Кривые спектральные отражения кристаллов

В параллельной установке отклонение углов падения на второй кристалл от угла Брэгга (8.1) одинаково для всего спектра излучения, отраженного первым кристаллом, и, следовательно, отсутствует спектральное уширение кривой качания. Угловое распределение каждого спектрального компонента пучка, отраженного коллиматором, повторяет форму его дифракционного профиля, и кривая качания представляет корреляционную функцию дифракционных профилей обоих кристаллов, что следует учитывать при сравнении экспериментальных и расчетных данных. Если оба кристалла идентичны и имеют гауссовскую форму дифракционного профиля, то полуширина записанной кривой качания аа = 1,4и), а коэффициент отражения в максимуме — 0,7- т если же форма их дифракционного профиля подчиняется распределению арктангенса, то и [c.311]

В ряде публикаций [4, 17, 20, 23, 25—30, 35, 36, 38, 49] сравниваются относительные отражательные способности, реже — уровни фона и разрешающие способности (ширины кривых качания) кристаллов, испытанных в качестве диспергирующих элементов для определенного спектрального интервала. Обычно хотя бы для одного из сопоставляемых кристаллов среди работ, содержащих абсолютные результаты измерений, удается подобрать тот же кристалл, измеренный на такой же или близкой длине волны. Используя такой кристалл как реперный, можно оценить абсолютные отражения всей группы. К сожалению, во многих работах [25—28, 35, 36, 38] даже условия измерений оговариваются не полностью, что снижает надежность оценок. [c.313]

На рис. 503 приведен ход спектральных кривых отражения для ряда кристаллов. Некоторые из них характеризуются коэффициентами отражения не менее 90%, что позволяет получить монохроматор большой сравнительно светосилы. [c.668]

Рис. 3. Кривые спектрального поглощения растворов, стекол и кристаллов, окрашенных трохвалентным хромом а - фиолетовый раствор б — зеле ные стеила о — фиолетовый кристалл квасцов а красные кристаллы шпинелей д — фиолетовые кристаллы клинохлора е — зеленые криста. 1лы слюды (фуксит) (измерение в отраженном свете) э — синие кристаллы кианита (измерение в неполяризованиом свете)

В далёких УФ- и ИК-областях, в к-рых диэлектрики характеризуются сильным поглощением (х > 1), козф. О. с. достигает значений Л > 0,9. В этих спектральных областях происходит резкое изменение дисперсии показателя преломления напр., для ионных кристаллов значения п изменяются от 0,1 до 10. Вследствие аномальной дисперсии (к-рая всегда есть в области сильного изменения х) появляются две характерные точки пересечения кривых дисперсий граничащих сред, для к-рых ЯJ — я,, а показатель поглощения для одной из этих точек X < 0,1, а для другой х > 1. В результате и в спектре отражения наблюдается минимум в области малого поглощения (х < 0,1) напр., для кварцевого стекла вблизи оси. полосы поглощения А, = 9 мкм величина Д — 0,00006 для х > 1 Л — 0,75. На рис. 1 (вверху) изображены дисперсионные кривые я(Х) для двух первых оптически прозрачных сред — воздуха ( (В = 1) и алмаза (nJg ) и для второй среды в окрестности её полосы поглощения к). Для воздуха и второй среды при равенстве Ящ— г (точки 1 в. 2) наблюдается минимум в спектре отражения (рис. 1, внизу), когда Хг < 0,1 на длине волны 1. Для алмаза и второй среды при равенстве Пу, (точки 3 в 4) минимум в [c.510]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...