Методы определения сближения и фактической площади касания

Методы определения сближения и фактической площади касания [c.57]

В исследованиях, результаты которых изложены ниже, для определения Fon использован метод построения кривой опорной поверхности по двум профилограммам [20]. Сущность метода заключается в том, что с поверхности снимаются продольная и поперечная профнлограммы, по профилограммам строятся продольная и поперечная кривые относительной опорной длины профиля P (ГОСТ 2789—73). Абсциссы кривых, соответствующие одному и тому же уровню сближения, перемножают и строят кривую опорной поверхности, учитывающую продольную и поперечную шероховатости. При контактировании шероховатой поверхности, для которой построена кривая опорной поверхности, с гладкой твердой плоскостью можно с некоторым приближением считать, что фактическая площадь касания при данном сближении равна соответствующей абсциссе кривой. [c.43]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...