Прямое исследование объектов, непрозрачных для электронов

Прямое исследование объектов, непрозрачных для электронов [c.171]

Непосредственное изучение таких поверхностей возможно лишь в отражательном, эмиссионном или растровом микроскопах, наблюдение объектов в которых может быть отнесено также к прямым методам исследования. Однако наибольшее распространение имеют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие наибольшим разрешением из всех перечисленных типов, и потому для изучения структур поверхностей непрозрачных тел были разработаны и успешно применяются косвенные методы. [c.41]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...