Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Изображения на экране при контроле пластины

ИЗОБРАЖЕНИЯ НА ЭКРАНЕ ПРИ КОНТРОЛЕ ПЛАСТИНЫ  [c.352]

Рнс. 16.21. Изображение на экране при контроле пластины с маленьким дефектом  [c.353]

Рис. 16.10. Схематическое изображение на экране при контроле образца (пластины или круглого или квадратного стержня) при отношении с1 а= Ъ с многократными эхо-импульсами от задней стенки или серией побочных отражений (сталь) Рис. 16.10. <a href="/info/286611">Схематическое изображение</a> на экране при контроле образца (пластины или круглого или квадратного стержня) при отношении с1 а= Ъ с многократными эхо-импульсами от задней стенки или <a href="/info/33137">серией побочных</a> отражений (сталь)

Рис. 16.22. Схематическое изображение иа экране при контроле дефекта в пластине с многократным отражениями от него Рис. 16.22. <a href="/info/286611">Схематическое изображение</a> иа экране при <a href="/info/32246">контроле дефекта</a> в пластине с <a href="/info/191846">многократным отражениями</a> от него
Рнс. 16.24. Изображение на экране при контроле бездефектной пластины из стали (о) и из алюминия (б) при большом усилении  [c.356]

На первый взгляд изображение на экране при контроле пластины (рис. 10.4) не имеет ничего бросающегося в глаза. В случае бездефектной пла1 тины многократные эхо-импульсы следуют один за другим на расстояниях, равных толщине пластины, без промежуточных отражений, если усиление пе слишком велико.  [c.352]

Изображение на экране при контроле пластины будет иметь несколько иной вид, чем показано на рис. 16.21, если дефект представляет собой не небольшое ограниченное расслоение, полностью отражающее звук, а слой с некоторой конечной проницаемостью, не полностью отражающий звук. Примерами таких дефектов могут быть скопления тонкораспределенных включений в плоскости листа, которые являются частично проницаемыми как занавес, неполностью сварившиеся расслоения, особенно часто встречающиеся у легких сплавов, а также паяные соединения и плакирование (покрытия), когда даже и при отсутствии дефектов граничащие среды вследствие различных звуковых сопротивлений имеют некоторую отражательную способность. Следовательно, наличие эхо-импульса не обязательно должно быть следствием дефекта предлагается называть это явление эхо-импульсом от слоя.  [c.354]

Каибольщее распространение получил радиационный вид контроля, осуществляемый с помощью передачи энергии рентгеновскими и гамма-излучениями, которые, проходя через контролируемый объект, изменяют интенсивность излучения в местах наличия дефектов. Это изменение регистрируется рентгеновской пленкой или электрорадиографической пластиной — радиографический метод. Реже используется радиоскопический метод, при котором радиационное изображение преобразовывается и передается для визуального анализа на выходпой экран, а также радиометрический метод, когда радиационная информация преобразовывается в электрические сигналы, регистрируемые по показаниям приборов. Радиационные методы позволяют выявить внутренние и поверхностные несплошности в стыковых п вах любых материалов. Дефекты угловых швов обнаруживаются плохо.  [c.23]


Радиографический метод неразрушающего контроля основан на преобразовании радиационного изображения контролируемого объекта в радиографический снимок или записи этого изображения на запоминающем устройстве с последующим преобразованием в световое изображение. Для получения радиографических снимков используют кассеты со специальной радиографической (рентгеновской) пленкой, снабженные для повышения чувствительности усиливающими экранами. В качестве детекторов радиационного изображения используются также полупроводниковые пластины, с которых изображение методом ксерорадиографии переносится на обычную бумагу.  [c.93]

ЗатехМ свет преломляется под 45 в призме 9. Изображение шкал проектируется на пластину 10 с архимедовой спиралью и пластину 7/ с делениями 0,1 мм и наблюдается в окуляр 12. Линейное поле зрения спиральных микроскопов составляет 2,3 мм. Общее увеличение спиральных микроскопов 60 (окуляр 10 объектив 6 ). При работе с проекционным приспособлением (фиг. 121,а) поступают так же, как при работе на инструментальном микроскопе большой модели. Предварительно центрирование осветителя производят по приспособлению 1, установленному на плоском столе 2. Линейное увеличение изображения изделия на экране в зависимости от кратности увеличения сменного объектива соответствует приведенным выше величинам. На фиг. 121,6 показан микроскоп с люнетами пря измерении ходового винта, а на фиг. 121,в — с центровой оптической бабкой при контроле кулачкового вала.  [c.245]

Рис. 16.20. Изображение на экране длинной серии многократных отражений в бездефектной пластине прн контроле ка-честоа акустического контакта Рис. 16.20. Изображение на экране длинной серии <a href="/info/191846">многократных отражений</a> в бездефектной пластине прн контроле ка-честоа акустического контакта

Смотреть страницы где упоминается термин Изображения на экране при контроле пластины : [c.355]    [c.346]    [c.624]   
Смотреть главы в:

Ультразвуковой контроль материалов  -> Изображения на экране при контроле пластины



ПОИСК



Экран



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте