Оптимальное увеличение оптических систем

Относительно направлений движений и расположения осей вращения звеньев в пространстве предлагаемый метод не накладывает никаких ограничений, так как оптическая система позволяет перенести изображение штрихов в любое место и повернуть на любой угол. Оптимальные значения угла Y находятся в пределах 5° [c.423]

Повышение требований ко многим типам ОЭП, усложняющиеся условия эксплуатации, совершенствование средств противодействия вызывают необходимость постоянного улучшения методов и средств борьбы с помехами. Одним из наиболее эффективных методов является совершенствование конструктивных параметров прибора, способствующее увеличению динамического диапазона его чувствительности, особенно эффективное по отношению к маскирующим помехам, ослабляющим полезный сигнал. Так, повышение разрешающей способности оптической системы, т. е. угловой чувствительности, повышает эффективность пространственной (угловой) селекции увеличение спектральной разрешающей способности ОЭП увеличивает эффективность оптической спектральной селекции выбор оптимального частотного диапазона электронного канала ОЭП уменьшает влияние модулированных помех. [c.7]

Анализ точности квадратурных методов содержится в [Л. 117]. Естественно, что чем больше выбрано фиксированных точек Mi(i=l,2,... п), тем точнее окончательный результат. Однако, как и в случае зонального метода, увеличение числа точек ведет к прогрессивному усложнению системы (8-81), что соответственно затрудняет ее решение. Преимуществом квадратурного метода по сравнению с зональным является отсутствие в нем коэффициентов облученности и коэффициентов распределения тепловых и оптических характеристик по зонам, для определения которых приходится затрачивать много времени и усилий. Наиболее трудным местом квадратурного метода является оптимальный выбор матрицы коэффициентов Сц для произвольных трехмерных излучающих систем. Коэффициенты Сц зависят от вида выбранной квадратурной формулы, оптико-геомет-рических особенностей исследуемой излучающей системы и расположения рассматриваемой Mi и текущей Mj точек. Достаточно простой матрица коэффициентов Сц оказывается для одномерных задач. В этом случае могут быть использованы классические квадратуры прямоугольников, трапеций, парабол, квадратура Гаусса и пр. [c.253]

Все предыдущее приводит нас к выводу, что для каждой оптической системы существует оптимальное увеличение действительно, при СЛИ1Ш М0М малых увеличениях наш глаз не в состоядаи разли чить чересчур малые подробности объекта при слишком больших увеличениях мы в идим лишь размазанную картину, усложненную добавочными диффракционными фигурами, не имеющими никакого отношения к рассматриваемому объекту. [c.63]

Минимальный диаметр электронного луча для типичных параметров оптической системы составляет 0.001—0,011 мкм. Однако реализовать линии такой ширины в резисте чрезвычайно трудно из-за обратного отражения электронов от поверхности подложки и увеличения диаметра сечения участка резиста под электронным лучом. Уменьшение толщины пленки электронорезиста снижает эффект обратного отражения. Оптимальными, размерами являются толщины резистов около 0,3—0,5 мкм. В этом случае при диаметре электронного луча [c.84]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...