Количественная металлография метод секущих

Значительным прогрессом в аппаратурном обеспечении количественной металлографии явилось создание приборов, действие которых основано на при1щипе сканирования микроструктуры световым лучом. Используют два принципиально различных метода сканирования. При сканировании щелью пользуются узкой щелеобразной аиертурой, расположенной перпендикулярно к линии сканирования. Высота сканирующей щели при этом превышает средний линейный размер (поперечник) микрочастиц. При сканировании пятном световой луч прочерчивает линию, ширина которой (равная диаметру пятна) должна быть возможно меньшего размера и значительно меньше среднего линейного размера микрочастиц. Процесс сканирования пятном подобен анализу микроструктуры с применением секущих линий. [c.490]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...