Метод светового моделирования для определения облученности поверхностей

Метод светового моделирования для определения облученности поверхностей [c.430]

Метод светового моделирования основывается на полной аналогии лучевого обмен 1 в любых частях спектра излучения тел. Метод световых моделей с успехом может быть применен для определения облученности поверхностей в самых сложных случаях. [c.430]

Разработаны также экспериментальные методы определения коэффициентов облученности с помощью светового [Л. 27, 149, 150, 156] и теплового ГЛ. 157—159] моделирования. При этом наибольшее развитие и практическое применение получпл метод светового моделирования, с помощью которого оказывается возможным определять не только угловые коэффициенты между поверхностями любой формы при наличии поглощающей среды, но и коэффициенты облученности между объемными зонами в системах с диатермической и ослабляющей средой [Л. 156]. [c.238]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...