Компенсационные измерения изотопов

Компенсационные измерения изотопов [c.162]

Разрешающая способность на уровне 5% интенсив ности пика массовой линии. .... Воспроизводимость результатов измерения изотоп ных отношений, % при компенсационном методе [c.59]

На рис. 4.2, б приведена система с двумя одинаковыми по щирине приемными щелями. Настройка и нахождение точного положения изотопов на щелях при компенсационных измерениях осуществляются так же, как и в первом случае. Только здесь максимум отношения на декадном делителе напряжения мостовой измерительной схемы появляется, когда острие пика малого изотопа точно совпадает с центром узкой щели. Это происходит за счет части ионного тока, попадающей в неболь-щие прорези, расположенные в верхней и нижней частях щели. Работа на таком коллекторном устройстве требует известного навыка, зато повторяемость результатов измерений получается лучше, чем в первом примере. [c.109]

Измерять концентрацию изотопа малой распространенности лучше всего относительным методом, сравнивая отношения ионных токов в измеряемых образцах с эталонным образцом. В этом случае, если концентрации измеряемых проб не сильно отличаются от эталона, можно получить высокую точность измерений. Погрешности в измерении концентрации малораспространенных изотопов зависят главным образом от точности эталона и от концентрации малого изотопа в измеряемой пробе. В некоторых случаях в качестве эталона изотопной концентрации используют образцы элементов с природной распространенностью изотопов, довольно точно измеренной многими экспериментаторами. Располагая чистыми изотопами, можно приготовить изотопную смесь, предназначенную в качестве эталонного образца для дальнейших компенсационных измерений. [c.118]

В качестве проверки точности и правильности компенсационных измерений, выполненных на сдвоенном масс-спектрометре, может служить следующий пример измерения изотопов криптона и ртути естественной (природной) распространенности. Настройка компенсационной схемы осуществляется по одной из линий любого изотопа, как это описано в 6.6. После настройки чувствительности усилительных каналов на соотнощение [c.162]

В работах [115, 121] приведены описания оптико-акустического метода лазерной спектроскопии, основанного на измерении изменения давления газовой смеси, находящейся в замкнутом объеме камеры спектроскопа. С помощью этого метода можно получать наиболее точную информацию о малых концентрациях таких стабильных изотопов, как , B, В N, N, входящих в состав сложных молекул. Метод позволяет осуществлять не только измерение абсолютных концентраций, но и контроль за их малыми вариациями, которые удается регистрировать на основе компенсационного метода измерения с использованием лазерного излучения на двух частотах, совпадающих с полосами поглощения соответствующих изотопов. Измерение относительного содержания изотопов в газовой смеси заключается в сравнении оптико-акустических сигналов двух каналов, в одном из которых находится исследуемая смесь изотопов, а в другом — эталонная. Подобный метод позволяет измерять относительные вариации изотопных отношений до 10 %. Предельная чувствительность метода определяется степенью стабилизации лазера [c.222]

Результаты одиночных измерений распространенности изотопов криптона и ртути, выполненные на сдвоенном масс-спектрометре компенсационным методом, приведена в табл. 6.1. [c.164]

Еще одна характерная особенность выгодно отличает масс-спектрометр МС-62 от других приборов. На этом приборе независимо от величины высокомегомных сопротивлений, включенных на входе усилителей ионных токов, без предварительных измерений эталонных смесей можно непосредственно получить истинное отношение ионных токов для любой пары масс. Для этого необходимо сначала принять на оба коллектора ионные пучки одной и той же массы и регулировкой вытягивающего потенциала с любой стороны ионного источника точно с помощью компенсационной схемы установить равенство выходных напряжений усилителей ионных токов. Указанная калибровка независимо от неравенства площадей приемных щелей, величин высокоомных входных сопротивлений позволяет установить отношение чувствительностей усилительных каналов 1 1. Очевидно, таким же способом можно настроить усилительные каналы на любое отношение чувствительностей- Эта несложная калибровка прибора расширяет возможность компенсационных измерений. Таким образом определяют отношение интенсивностей двух ионных пучков в большом диапазоне концентраций и масс независимо от того, какая компонента из них (тяжелая или легкая) имеет малую величину и насколько различны величины входных сопротивлений усилителей ионных токов. На обычных приборах ввиду невозможности менять местами траектории ионных пучков легкого и тяжелого изотопов этого сделать нельзя. [c.146]

При реализации дифференциального и компенсационного методов контроля могут быть использованы различные схемы измерения. Наиболее простой способ обработки информации сцин-тилляционных детекторов основан на применении вычитающей схемы в среднетоковом варианте (рис. 6). Однако схемы измерения среднего тока ФЭУ, являясь в болыпинстве случаев оптимальными для дефектоскопии радиоактивными изотопами в случае исполь-. зования бетатрона, неэффективны ввиду их низкой помехоустойчивости. [c.377]

На рис. 4.1 приведены схема двух каналов усилителя ионных токов и компенсационная схема сравнения интенсивностей двух изотопов [1—4]. Ионные токи 1 и 2 через щели 5] и попадают на коллекторы Ау и А2 соответственно. Коллекторы Л1 и Лг соединены с управляющими сетками электрометрических ламп усилителей и входными сопротивлениями Г] и Г2. Вследствие практического равенства входных и выходных напряжений усилителей 4/1 и 112 на выходе будут равны соответственно произведению 1 Г и /гГг, ионные токи 1 и /г строго пропорциональны 7] и 172, если 1/12= 1/7/2- Для точного измерения величины этого соотнощения выходы усилителей подключены к мостовой компенсационной схеме. Мост схемы состоит из прецизионного пятидекадного делителя напряжения с постоянным внутренним сопротивлением Я = Я1 + Я2=Ю ом в одном плече и балластного преци- [c.105]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...