Прямое исследование объектов, прозрачных для электронов

Прямое исследование объектов, прозрачных для электронов [c.169]

Для исследования металлографических объектов в электронном микроскопе просвечивающего типа используются прямой и косвенный методы. Прямой метод заключается в исследовании очень тонких слоев металла (фольг), прозрачных для пучка электронов. Этим методом удается обнаружить различные дефекты в кристаллической решетке, главным образом дислокации. Косвенные методы исследования структуры осуществляются с помощью отпечатков-реплик, которые воспроизводят рельеф поверхности шлифа. Реплики получают нанесением на поверхности шлифа раствора фотопленки в амилацетате или путем напыления угля в вакууме. Полученная тем или иным способом реплика отделяется от шлифа при погружении образцов в травящий раствор, после чего ее помещают в электронный микроскоп. При прохождении электронного луча через реплику благодаря неодинаковому рассеянию электронов в разных ее участках на экране электронного микроскопа воспроизводится рельеф поверхности шлифа. Разрешение, достигаемое на репликах, составляет от нескольких десятков до нескольких сотен ангстремов. [c.53]

Прямое электронномикроскопическое и электроннодифракционное исследование, принципиально наиболее ценное, сравнительно легко осуществимо на полученных различными путями пленках, прозрачных или полупрозрачных для электронов, и порошковых объектах, но связано с большими, хотя и преодолимыми, трудностями при изучении металлов и сплавов в технически важных состояниях, так как в этом случае необходимо изготовление тонких пленок иъ массивных образцов. [c.169]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...