Кристаллодержатели

В настоящее время влияние излучения изучается непосредственно на рабочих устройствах, которые состоят из кварцевого управляющего элемента и кристаллодержателя. Кристалл при этом теряет идентичность [c.409]

Мгц. У большинства высокочастотных кристаллов наблюдали уменьшение последовательной и параллельной резонансных частот более чем на 0,4%. Измерения в нестационарных радиационных полях показали, что указанные изменения появляются постепенно. Никакого видимого влияния мощности дозы облучения, которое могло бы привести, например, к скачкообразному изменению частоты, при изменении мощности реактора не наблюдали. Некоторое влияние мощности дозы наблюдали у низкочастотных кристаллов, причем частотные изменения были как положительными, так и отрицательными. В некоторых случаях отмечались радиационные повреждения различных кристаллодержателей. В частности, установлено, что излучение существенно влияет на стеклянные держатели. [c.410]

Зажимы кристаллодержателей радиоустановок в самолетах [c.76]

Рис. 11. Схе.мы кассетной сборки несложных узлов а — кристаллодержателя 6 — изолятора

КОНСТРУКЦИИ КРИСТАЛЛОДЕРЖАТЕЛЕЙ (ЩУПОВ) ДЛЯ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ [c.157]

Оба указанных кристаллодержателя одинаково пригодны для приема как по теневому методу, так и по методу отраженного сигнала. [c.159]

Рис. 6.4. Схема выращивания монокристаллов методом зонной плавки а — горизонтальная зонная плавка б — вертикальная бестигельная зонная плавка (I — затравка 2 — выращиваемый кристалл 3 — расплавленная зона 4 — исходный материал 5 — стенки герметичной камеры б — индуктор 7 — кристаллодержатель 8 — тигель).

Для того чтобы пьезоэлектрический излучатель и приемник ультразвука работали с максимальной эффективностью, кроме свойств самой кристаллической пластинки, большое значение имеет удачная конструкция держателя. Поскольку большая часть кристаллодержателей была разработана чистО опытным путем, представляет интерес кратко остановиться на последних полученных конструкциях. [c.83]

Держатели для гидроакустических излучателей довольно подробно описаны в имеющейся литературе, и мы остановимся на них совсем кратко. За последнее время было разработано большое количество конструкций кристаллодержателей, употребляемых в дефектоскопии металлов, сигнализации и для эмульгирования жидкостей. Поскольку такие держатели в литературе описаны недостаточно полно, мы остановимся главным образом на них. [c.83]

При дефектоскопии, когда ультразвук излучается в твердое тело, кристаллодержатель находится в руке экспериментатора, который медленно передвигает его по поверхности исследуемого тела. Для этого кристалл монтируют в держателе таким образом, чтобы одна из его поверхностей выступала из держателя. При [c.85]

Фиг. 53. Кристаллодержатель для передачи колебаний в твердое тело через жидкость.

Ф и г. 54. Кристаллодержатель для излучения поверхностных волн. [c.94]

Ф н г. 65. Кристаллодержатель для микроскопич,еских исследова- [c.106]

Хотя в прошлом было проведено много экспериментов с целью определения влияния излучения на кристаллы, необходимы дополнительные исследования, чтобы определить связь между ядерными повреждениями и многими факторами, которые осложняли анализ полученных после облучения результатов. Необходимо изучить влияние излучения на резонансную частоту, последовательное и параллельное полные сопротивления, на переменные и шунтируюп ,ие емкости, а также влияние типа срезов, пьезоэлектрических и диэлектрических констант как природных, так и синтетических кристаллов. Следует также учитывать другие факторы, относяш,иеся к технологии изготовления устройств, поскольку в некоторых случаях кристаллодержатели и материалы, используемые для крепления кристаллов, обусловили большую часть повреждений. Необходимы дополнительные данные о функциональном пороге кристаллов, поскольку суш ествующ,ие допуски для кристаллов весьма жесткие. [c.414]

Использование такого кристаллодержателя диктуется необходимостью хорошего теплоотвода через затравочный кристалл в процессе роста, так как низкая теплопроводность НБС затрудняет проведение контролируемого процесса разращивания кристалла. Затравочные кристаллы вырезаются в форме параллелепипедов размерами 2 X 2 X Х25 мм Отклонение ростовой оси от тетрагональной оси (< 1°) контролируется рентгеновским методом. [c.159]

Главное затруднение при создании установки здесь состоит в том, что снятие характеристик с образца производится в магнитном поле, где обычно, приходится бороться против каждого лишнего миллиметра межполюсного зазора. Отсюда ясно, что кристал-лодержатель прежде всего должен быть компактным. На рис. 83 изображен примененный кристаллодержатель. [c.145]

Образец (кристаллодержатель) нагревают в печке, представляющей собой кварцевую трубку с бифиляр-ной обмоткой. [c.146]

I — оонованне корпуса 2 — выводы 3 — изолятор 4 — кристалл 5 — кристаллодержатель 6 — герметизирующий корпус 7 — место сварки [c.712]

Рис. 2,4. Схема камеры Лауэ. Для получения лауэграммы моиокристалли-ческого образца используется рентгеновское излучение, имеющее сплошной спектр. Кристаллодержатель (регулируемый го.чиометр) позволяет менять ориентацию монокристалла, что часто бывает необходимо и в других экспериментах по физике твердого тела. Рентгеновская пленка В используется для получения обратных лауэграмм (обратных дифракционных картин).

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...