Многолучевая интерференция от двух поверхностей

При отражении света от поверхностей прозрачных пластин вследствие малого коэффициента отражения мы не принимали во внимание лучи, отраженные два или большее число раз. Однако в случаях, когда интенсивности многократно отраженных лучей близки друг к другу, учет их вклада в общую интенсивность является обязательным. Реализация упомянутого случая — случая многолучевой интерференции — определяется значениями коэффициентов отражения и пропускания. [c.100]

Для исследования поверхностей трения чрезвычайно большой интерес представляют исследования микрорельефа с помощью светового микроскопа. Интерферометрия — наиболее чувствительный и точный оптический метод анализа микротопографии поверхности. Известны два основных метода интерференции двух-и многолучевой [75]. В методе двухлучевой интерференции оба пучка света взаимно усиливаются или интерферируют между собой. В результате процессов усиления или интерференции лучей возникают контурные линии каждая линия соединяет точки, соответствующие одному уровню исследуемой поверхности. Раз- [c.60]

Существуют два общих метода получения интерферирующих пучков из одного светового пучка, и они лежат в основе классификации устройств, применяемых в интерферометрии. В одном из них пучок делится, проходя сквозь близко расположенные друг к другу отверстия. Такой метод — мет.од деления волнового фронта—пригоден только при достаточно малых источниках. В другом способе пучок делится па одной или нескольких частично отражающих, частично пропускающих поверхностях. Этот метод—.метод деления амплитуды—может применяться с протяженными источниками и обеспечивает большую интенсивность, чем первый метод. В любом случае удобно рассматривать отдельно явления, возникающие при суперпозиции двух пучков (двухлучевая интерференция), и явления, возникающие при суперпозиции большего их числа (многолучевая инпкрференция). [c.242]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...