле зрения микроскопа. Здесь также могут быть использованы различные измерительные приспособления, в качестве которых применяют увеличенные изображения окулярных шкал или обычные линейки и увеличенные изображения масштабных квадратных и специальных сеток, выполненных на прозрачных материала-х или нанесенных на экраны. Цены делений шкал, размеры сторон квадрата сетки и размеры эталонных кружков дисковых компараторов и специальных масштабных сеток определяют сравнением со шкалой, объект-микрометра, увеличенной совме стно с изображением препарата. В то же время при анализе содержания й распределения частиц по размерам с помощью микрофотографий можно использовать-способы, которые нельзя применить при измерении в поле зрения микроскопа. Наибольший интерес представляют два из них, дающих вполне. хорошие результаты способы планиметрирования и взвеЩивания. [c.202]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...