Экстремум погрешностей схемы

Экстремум погрешностей схемы 138, 142 [c.300]

Причина разброса точек связана с флуктуациями мощности лазерного излучения. Эти флуктуации не влияют на положение интерференционных экстремумов и не приводят к появлению или потере полос в интерферограмме, т. е. практически не вносят погрешностей в определение температуры методом ЛИТ. Однако флуктуации мощности падающего излучения являются источником погрешностей для термометрии по сдвигу края поглощения. Для уменьшения случайных погрешностей необходимо применять лазер со стабилизацией мощности или создавать схему с опорным пучком для более точного измерения коэффициента пропускания. [c.175]

Для решения цоставленной задачи необходимо построить график функции погрешности схемы от перемещения S или, воспользуясь ЭВМ, вычислить экстремум функции (7.35). Выберем первый вариант. Такой график для наших числовых значений представлен на рис. 7.7. По нему найдем предельные погрешности схемы [c.146]

Методы построения схем, описанные в литературе и заключающиеся в составлении схем из конденсаторов, постоянно подключенных к входному сигналу и периодически подзаряжающихся от входной диодноконденсаторной (ДК) ячейки, не являются принципиальным решением задачи. Организация памяти экстремума на потенциометре следящей системы (СЛС) позволяет полностью исключить погрешность хранения. Дополнение такой СЛС входной ДК-ячейкой снимает ограничение по скорости записи информации. [c.91]

Использование ДК-ячейки совместно с СЛС БПЭ также имеет некоторые особенности. При обесточенном реле режима поиск (Яр) и включением Р у идет отработка начальных условий. При поиске максимума это величина, близкая к О, при поиске минимума — к максимальному входному сипналу. Утечка конденсатора С в сторону начальных условий не опасна, так как СЛС, в свою очередь, отрабатывает экстремум выходного сигнала катодного повторителя (КП). Чтобы предотвратить утечку j в сторону нуля при поиске минимума, ее полюс, противоположный полюсу, соединенному с сеткой КП, подключен к источнику начальных условий R, Rz, Рм). При такой схеме погрешности поиска max и min одинаковы. [c.95]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...