Юстировка микрометров

Юстировка микрометров. Для проверки микрометр А приводят в положение, указанное на рис. 22. Микрометр А должен показывать [c.466]

Нарезание резьбы головками 461- 471 — Крутящий момент 463 Юстировка микрометров 466- 468 [c.743]

Крутящий момент 3,463 Юстировка микрометров 3.466 [c.637]

Фиг. 34. Юстировка микрометра А прибора по фиг. 33.

Юстировка отсчетных микроскопов со спиральным окулярным микрометром. Способы юстировки окулярных головок отсчетных микроскопов см. стр. 113. [c.265]

Юстировка отсчетного микроскопа со спиральным окулярным микрометром. Отсчетный микроскоп описываемого прибора [c.267]

Схема установки для размерной обработки электронным лучом показана на рис. IV-20. Ускоряющее напряжение достигает 100 кВ, ток луча / = 15 А. Мощная откачка системы обеспечивает высокий вакуум как в рабочей камере 6, так и в электронной пушке 1. Дефокусировка электронов компенсируется двумя электромагнитными линзами конденсаторной 3 и формирующей 5. Отклоняющая система 4 —электростатическая и используется только для регулирования, а прецизионный стол 8 с приводом 9 осуществляет рабочее перемещение детали 10. Винтами 2 осуществляется механическая юстировка частей ЭОС. Рабочая камера 6 имеет окно 7 для установки детали. Применение электроннолучевой размерной обработки позволяет решать технологические задачи, которые прежде не могли быть решены известными методами, например, прошивка отверстий диаметром до 3—5 мкм, прорезка тонких пазов, снятие поверхностных слоев в несколько микрометров и т. д. [c.122]

Юстировка барабана микрометра с пределом измерений О— 25 мм на нуль-пункт проводится следующим образом микровинт ввертывают до соприкосновения с пяткой, затем, слегка отвернув установочную гайку или установочный винт, барабан ставят на нулевой штрих. После этого установочные гайку или винт снова зажимают, а микровинт вращают за трещотку др контакта с пяткой и следят за положением барабана. [c.269]

Фиг. 23. Схема юстировкн микро- Фиг. 23. Схема юстировки микрометра А метра В

Регулировка и юстировка микрометров. Устранение осевого люфта и регулировка плавности хода микровинта проводятся регулировочной конусной гайкой микрогильзы. [c.269]

Аналогичные микроскопы с числовой апертурой А = 0,3-ь0,4 и уменьшением Л1 — 1/50- -1/2000, разрабатываемые для син-хротронных и лазерно-плазменных источников, описаны в работах [32, 73]. Детальный анализ, проведенный в работе [73], показывает, что для достижения дифракционного разрешения необходима очень высокая точность юстировки, в том числе по расстоянию между зеркалами — до нескольких микрометров, децентрировке — менее 1 мкм, наклону осей зеркал — до единиц угловых секунд. Такую точность невозможно обеспечить при юстировке в видимом диапазоне, поэтому она должна проводиться непосредственно в рентгеновском. Для этого зеркала соединяются через пьезоэлементы, длины которых регулируются компьютером в соответствии с сигналом детектора, сканирующего изображение. Предполагается, что такой микроскоп будет иметь пятно фокусировки порядка 50 нм и обеспечит в пределах спектральной полосы шириной 1 % поток порядка 5-10 фот/с в случае синхротрона и до 5-10 фот/с в случае лазерно-плазменного источника, работающего в частотном режиме. [c.210]

Более сложная отсчетиая система высокоточного теодолита с компенсацией ошибки эксцентриситета горизонтального и вертикального лимбов приведена на рис. 14. Оптическая система 1—12 представляет собой от-счетное устройство / — лампы для подсветки лимбов, 4 и 5 — вертикальный и горизонтальный лимбы, 5 — оптический микрометр с поворотными стеклянными пластинками, 9 — шкала микрометра, 7 — пластинки (компенсаторы) для юстировки, и — сетка, 12 — окуляр отсчетного микроскопа, 13 — труба теодолита. Призма 6 может быть выдвинута из хода лучей для возможности наблюдения лимба 4 или 5. [c.598]

Метчики-сверла 627 Микрометры — Юстировка 589 Микропорошкн для притирки — [c.1171]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...