Ширина и условие освещения входной

ШИРИНА И УСЛОВИЕ ОСВЕЩЕНИЯ ВХОДНОЙ ЩЕЛИ СПЕКТРАЛЬНЫХ ПРИБОРОВ [c.100]

От ширины и условий освещения входной П1,ели зависит распределение интенсивности по контуру спектральной линии. [c.105]

Вопрос о ширине входной щели спектрального прибора очень важен в спектроскопии. От ширины щели и условий ее освещения зависит как интенсивность спектральной линии, так и практическая разрешающая способность спектрального прибора. Ранее [c.100]

При подходящим образом выбранных параметрах прибора (условия освещения, ширина входной и выходной щелей) интенсивности линий измеряются расстояниями от той плавной кривой, которая изображает сплошной фон источника (рис. 571). Обычно ширина входной и выходной щелей подбираются таким образом, чтобы высота максимума записанной кривой определяла интегральную интенсивность линий комбинационного рассеяния. На рис. 571 [c.793]

Для того чтобы / р определить правильно, следует ширину входной щели выбрать равной нормальной . Так как нормальная ширина по (7.1.3) равна дифракционной, то в этом случае будем иметь наиболее выгодные условия для наблюдения двух разрешаемых прибором спектральных линий и достаточную освещенность в фокальной плоскости. Величина эм определяется числом N штрихов на 1 мм изображения абсолютной контрастной миры, разрешаемым фотоэмульсией эм=1/Л . Таким образом, зная линейную дисперсию, можно по (7.5.5) рассчитать [c.484]

Контур спектральной линии зависит, конечно, не только от условия освещения и ширины входной щели. Аппаратурные искажения спектральных приборов имеют и нещелевой характер. Так, например, кривизна спектральных лини11 может вызывать в монохроматорах как асимметрию наблюдаемого контура, так даже и смещение его максимудга. Увеличение высоты щели и ее наклон относительно преломляющего ребра призм или штрихов дифракционной решетки приводят к некоторому увеличению нолу- [c.106]

Прн рассдютренпи вопроса о практической разрешающей способности прибора и завпсидшсти иптенсивпости спектра от ширины входной щелп неявно предполагалось, что освещение входной щели выбрано оптимальным и что апертура прибора использована полностью. В действительности не всегда удается работать в оптимальных условиях во всех отношениях. В частности, очень трудно согласовать требование равнодшрной освещенности входной щелп от точечного источника и хорошую разрешающую способность прибора. Так же трудно получить хорошую разрешающую [c.112]

Условия освещения и выбора ширины входной щели спектрометров расс.дютрепы в гл. 8, 1. [c.112]

Ленинградско1М институте точной механики и оптики. Входной растр представлял собой пластинку размером 16X16 мм. Вся-поверхность была разбита на 34 строки, каждая из которых состояла из 535 элементов. Вероятность того, что данный элемент прозрачен, была принята равной 1/2, таким образом, эффективная площадь отверстий составляла 8X16 мм. Четные строки растра представляли собой негативное изображение-предыдущей строки. Распределение прозрачных участков в нечетных строках было статистически независимым как по отношению к соседним элементам, так и по отношению к другим, строкам. Выходной растр получался путем фотографирования действительного изображения входного растра на выходе спектрометра при освещении линией HgI 546 нм. Модуляция светового потока осуществлялась путем периодического смещения выходного растра в направлении, перпендикулярном дисперсии прибора, на расстояние, равное ширине одной строки. В-этом случае изображение растра, при условии точной настройки прибора на выбранную длину волны, совмещается со своим негативом, и световой поток полностью перекрывается. Спектрометр имел дифракционную решетку 600 штр/мм и раоотая в. области от 0,54 до 2,5 мкм (два диапазона 0,54- 1,25 мкм и 1,09ч-2,5 мкм). Получена реальная разрешающая сила б-Ю (ширина аппаратной функции 0,011 нм для v=546 нм). Конструкция прибора обеспечивала постоянство разрешающей силы-при сканировании спектра. По сравнению с обычным щелевым спектрометром, построенным по той же схеме, выигрыш в светосиле составил приблизительно 270. раз. [c.57]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...