Анализ рентгеноструктурный 493 Аппаратура

Анализ рентгеноструктурный 493 — Аппаратура 493—495 [c.550]

Создание перспективных средств тепловой микроскопии должно осуществляться на основе анализа тенденций развития отечественной и зарубежной аппаратуры. При этом необходим учет достижений в области создания и развития машин для испытания механических свойств, аппаратуры для рентгеноструктурного анализа,- просвечивающей и растровой электронной микроскопии и т. д. [c.292]

Аппаратура для рентгеноструктурного анализа. Дифрактометры общего назначения [c.493]

Современную аппаратуру для рентгеноструктурного анализа применяют в основном для съемки образцов с плоской поверхностью диаметром 5—20 мм н более, а также тонких цилиндрических образцов диаметром 0,5—1,5 мм. Оба типа образцов могут быть изготовлены как из сплошного материала, так и из порошка. [c.5]

В частности, стандартизованы термины и определения, которые применяют для таких объектов НК, как аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализа узлы и устройства гамма-аппаратов средства рентгенорадиометрического анализа приборы для определения физико-химических свойств и состава веществ приборы рентгеновские техническая диагностика контроль акустический, радиационный, вихретоковый, магнитный, оптический, капиллярный, радиоволновой, тепловой, электрический, течеискание в областях измерений толщины покрытий и шероховатости поверх- [c.18]

ГОСТ 16865-79. Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализа. Термины и определения. [c.20]

Другой модификацией рентгеновской микроскопии является схема с применением зонных пластинок Френеля и предварительной монохроматизацией с помощью голографической дифракционной решетки, позволяющая получить непосредственно увеличенное изображение объекта. Осуществленным уже вариантом рентгеновской микроскопии является также сканирующая микроскопия с пр именением СИ. При этом сканирование рентгеновского изображения можно соединить е аппаратурой для рентгеноструктурного анализа и благодаря этому получить всестороннюю информацию о локальной структуре объекта. Во всех этих методах образец не находится в вакууме, и радиационная нагрузка на него на четыре порядка меньше, чем в электронном микроскопе, что является решающим преимуществом при работе с биологическими объектами. [c.269]

В статье описаны аппаратура и методика образования диффузионных хромовых покрытий на графите. Установлены общие закономерности образования покрытий в зависимости от температуры и продолжительности процесса их образования. Рентгеноструктурным анализом найдены структуры полученных осадков. Библ. — 4 назв., рис. — 4. [c.341]

Справочник построен с учетом последовательности операций при рентгеноструктурном анализе. Первая и вторая главы имеют методический характер и содержат сведения о методике и аппаратуре рентгеновского контроля, методах фазового анализа и измерения концентрации твердых pa твopo . Кроме общего описания методик приведены рекомендации по применению рентгеноструктурного анализа при исследовании и контроле материалов после термической и химико-термической обработок. [c.3]

Эффективным методом диагностики параметров ударно-сжатого вещества является импульсный рентгеноструктурный анализ. В качестве источника рентгеновского излучения используются вакуумные диоды со взрывоэмиссионным катодом, являющиеся нагрузкой мощного емкостного генератора импульсных напряжений или формирующей линии. Разрешающая способность аппаратуры позволяет регистрировать рентгеновские дифрак-тограммы с экспозицией около 50 не и угловым разрешением 0,5 — Г. Применение преград, прозрачных для рентгеновского излучения, позволяет фиксировать давление во время экспозиции. Пример реализации метода ударного сжатия описан в [9]. [c.433]

Рентгеноструктурный анализ. Этот способ применяют для изучения строения кристаллической решетки. Начало ему было положено в 1912 г., когда Макс фон Лауэ, Вальтер Фридрих и Пауль Киппинг впервые направили узкий рентгеновский луч на кристалл сернокислой меди, за которым поставили фотографическую пластинку. Помимо центрального черного пятна от пучка, прошедшего через кристалл, на пластинке отчетливо было видно множество расположенных в строгом порядке черных точек. Эти точки давали лучи, которые при прохождении через кристалл отклонялись от центрального пучка под разными углами. Удачный эксперимент позволил установить сразу два фундаментальных факта во-первых, рентгеновское излучение по природе представляет собой электромагнитные волны, во-вторых, кристалл — это трехмерная периодическая решетка, расстояние между узлами которой близко к длине волны рентгеновского излучения. Этим способом, но при более совершенной аппаратуре, ученые пользуются и в настоящее время. [c.46]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...