Структурная функция электронной плотности

Другой класс методов, приобретаюш,ий все более важное значение, включает в себя так называемые прямые методы, при использовании которых получают алгебраические равенства или неравенства между структурными амплитудами на основе известных свойств функции электронной плотности, учитывая, например, что р(г) — действительная положительная функция и что данная функция состоит из пиков приблизительно известных формы и размера. Важная отличительная черта этих методов — то, что численные данные обрабатываются лишь с помош,ью электронных вычислительных машин. Совместно с процедурами уточнения методом наименьших квадратов пря ые методы дают возможность проводить почти автоматический, полностью поставленный на электронные вычислительные машины структурный анализ [184]. [c.143]

Построение рядов в зависимости от набора наблюдаемых значений hkl, от симметрии дифракционной картины и т. п. может производиться в самых разнообразных вариантах — нахождения проекций, обобщенных проекций, сечений, использования разностных рядов, обостренных рядов и т. д. Для агрегатов цепных молекул часто используются цилиндрические координаты, приме- HeHHe которых открывает специфические возможности, не используемые в обычном структурном анализе кристаллов, например построение цилиндрической функции Паттерсона (IV, 28, 29), радиальных, циркулярных и других проекций электронной плотности ( 4 главы III) и т. п. [c.250]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...