Измерение длительности сверхкоротких импульсов

Существенно, что метода косвенных измерений длительности сверхкоротких импульсов (и в частности, двухфотонная методика) не могут, вообще говоря, различать полную и неполную синхронизацию мод ). Именно в этом и заключается ограниченность указанных методов при их применении в исследованиях по синхронизации мод. Достаточно сопоставить результаты вычисления функции Ч " (At) по формуле (3.10.6) для случаев, показанных на рис. 3.58, а и рис. 3.58, в. Эти результаты представлены на рис. 3.59 (кривые 1 и2 соответственно) [111. Видно, что различие треков люминесценции, показанных на рис. 3.59, состоит лишь в том, что во втором случае (в случае неполной синхронизации) появляются дополнительные слабые максимумы, которые трудно отличить от шумов регистрирующей аппаратуры. [c.393]

ЗЛО. Измерение длительности сверхкоротких световых импульсов [c.387]

Метод, использующий генерацию второй гармоники. Сущность этого косвенного метода измерения длительности сверхкоротких световых импульсов поясняет рис. 3.55. Здесь 1 — лазер, 2 — светоделительная пластинка, превращающая исходный лазерный импульс в два импульса, 3 — неподвижное зеркало, 4 — подвижное зеркало, 5 — нелинейный кристалл, в котором происходит генерация второй гармоники, 6 — фильтр, пропускающий только вторую гармонику, 7 — фотодетектор. Благодаря зеркалам 3 и 4 оба световых импульса, получающиеся при расщеплении пластинкой 2 исходного импульса, попадают в нелинейный кристалл. С помощью подвижного зеркала 4 можно варьировать время задержки At одного импульса относительно другого. [c.388]

Измерения временных характеристик ВКР сверхкоротких импульсов [94-97] показывают, что они подобны приведенным на рис. 8.8. В эксперименте [95] импульсы от лазера на красителе длительностью [c.243]

Преобразование световых импульсов в обращенные во времени дает возможность реализовать операцию свертки в оптике. Измерение последней может быть использовано, например, для восстановления вида огибающей [33]. Растяжение импульсов без изменения его формы можно применить, очевидно, для преобразования сверхкоротких импульсов из одного диапазона длительностей в другой, в котором измерение формы огибающей не представляет трудностей. [c.44]

Связанное с рассмотренным эффектом искажение сверхкороткого импульса наблюдалось в [47] для импульса дальнего ИК диапазона с длительностью, близкой к периоду несущей частоты. Такой импульс возбуждался за счет черепковского излучения видимого сверхкороткого импульса в кристалле танталата лития. Краткое описание эксперимента по черепковской генерации импульса и методики измерения его длительности изложены в 3.5. Угол падения ницу раздела сред составлял 21 [c.51]

В [43] представлены расчеты группового запаздывания отраженных импульсов и их среднеквадратичной длительности как функции отношения со/со . На рис. 1.14 изображены зависимости / (со) = л(со) и ф"(ш) от частоты со для многослойного зеркала (ВН) В (В(Н) — слой с высоким (низким) показателем преломления). Авторы [44] обнаружили быстрый рост ф" с увеличением числа слоев и отношения показателей преломления п п . На рис. 1.15 представлена зависимость измеренной длительности импульса лазера на органическом красителе от общей дисперсии зеркал резонатора. Данные этого рисунка демонстрируют важность дисперсионных свойств зеркал при генерации сверхкоротких импульсов. Кроме того, видно, что значения [c.52]

Значительный прогресс достигнут в области генерации и измерения сверхкоротких световых импульсов (длительностью 10 — 248 [c.248]

Рис. 6.31. Схема коррелятора для измерения длительности сверхкоротких импульсов при неколлинеарной генерации второй гармоники / — делительная плас-I тинка, 2 — прерыватель-модулятор, 3 — сканируемая линия оптической задержки, 4 — кристалл удвоителя частоты, 5— диафрагма, 6 — ФЭУ

Основные направления в развитии методов исследования структуры импульсов. Развитие исследований по синхронизации лазерных мод теснейшим образом связано с разработкой методов измерения длительности сверхкоротких световых импульсов. Хорошо осюенные осциллографиче-ские методы в данном случае не годятся, так как их разрешение ограничено временами 0,1 не. Существуют две группы методов измерения длительностей импульсов порядка 10 —10 НС — прямые и косвенные методы. [c.387]

Полная и неполная синхронизация мод и проблема вре-меннйх измерений. Рассмотренные выше косвенные методы измерения длительности сверхкоротких световых импульсов имеют, однако, одно существенное ограничение, 13в [c.391]

В настоящее время корреляционные методики стали рутинным способом измерения длительности, а в некоторых случаях и формы сверхкоротких импульсов. При соблюдении специальных условий они пригодны и для измерения длительности предельно коротких импульсов 6—8 фс. Вместе с тем, информация, извлекаемая из корреляционных функций интенсивности, явно не достаточна для современных фемтосекундных систем. Сейчас речь идет о полных измерениях характеристик импульсов, которые включают временной ход огибающей и фазы, а также информацию о статистике в длинных кваз1шерио-дических цугах. Знание перечисленных характеристик позволяет реализовать все возможности физического эксперимента при изучении нестационарного отклика исследуемых объектов. [c.280]

Совр. состояние науки требует измерения отрезков времени от 10с до лет. Этот огромный диапазон не может быть реализован в единох методике и аппаратуре. Пока не существует методов для точного измерения сверхкоротких импульсов, генерируемых нек-рыми лазерами. Процессы, длительность к-рых превосходит доли НС, могут изучаться при помощи скоростных электроннолучевых осциллографов. Несколько более медленные процессы фиксируются при помощи хронографов. Измерение длительности геол. и астрофиз. процессов основано на изучении явлений, связанных с распадом и синтезом ат. ядер. Возраст горных пород определяется по измерению относительного содержания в [c.92]

Создание и применение импульсных Ф. сопряжено с необходимостью использования приёмников излучения с высоким разрешением во времени и широким динамич. диапазоном. Кроме того, в Ф. для сверхкоротких лазерных импульсов могут оказаться существенными длительность переходной или импульсной характеристики оптич. системы, возможные лучевые пробои оптич. элементов в местах фокусировки пучка, изменения коэф. пропускания сред и т. п. Для Ф. с абс. градуировкой характерны относительно большие систематич. погрешности измерений (обычно 10—20%) фотометрирование с погрешностью менее 5% возможно только в специализир. лабораториях. [c.352]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...