ТЕРМИЧЕСКИЕ стали - Графики «температура-время

Если препятствием для термометрии полупроводниковых кристаллов ранее могли быть значительная непараллельность поверхностей (при этом резонансы Фабри-Перо не наблюдаются) и необходимость зондировать кристаллы инфракрасным светом, то причины, по которым ЛИТ не применялась в 70-80-е годы для термометрии стеклянных пластин, в настоящее время понять трудно. В первой статье 6.1] представлены не только обстоятельное описание метода, но и оптическая схема измерений в вакуумной установке, экспериментальная интерферограмма и полученный с ее помощью график нестационарной температуры пластинки в диапазоне 25-ь320 °С. Впоследствии метод неоднократно (1973, 1979, 1981) применяли разные исследовательские группы [6.9-6.11], для его использования был необходим лишь наиболее распространенный He-Ne лазер с длиной волны 633 нм. В [6.9, 6.10] при интерпретации интерферограмм было принято во внимание не только термическое расширение материала пластинки, но и температурная [c.131]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...