Сканирование двойное

Можно нанести на изделие выравнивающее е покрытие. Эффективен метод двойного сканирования, т. е. последовательное измерение мощности излучения нагреваемого ОК двумя радиометрами, расположенными на расстоянии друг от друга. При этом отношение их сигналов не зависит от е ОК. - [c.120]

В ИПФ сканирование возможно путем изменения одного или нескольких параметров, от которых зависит величина разности фаз, вносимой различными ступенями. Очевидно, этими параметрами будут толщины кристаллических пластин и показатели двойного лучепреломления. [c.469]

Сканирование спектра в двойном монохроматоре со сложением дисперсий должно осуществляться одновременным вращением 390 [c.390]

Двойной монохроматор со сложением дисперсий при большей теоретической разрешающей способности обеспечивает устранение рассеянного света, а при достаточно высоком пропускании может оказаться и более светосильным, чем простой монохроматор. Для реализации этих преимуществ необходимы более жесткие требования к исправлению аберраций и особенно к механизму сканирования спектра. [c.391]

Вообще говоря, оцененная с помощью соотношения (6.13) спектральная ширина синхронизма, отвечающая кристаллу длиной в 1 см, весьма невелика, и поскольку эта полоса может перестраиваться по спектру, то получающийся в итоге инфракрасный детектор может рассматриваться как узкополосный перестраиваемый индикатор. Был выполнен эксперимент, использующий высказанные соображения, где в качестве нелинейного кристалла, осуществляющего сканирование по инфракрасному спектру от 1,6 до 2,4 мкм, брался ниобат лития [112]. Результат этого эксперимента (фиг. 6.4) представлен в виде двух спектрограмм выхода ртутной лампы высокого давления — нижняя получена при помощи обычного двойного моно- [c.164]

Имеются два типа приборов с частотным разделением и без него. Приборы первого типа имеют устройство для выбора длин волн — призму или дифракционную решетку для частотного разложения излучения. Приборы этого типа аналогичны спектрофотометрам ультрафиолетового и видимого спектра с двойным лучом, как на Рис. 11.86. В приборах без разложения частот для выделения узкой полосы длин волн обычно используются фильтры, что необходимо для исследования узкой конкретной области волн без сканирования всего спектра поглоше-ния. На Рис. 11.9 показана блок-схема устройства таких приборов. Излучение от источника расщепляется на две части, одна проходит через исследуемый образец, другая — через сравнительный эталонный образец. Два луча затем комбинируются при помощи прерывателя так, что на выходе происходит чередование сигналов от образца и эталона. После этого сигнал пропускается через фильтр, чтобы выделить диапазон длин волн, который будет фиксироваться детектором, информация с которого поступает на устройство отображения. Такие приборы используются для серийных исследований известных веществ. [c.178]

Таким образом, зная из анализа бесконечной АР изменение функции Г(фа , 1 3у) в области —Я 1]Зж Я, —я=< фу я, по выражениям (3.18) и (3.19) можно найти коэффициенты отражения от излучателей конечной решетки при произвольном ее возбуждении. Аналогичным образом находятся и комплексные амплитуды мод токов излучателей рассматриваемой конечной АР. С этой целью из анализа бесконечной АР, описываемой системой линейных алгебраических уравнений (3.3), необходимо определить функции / 1ф(г()ж, Иру), т=1, 2,. .., М, показывающие зависимость комплексных амплитуд мод тока излучателя бесконечной решетки от углов сканирования. Вследствие периодичности их так же, как и функцию Г(г )ж, гру) (3.17), можно разложить в двойной ряд Фурье [c.103]

С одной щелью, у к-рой верх, часть служит входной, а нижняя — выходной щелью, и пр. В тех случаях, когда особенно важно избежать попадания в выходную щель М. рассеянного света с длинами волн, далёкими от выделяемого участка спектра (напр., в спектрофотометрии), применяют т. н. двойные М., представляющие собой два М., расположенных так, что свет, выходящий из первого М., попадает во второй и выходная щель первого служит входной щелью второго (рис. 4). В зависимости от взаимного расположения диспергирующих элементов в каждом из этих М. различают двойные М. со сложением и с вычитанием дисперсий. Приборы со сложением дисперсий позволяют не только во много раз снизить уровень рассеянного света на выходе, но и увеличить разрешающую способность М., а при заданном разрешении — повысить выходящий световой поток (т. е. распгирить щели). Двойные М. с вычитанием дисперсий позволяют снизить уровень рассеянного света без увеличения разрешающей способности. В них на выходную щель приходит свет такого же спектрального состава, с каким он вышел из ср. щели. Такие М, менее светосильны, чем М. со сложением дисперсий, однако они позволяют проводить сканирование спектра перемещением ср. щели в пло- [c.211]

Смещение полосы пропускания ИПФ возможно посредством изменения температуры. Возможность такого способа сканирования объясняется зависимостью величины двойного лучепреломления и толщины кристаллических пластин от температуры. При этом способе сканирования область сдвига ограничена, поэтому удобно использовать изменение температуры для сканирования полосы в окрестности Атах- Нсдостатком этого способа является существенная его инерционность. [c.469]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...