Электронно-лучевая трубка система отклоняющая

В первоначальных приборах различные участки подводили под электронный зонд с помощью механического перемещения образца, а выбор участка производился с помощью оптического микроскопа, встроенного в систему. Теперь наиболее употребительна методика сканирования электронного пучка. Рентгеновские лучи генерируются серией точек во время каждой строчки или кадра, а рентгеновский сигнал фиксируется счетчиком, усиливается и преобразуется в луч, который попадает на экран синхронно со сканированием зонда. При использовании пропорционального счетчика регистрирующая система может быть настроена (с помощью амплитудного анализатора) только на регистрацию интересующего нас характеристического излучения тогда экран электронно-лучевой трубки покажет распределение одного элемента по поверхности, как на фиг. 27 [29]. Длр получения количе -ственных данных сканирующий луч может быть остановлен в любой точке, после чего измеряется интенсивность некоторых выбранных линий. Другой путь — зонд можно сканировать по образцу вдоль определенной линии, а сигнал отклоняет второй луч двухлучевой электронно-лучевой трубки. Чаще всего тем не менее для облегчения предварительного исследования оптический микроскоп сохраняют и в сканирующих приборах. [c.392]

Электронно-лучевая трубка (ЭЛТ) (Рис. 10.9) состоит из электронной пушки, которая производит сфокусированный луч электронов, и отклоняющей системы. При нагревании катод пушки начинает испускать электроны. Количество электронов, формирующих электронный луч и определяющих яркость свечения точки на экране трубки, зависит от разности потенциалов, приложенной к модулятору. Электроны ускоряются при пролете вдоль трубки из-за разности потенциалов между анодом и катодом. Последующие электроды служат для фокусировки луча. Электронный луч, достигая экрана, покрытого люминофором, формирует на нем небольшое световое пятно. Луч отклоняется в вертикальном направлении разностью потенциалов, приложенной к вертикально отклоняющим пластинам, и в горизонтальном направлении разностью потенциалов, приложенной к горизонтально отклоняющим пластинам. [c.149]

В общем виде взаимодействие конструктора и ЭВМ можно представить схемой, показанной на рис. 6.5, а. Чтобы детализиро-ровать эту схему, рассмотрим технические средства машинной графики [63]. Основу графической системы составляет графический дисплей, в котором изображение на экране получается с помощью электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). Под влиянием электромагнитного поля луч может отклоняться со скоростью перемещения относительно экрана порядка 1 см/с. [c.172]

Микроскоп растровый электронно-лучевой. Микроскоп применяется в электронных микрозондовых установках для микроскопического анализа различных материалов. Оптическая система (рис. IX. 12) позволяет производить наблюдение и фотографирование образцов, подвергаемых электронной бомбардировке. Исследуемый образец находится в передней фокальной плоскости зеркального объектива, расположенного в вакууме, и изображается последним на бесконечность. С помощью полупрозрачного зеркала 8 световые лучи отклоняются на защитное стекло 12 и затем направляются в тубус микроскопа, где размещена трехкомпонентная дополнительная система 14, 16 и 19. Первые два из этих положительных компонентов образуют телескопическую систему с телецентрическим ходом лучей, непосредственно за которой после отклоняющего зеркала 15 находятся системы 17 и 18 переменного увеличения. Положительный компонент 19 располагается перед тринокуляром 20 (насадка типа МФН-11). Осветительная система выполнена по принципу Кёлера. Электроннолучевая трубка 13 размещена внутри зеркального объектива. Коллектор 2 проектирует источник света I (лампа ОП-12-100) в апертурную диафрагму в масштабе V = —4,4х. Линзы 4, 5 изображают оправу коллектора 2 на полевую диафрагму в масштабе V — —0,5. [c.385]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...