Анализ изображения на вещественной оси

Анализ изображения на вещественной оси р [c.73]

На рис. 9, б представлена лучевая картина процесса отражения сдвиговых волн от границы полупространства. Подчеркнем, что такое изображение процесса имеет смысл лишь до тех пор, пока при изменении угла у угол остается вещественным. При дальнейшем уменьшении угла у процесс отражения сдвиговых волн уже невозможно истолковать в рамках лучевых представлений. Количественный анализ процесса отражения можно выполнить на основе выражений (1.13), которые, вообш,е говоря, применимы при любом значении у. Однако при у меньших у, где у определяется из равен- [c.48]

В то время как его оригинал при /— оо неограничен. Вместе с тем, в случае изображения сложного вида возможность обойтись без анализа его поведения на комплексной плоскости р очень заманчива. В связи с этим разработаны способы обращения на вещественной оси [53]. В соответствии со сказанным выше при проведении выкладок обычно требуется очень высокая точность. Приведем здесь одну любопытную формулу (Уиддера), основанную на дифференцировании изображения на вещественной оси. Продифференцируем п раз преобразование Лапласа под знаком интеграла (что законно при достаточно большом значении р). Получим [c.73]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...