Некоторые применения интерференционных методов исследования

Некоторые применения интерференционных методов исследования [c.145]

Применение ультрафиолетовых и инфракрасных лучей в микроскопии открывает большие возможности для исследования клеточных структур живых организмов, позволяет получить количественную информацию об изучаемом объекте и отдельных элементах его структуры. С появлением новейших методов исследования в микроскопии (фазового контраста, интерференционного контраста, люминесцентного экспресс-анализа и др.) совершенствуются и сами микроскопы, создаются новые их типы с высококачественной оптикой, используются новейшие источники излучения (лазеры и др.), приемники. ФЭУ, ЭОП и другая аппаратура. Некоторые современные микроскопы представляют собой весьма сложные установки, снабженные электроникой, регистрирующими и электронными вычислительными устройствами, автоматикой и т. д. [c.3]

В настоящее время экспериментальные исследования напряжений и деформаций в оптических деталях выполняются различными методами, среди которых широкое применение находят поляризационно-оптический, тензо-метрический, интерференционный и некоторые другие. [c.4]

Еще более существенным моментом, стимулирующим синтезирование голограмм с помощью компьютеров, является возможность создать оптический волновой фронт для такого обьекта, который физически не существует. Потребность в формировании волнового фронта, соответствующего объекту, определяемому расчетным путем, возникает в любом случае, когда требуется визуально отобразить в трех измерениях результаты того или иного трехмерного исследования, например, при моделировании разрабатываемых конструкций. Иногда волновой фронт от синтезированной голограммы может служить интерференционным эталоном для контроля сложной оптической поверхности в процессе ее обработки. Другая область применения таких голограмм связана с экспериментами по пространственной фильтрации. В некоторых случаях изготовить фильтр с заданной функцией оптическими методами бывает затруднительно, в то же время компьютер решает подобные задачи сравнительно легко. [c.181]

Необходимо отметить, что при нсиользованни многолучевой интерферометрии для исследования оптических неоднородностей возникает целый ряд специфических вопросов, связанных с конструкцией, юстировкой и методиками применения интерферометров. Требования к некоторым элементам интерференционных рхем различны в случае применения многолучевого интерферометра как спектроскопа и как прибора для диагностики прозрачных сред. Учет этих особенностей в большой степени определяет, эффективность применения того или иного метода или схемы. [c.8]

Для регистрации результатов исследований, полученных при помощи прямотеневых, шлирных, интерференционных и голографических. методов, могут быть использованы различные расположенные в плоскости экрана светорегистрирующие среды, такие как фотографические и электрографические материалы, фоторезисторы, полупроводниковые светочувствительные экраны. Однако-широкое применение в настоящее время нашли галоидосеребряные фотографические материалы из-за их сравнительной дешевизны, высокой чувствительности и разрешающей способности. Разрешающая способность некоторых из них достигает 2800 линий на 1 мм и более. [c.221]

Схемы сложных интерферометров успешно работают и при некратном отношении толщин интерферометров [55]. Этот вывод, полученный в применении многолучевого интерферометра к исследованию сверхтонкой структуры спектральных линий, полностью можно распространить и на методы использования. многолучевого интерферометра для диапюстики прозрачных сред и в общем случае для исследования волновых фронтов. Напри.мер. При настройке на равномерно освещенное поле (при параллельном положении зеркал) работа выполняется на одной интерференпион-ной полосе, причем, как будет показано в гл. V, для получения оптимальной чувствительности многолучевого интерферометра необходимо в неболыних пределах менять настройку интерферометра. Очевидно, что в таком случае некоторое несовпадение мак снмумов интерферометров может быть использовано для выбора рабочей точки результирующего интерференционного контура. [c.41]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...