Структура аморфных тел случайная плотная упаковка

Степень аморфности 110 Структура аморфных тел доменная 136, 139, 142, 173 случайная плотная упаковка 80, 107 ---твердых сфер 81, 107 [c.328]

Выходом из этого положения является построение и анализ различных моделей структуры аморфных металлов. Суть подхода состоит в том, что сначала составляется случайная плотная упаковка твердых сфер (СПУТС), затем определяется средняя плотность и парная функция распределения g r) такой СПУ-структуры, после чего с использованием подходящего парного потенциала или надлежащих геометрических усл овий, или и того, и другого вычисляются локальные смещения в атомных конфигурациях, в результате чего происходит стабилизация модели СПУ-структуры. [c.81]

Основным методом изучения структуры аморфных материалов является метод дифракции рентгеноваких х лучей, электронов и нейтронов [67]. В главе 7 при рассмотрении вопросов дифракции излучения на кристаллах указывалось, что при рассеянии на неограниченном кристалле возникают узкие дифракционные максимумы, положение которых определяется в соответствии с формулой Вульфа -— Брэгга межплоскостными расстояниями, а ширина — размером кристалла,. В весьма грубой модели картину дифракции на аморфных материалах можно рассматривать как происходящую на совокупности ультрамалых беспорядочно ориентированных кристаллитов (см. рис. 12.2, а), и поэтому узкие дифракционные максимумы при переходе к рассеянию аморфными материалами должны трансформироваться в широкие диффузные гало. Такой подход позволяет качественно объяснить характер дифракционной картины от аморфных веществ, однако даже при исследовании структуры аморфных материалов с помощью наиболее высокоразрешающего метода — дифракции электронов — узкие дифракционные максимумы обнаружить не удалось. По этой причине модель аморфных материалов как ультрамикрокристал-лических веществ далеко не всегда считается справедливой. В качестве более корректной модели сейчас все чаще принимается модель непрерывного распределения сферических частиц, характеризующихся почти плотной упаковкой (иначе — случайной сеткой [c.277]

Моделирование аморфных структур. Оптимизация неравновесных структур требует развития математических методов их моделирования [461]. Они объединены в группы [462] с учетом исходного структурного состояния, принятого при моделировании. Первая группа моделей связана с рассмотрением структуры аморфных сплавов с "микрокристалл и-ческим" ближним порядком, характерным для кристаллических решеток. Вторая группа — "кластерные" модели, рассматривающие упорядоченные или неупорядоченные микрокластеры атомов как основную структурную единицу. В качестве одной из возможных единиц рассматривается, например, так называемый аморфон, характеризующий наличие осей симметрии 5-го порядка (рис. 164). Третья группа объединяет модели, основанные на совокупности случайных плотных упаковок жестких и мягких сфер. Они различаются правилами упаковки и другими особенностями. Отмечена схожесть моделей так, первая и вторая группы моделей принимают за основу наличие определенных структурных единиц, различающихся, однако, топологией. Общим для всех трех типов моделей является присутствие в аморфной структуре тетраэдрической пары и осей 5-го порядка. [c.286]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...