Методы рельефа почернения

Метод рельефа почернения [c.159]

Метод рельефа почернения 161 [c.161]

Следовательно, метод рельефа почернения применим для двух различных проблем. При использовании хорошо отъюстированного интерференционного микроскопа с небольшим увеличением (приблизительно в 10—15 раз) косой разрез дает фотометрические кривые (семейства) для одномерных фотометрических измерений (например, д)1я спектрофотометрии). Наоборот, горизонтальный разрез дает семейства эквиденсит для двумерных фотометрических измерений (например, для анализа изображения). [c.161]

Методы рельефа почернения 163 [c.163]

В последние годы метод рельефа почернения стал предметом научных исследований. Так, Альтман [1] установил, что для узких линий ( 5 мкм) высота рельефного изображения пропорциональна плотности при /)<2,5, и тогда Д = 5,9 Л, где /г —высота рельефа (в мкм). Если >2,5 или линии шире, что соответствует более пологому градиенту характеристической кривой, то линейности не наблюдается. Разумеется , здесь речь идет об очень мелкозернистых слоях, для которых отклонения были замечены уже в оригинальных работах. [c.164]

В принципе имеются различные возможности измерения проявленного серебра электрическими или электронными методами, основанными на изменении емкости, индукции или электрического сопротивления, вызванном серебром, но эти методы требуют больших затрат. Самым простым является чисто оптический метод, с помощью которого делается видимым рельеф проявленного серебра пластинки, который можно непосредственно измерить. Такой метод, получивший название метод рельефа почернения , был предложен Лау и Кругом [118] (см. также работу Лау, Киида и Руса [119]). [c.159]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...