Аппаратная функция угловая

В прецизионной С. твёрдых материалов и покрытий для правильной интерпретации результатов измерений в некогерентном излучении вводится представление о многомерной аппаратной функции измерений (АФИ) А(й, ф, х). Ширина АФИ по координатам К, ф, х соответствует спектральному (бЛ), угловому (бф) и пространственному (бх) интервалам, выделяемым в дан-пой схеме измерений. Каждое измеренное значение X и его погрешность АХ рассматриваются как результат операции свёртки многомерных ф-ций Х ), ф, х) А( ь, ф, х) в данных конкретных условиях, описываемых комбинацией параметров к, ф, х, бЛ, бф, бх (при известных поляризации и темп-ре) с соответствующими допусками по каждому из параметров. Функциональные зависимости X от параметров Я, ф, х измеряются так один из параметров сканируется, а [c.626]

Согласно критерию Рэлея, наименьший разрешимый интервал 6Я. равен расстоянию между главным максимумом и ближайшим к нему минимумом аппаратной функции (6.46). Две монохроматические линии одинаковой интенсивности на таком расстоянии друг от друга (в угловой мере оно равно 6ф=Я./а) дают суммарный контур с двумя максимумами (рис. б.ЗЗЬ провал между которыми, как легко подсчитать, составляет около 20% от интенсивности в максимумах. Благодаря провалу такой контур воспринимается как двойная спектральная линия. Если считать критерием разрешения именно наличие провала, то можно обобщить взз критерий Рэлея на случаи, когда ап- Критерий Рэлея [c.321]

Систему с разреженной апертурой образует совокупность малых зеркал, не прилегающих друг к другу. Простейший пример такой системы — звездный интерферометр Майкельсона (см. 5.5). Наименьшее угловое расстояние, доступное измерению, определяется не диаметром О объектива (или зеркала) телескопа, на котором он смонтирован, а максимальным расстоянием между внешними подвижными зеркалами М и Ма (см. рис. 5.22), которое может значительно превосходить О. Предельное разрешение разреженной апертуры близко к разрешению такой же по размерам сплошной апертуры. К недостаткам систем с разреженной апертурой следует отнести потери энергии и значительное усложнение формы изображения точечного источника (аппаратной функции), связанное с тем, что по мере разбавления апертуры возрастает относительная интенсивность боковых максимумов дифракционной картины. В частности, в предельном случае разрежения апертуры, т. е. в звездном интерферометре, боковые максимумы сравниваются по интенсивности с центральным, образуя систему одинаковых интерференционных полос. Поэтому он пригоден лишь для измерения комплексной степени когерентности излучения и угловых размеров источника, а не для регистрации оптического изображения. [c.368]

На контур спектральной линии влияют также величина апертуры и аберрации объектива коллиматора, угловое увеличение призмы, наклон щели относительно преломляющего ребра призмы или штрихов дифракционной решетки, высота щели, величина апертуры и аберрации осветительной системы и другие факторы. Влияние прибора на контур спектральной линии принято характеризовать его аппаратной функцией А (х), которая выражает распределение лучистого потока в фокальной плоскости объектива камеры или выходного коллиматора при освещении щели монохроматическим излучением определенной длины волны X (частоты v). Если истинное распределение интенсивности по контуру спектральной линии равно (р (х), то наблюдаемое распределение составляет [c.382]

Так, например, если аппаратная функция чисто щелевая, то а = 2= % (/о А) Г и увеличение линейной дисперсии = /з dq/d k за счет увеличения ие приводит к росту так как и dl dX и 8.2 пропорциопальны В то же время увеличение dl/dX за счет увеличенпя угловой дпсперсии dц/dk ведет к росту, у/, так как 2 не зависит от с/ф/с/л. Если же аппаратная функция определяется в основном фотоэмульсией, то а не зависит от параметров спектрального прибора п увеличение dl/dX как за счет увеличения /2, так п за счет d(f/dX приводит в некоторых пределах к росту практической разрешающей способности. Ио, естественно, она во всех случаях не лгожет быть сделана больше теоретической разрешающей способности данного спектрального прибора. [c.49]

Потребуем, чтобы (6(f)/- было меньнге угловой ширины аппаратной функции oq = /. (TI eos q) (с.м. (3.29)). Тогда пз неравенства (i- ff)j < 6[c.306]

Так как смещение ха< Н, то Р хо) с изменением Хо практически постоянна и ее можно принять равной 1/2, т. е. слагаемое Р(хо) создает постоянный некогерентный фон. Функция Q(л o) = = з1п 2лхо/е)1 4пхо1е) является аппаратным контуром спектрометра. Функция Q(xo) определяет область когерентности с угловой шириной Я/е, т. е. область когерентности, соответствующую нормальной ширине щели, равной наименьшему периоду растра е. Следовательно, разрешающая способность рассматриваемой спектральной системы равна разрешающей способности дисперсионного спектрометра при йн = е. Таким образом,, растр с законом пропускания (7.4.1) позволяет создать расширенную область когерентности при наличии некогерентного фона. Периодическое смещение анализирующего растра по существу является выделением расширенной области когерентности из некогерентного фона, так как некогерентный фон, определяемый функцией Р хо), не меняется, а когерентная составляющая Q xQ) модулируется. Таким образом, использование растров позволяет существенно расширить область поперечной пространственной когерентности. Это, в свою очередь, приводит к значительному увеличению светосилы спектральной системы. [c.473]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...