Схема для измерения непрозрачного покрытия

Рис. 85. Принципиальная схема метода светового сечения для измерения непрозрачного покрытия

Принципиальная схема метода светового сечения для измерения непрозрачных покрытий представлена на рис. 85. [c.92]

Рис. 4.12. Принципиальная схема метода светового сечения для измерения толщины непрозрачного покрытия а —смещение щели в поле зрения микроскопа б— ступенчатое изображение щели

На рис. 1 представлен простейший полярископ, применяемый при сквозном просвечивании модели (для большей ясности схемы действия полярископа). При исследованиях металлических деталей или образцов используют отражательные полярископы [26]. На рис. 2 дана схема простейшего У-образного полярископа, применяюще,гося для приближенных измерений непрозрачных объектов. На поверхность непрозрачного образца наносят покрытие из оптически активного материала в жидком состоянии (в этом случае поляризация его ведется непосредственно на поверхности исследуемого образца, или к исследуемой поверхности приклеивают предварительно полимеризованную тонкую пластинку (метод наклеек). Для точных измерений используют поляр изацион- [c.196]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...