Стандарт длины волны первичный

Измеренная таким образом длина волны линии кадмия выражалась числом, равным 6438,4722-10 Длина волны линии кадмия, выраженная в единицах длины международного метра, в настоящее время является первичным стандартом длины волны. Однако в настоящее время имеется возможность получить в достаточных количествах изотоп ртути образующийся при [c.417]

Дальнейшая классификация стандартов длин волн выделяется сравнительно небольшая группа линий класса А, длины волн крторых воспроизводятся с высокой точностью. Они могут заменить первичный стандарт и тем облегчить интерферометрические измерения [c.661]

Поскольку значение длины волны красной линии кадмия принято, по определению, в качестве стандарта, очень важной является точность определения других длин волн по отношению к длине волны первичного стандарта. Непосредственное сравнение с красной лннией кадмия проводится интерферометрическим методом. Для этого иснользуются интерферометры и дифракционные решетки ). Принцип определения основывается на наложении интерференционных полос различных порядков [c.418]

Для определения д.тин волн линий рядо.м со спектром исследуемого астр, объекта обычно впечатывается эмиссионный лииейчатьп спектр к.-л. элемента, длины волн линий к-рого хороню известны. Стандартные д-чнны волн определяются по лаб. измерениям спектров >келе-за, ртути, неона, аргона и криптона, В свою очередь, эти стандарты опираются на первичные реперные лаб. измерения длин воли криптона (напр., Я=6057, 802105 А), ртути и кад.чия. [c.128]

Вслед за первичным стандартом применяются вторичные стандарты, установленные с помощью интерфе-рометрических измерений (используется главным образом интерферометр Майкельсона). Ошибка составляет 10 нм. Вторичные и соответствующие им третичные длины волн собраны в спектральных атласах, так что в видимой области и в прилегающих к ней спектральных областях имеется большое число линий, которые могут использоваться для калибровки спектральных приборов по длинам волн. Новые успехи в этом направлении достигнуты с помощью лазерной спектроскопии высокого разрешения, особенно в инфракрасной области. [c.43]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...