Интенсивности и геометрия дифракции

Пример аналогии между дифракцией рентгеновских лучей на кристаллах и первой стадией формирования оптического изображения решетчатого объекта показан на рис. 5.7. На рис. 5.7, а изображена часть оптической маски, представляющей собой двухмерную проекцию кристаллической структуры фталоцианина на рис. 5.7,6 показана оптическая дифракционная картина, создаваемая ею [10]. Рис. 5.7,6 согласуется с данными рентгеновских исследований не только в отношении геометрии расположения пятен но и по соответствию экспериментально наблюдаемой рентгеновской интенсивности картине на рисунке. Исторически этот метод вначале применялся для определения неизвестной кристаллической структуры путем изготовления пробных масок на основе химических и других соображений. Он был существенно упрощен при дальнейшем развитии техники (см. конец раздела 2), когда было показано, что основная ячейка и только три периода вполне достаточны в качестве маски, поскольку они определяют структуру, на которой основана двухмерная проекция кристалла. Это иллюстрируется рис. 5.6, где в случае в в качестве маски было использовано большое число повторов (намного больше, чем показано на рисунке) основной ячейки, тогда как в случае д было использовано только четыре ячейки, определяющих структуру кристаллической решетки. Сравнение оптических преобразований показывает, что д вполне достаточно в сравнении сев данной выборке преобразования одной ячейки б на узлах взаимной решетки (преобразование) от основной решетки а. [c.99]

Наиболее полное изложение теории дифракционных методов анализа дано в книгах Гинье[4], Г. С. Жданова [5], Джеймса [6], А. И. Китайгородского [7]. Отдельным вопросом теории посвящены книги Д. М. Васильева [8] (общее описание методов, геометрия дифракции), В. И. Ивероновой и Г. П. Ревке-вич [9] (теория рассеяния, интенсивность дифракции), Я. С. Уманского [10] (теория рассеяния, диффузное рассеяние). [c.95]

Для наблюдения таких квазиосевых изображений необходимо выбрать направление, составляющее с осью освещающего пучка небольшой угол, поскольку в осевом направлении наблюдению мешают интенсивная засветка от восстанавливающего источника, а также структура фотографического негатива. При зтом в поле рассеянного света нет возможности выделить какое-то ярко выра)1юнное преимущественное направление наблюдения или пару сопряженных волн - изображение наблюдается п[ж произвольном положении глаза наблюдателя относительно оси в пределах некоторого максимального угла дифракции, определяемого геометрией регистрации (апертурой линзы и расстоянием от нее до фотопластинки). [c.73]

Именно такая геометрия эксперимента была исследована в [9.113] на примере двухосного двупреломляющего ФРК KNbOj. При записи элементарной синусоидальной решетки на различных линиях аргонового лазера (457.9 нм < < 514.5 нм) при фиксированном угле сходимости пучков авторам удалось осуществить сканирование фиксированного считывающего пучка гелий-неонового лазера в пределах угла А0 5.67°. В случае использованной интенсивности записывающего лазера /о 0.5 Вт-см характерное время переключения решетки составляло Xg 0.6 с. Отметим также, что селективные свойства данной геометрии анизотропной дифракции были экспериментально исследованы ранее на примере ФРК LiNbOa.. в [9.114]. [c.246]

Рассмотрим какой-нибудь диффузный объект G, например матовое стекло, освещаемое удаленным лазерным точечным источником (рис, 27). Если сдвинуть стекло G вместе с диафрагмой Т в поперечном направлении, то спекл-структура, создаваемая им в какой-либо плоскости Е2, сдвинется вслед за объектом. Но смещения спекл-структуры не будет, если геометрия системы такая, как показано на рис. 28. Здесь матовое стекло О освещается пучком, который в отсутствие матового стекла сходился бы на экране в плоскости наблюдения Е.2. Оказывается, что при таких условиях смещение матового стекла в его плоскости (диафрагма Т жестко связана со стеклом G) никак не сказывается на спеклах, наблюдаемых в плоскости Е2. Спёкл-структура остается неподвижной. С этим мы встречались в случае дифракции на бесконечности при смещении диафрагмы в ее плоскости распределение интенсивности в дифракционной картине, создаваемой диафрагмой, не изменяется. Аналогично обстоит дело и с диффузно отражающим объектом при наблюдении спеклов в той плоскости, в которой формировалось бы изображение [c.33]

Здесь N — число элементарных ячеек данного кристаллика. Естественно, что зависимость от г пропадает, поскольку ведется интегрирование по телесному углу. Поляризационный множитель Томсона (1 -И соз 26)/2 вместе с другими, зависящими от 0,— в данном случае (8т 26)" —называют угловым фактором. В тех случаях, когда при дифракции от агрегатов цепных молекул из меряют интегральную интенсивность, также нужно использовать угловые факторы. Вид их, как.и при дифракции от кристаллов, зависит от метода съемки и геометрии расположения образца. Характерным видом упорядоченности цепных молекул в агрегатах является их параллельное друг другу расположение. Во многйх случаях они (или образуемая ими совокупность кристалликов) дают так называемые текстуррентгенограммы. При любых поворотах кристалликов вокруг общего направления — оси текстуры, но при сохранении неизменности самой этой оси осуществляются такие же условия, как в методе вращения кристаллов вместо поворота (во времени) одного кристалла имеется непрерывный (в пространстве) набор ориентаций различных кристалликов. Наиример, для рефлексов на нулевой слоевой линии (в случав перпендикулярности первичного пучка оси текстуры) угловой фактор имеет вид [c.19]

Геометрию картины с линиями можно понять из рассмотрения дифракции лучей, исходящих из точечного источника в кристалле, как показано на фиг. 14.1. При излучении из точки Р некоторое направление лучей составит брэгговский угол 6 с определенным набором плоскостей, в результате, помимо прошедшего луча возникнет дифрагированный луч 0 . Совокупность всех направлений Т -,, в которых интенсивность уменьшается за счет дифракционного процесса, будет представлять собой конус, половина угла раствора которого равна я/2—0 и ось которого перпендикулярна дифракционным плоскостям. Совокупность всех дифра- [c.313]

В дифракции электронов положение другое. Здесь динамические дифракционные эффекты всегда сильные, и ими пренебрегать нельзя. Поскольку электронограммы, ввиду сравнительной легкости таких наблюдений все более широко используют при изучении разупорядоченных сплавов и образования сверхструктур, важно иметь хотя бы некоторые приблизительные указания на то, в какой степени динамические эффекты могут менять геометрию и относительные интенсивности кинематического диффузного рассеяния. Такие данные получили Фишер [135, 136] и Каули и Меррей [90]. [c.384]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...