Дробовой шум в вакуумных лампах

Ф. э. в эл.-вакуумных и ионных приборах связаны гл. обр. со случайным характером электронной эмиссии с катода (дробовой шум). Интенсивность дробовых Ф. э. практически постоянна для /<10 Гц. Она зависит от присутствия остаточных ионов и величины пространств, заряда. Дополнит, источники Ф. э. в этих приборах—вторична.ч электронная эмиссия с анода и сеток электронных ламп, динодов фотоэлектронных умножителей и т. п., а также случайное перераспределение тока между электродами. Наблюдаются также медленные Ф. э., связанные с разл. процессами на катоде. В газоразрядных приборах низкого давления Ф, э. возникают из-за теплового движения электронов. [c.328]

Источником Ф. в вакуумных и газонаполненных приборах является также вторичная электронная эмиссия с апода и др. электродов (сеток электронных ламп, динодов фотоэлектронных умножителей и т. и.), а также перераспределение тока между электродами в многоэлектродных лампах, т. к. при этом увеличивается неопределенность в числе электронов, попадающих на анод в каждый заданный промежуток времени. Спектры таких Ф. аналогичны спектру дробового шума. [c.322]

Гл. 2 содержит ряд теоретических предпосылок, которые полезны для оценки основных источников шума приборов. В гл. 3 обсуждаются способы описания шума двух- и трехполюсных приборов с приложением результатов к вычислению коэффициента шума многокаскадных усилителей (в частности усилителей, включающих в себя приборы с отрицательной проводимостью). В гл. 4 показано, как можно точно выполнить шумовые измерения. Теоретический материал гл. 2 используется в гл. 5 и 6. В гл. 5 рассматриваются тепловой шум и шум генерации — рекомбинации применительно к мазерам и полевым транзисторам. Гл. 6 посвящена обсуждению дробового шума в диодах с р-п переходом, транзисторах и вакуумных лампах, а также фликкер- и взрывного шума в диодах, биполярных и полевых транзисторах. [c.6]

Генераторы случайных сигналов представляют собой класс Г, а. к., предназначенных для генерирования непрерывных шумов или последовательностей импульсов со случайными значениями амплитуд, длительностей импульсов, интервалов между ними. Независимо от диапазона частот, в к-ром генерируются случайные сигналы, работа таких Г. э. к. o noBaEia на одном из двух физ, принципов использовании естеств. источников тпумов и случайных импульсов либо возбуждении стохастич. автоколебаний в Г. э. к. В качестве источников широкополосных шумов применяются шумовые полупроводниковые и вакуумные диоды, обладающие высоким уровнем шума электронного потока, тиратроны, помещённы в поперечное магн. поле, дробовые шумы входных ламп, транзисторов или фотодиодов в видеоусилителях, фотоумножителях и др. первичными источниками случайных импульсных последователь- [c.434]

В вакуумном фотоэлементе (рис. 9.11) одна из наиболее очевидных причин возникновения флуктуаций фототока связана с тем, что элементарные акты испускания фотоэлектронов происходят в случайные моменты времени аналогично актам термоэлектронной эмиссии из накаленного катода в вакуумных электронных лампах. Обусловленный этой причиной шум получил образное название дробового. При постоянной иитеисивиости падающего излучения, когда можио считать, что за некоторый промежуток времени т иа катод падает вполне определенное число фотонов Л/ф, среднее число испускаемых электронов за время т составит N = r Nф, где ч — квантовый выход фотокатода. Однако от измерения к измерению число N фотоэлектронов только в среднем остается неизменным, испытывая флуктуации около среднего значения <Л/>. Вероятность P N) испускания за время т определенного числа N фотоэлектронов в отдельном измерении дается распределением Пуассона Р Ы) = с а /Ы, где а= Ы). Мерой флуктуаций числа фотоэлектронов служит величина ЬN = <(Л/— называемая среднеквадратичной флуктуацией. Мож- [c.462]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...