Оптические методы измерения толщины покрытий

ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ [c.85]

Оптический метод основан на измерении уступа, образованного краем покрытия с основным металлом, способом светового сечения или растровым способом с помощью оптического микроскопа. Метод применим для измерения толщины покрытия от 1 до 40 мкм с коэффициентом отражения не менее 0,3. Уступ получают растворением небольшого участка покрытия с предварительной изоляцией остальной части поверхности. [c.55]

Металлографический метод является разрушающим и пригоден преимущественно в лабораторных исследованиях. Он заключается в измерении толщины покрытий при помощи оптических микроскопов на поперечных шлифах. В зависимости от толщины покрытия рекомендуется выбирать следующие увеличения 500—1000 крат до 20 мкм, 200 крат свыше 20 мкм. Приготовление шлифа должно выполняться в соответствии с рекомендациями для изготовления металлографических образцов. Особое внимание следует обратить на предотвращение отслаивания и выкрашивания покрытия. Если между покрытием и основным металлом отсутствует четкая граница, то для получения наибольшего контраста можно применять травление шлифа. Относительная погрешность измерений 10%, Не- [c.84]

Металлографический метод нередко выполняет роль арбитражного в спорных случаях и зачастую служит для проверки точности других неразрушающих методов определения толщины покрытия. Используя обычную технику подготовки шлифов и оптические микроскопы, можно произвести измерения с точностью 1 мкм, а применяя метод косого сечения при изготовлении образцов,— с точностью 0,1—1,0 мкм. С помощью электронного микроскопа можно измерить еще более тонкие осадки. [c.146]

Библиография по применению оптических методов для измерения толщины покрытий в деталях радиоэлектронной промышленности приведена в книге [37]. [c.96]

Известны разнообразные способы определения толщины как свободной пленки,. так и покрытия на подложке—от простого измерения микрометром до применения сложных оптических и магнитных приборов. Обычные микрометрические методы определения толщины покрытия на подложке большей частью связаны [c.206]

Оптические методы рекомендуется применять в основном для измерения толщин тонкослойных покрытий, обладающих хорошими оптическими свойствами и нанесенных на хорошо подготовленные поверхности подложки. [c.85]

Для определения толщины покрытий, нанесенных на неметаллические подложки, кроме микрометрического метода можно использовать оптические методы, например метод светового сечения [10]. Принцип метода состоит в измерении смещения луча света а, отраженного поверхностью пленки и подложки, которая пропорциональна толщине покрытия (рис. 28) [c.140]

Металлическое покрытие должно быть сплошным, без точечных дефектов и равномерным по толщине. Сплошность оценивается долей покрытой поверхности. Точечные дефекты оценивают их числом на единицу площади и величиной самих дефектов (диаметром, формой и площадью). Их появление связано с процессом активации поверхности, а иногда и с загрязнением дисперсными частицами раствора металлизации. Толщину металлических покрытий на неметаллических материалах определяют общепринятыми методами измерения тонких пленок и специфическими, которые основаны на уникальных свойствах тонких пленок металла на неметаллах электропроводностью, оптической плотностью, цветами побежалости после превращения в прозрачное соединение. [c.528]

Толщину покрытий контролируют неразрушающим и разрушающим способами. Среди неразрушающих методов контроля широко используются следующие электромагнитные измерения масс прямого измерения. В ряде случаев для деталей со сложной геометрией применяют рентгенотелевизионный метод, иногда оптический или тепловой методы. [c.483]

Второй тип основан на том факте, что пленка на гладкой металлической поверхности изменяет состояние поляризации света, отраженного от поверхности. Этот метод трудно приложим к металла.м с шероховатой поверхностью, но он пригоден для пленок столь тонких, что измерение толщины интерференционным методо.м не возможно второй метод не требует знания коэфициента преломления материала пленки. Однако измерение зависит от сравнения свойств металла без пленки и металла, покрытого пленкой, и, следовательно, необходимо или иметь металл, освобожденный от пленки, или знать две его оптические константы. Только при этих условиях можно экспериментально определить толщину пленки и коэфициент преломления материала пленки. [c.831]

Достоверные результаты можно получить только на однородных пленках известной толщины. Может быть эффективным налив краски на плоские черно-белые стеклянные пластинки с помощью аппликатора. Другим методом определения является нанесение краски на прозрачную синтетическую пленку равномерной толщины (например на полиэфирную) и проведение измерений при оптическом контакте окрашенной синтетической пленки со стеклянной пластиной (оптический контакт дает жидкость с показателем преломления, идентичным показателю преломления синтетической пленки) [8]. В обоих методах толщина покрытия определяется исходя из веса краски на единицу площади. [c.446]

Пряжений в подложке при формировании перхлорвиниловых покрытий различной толщины на стеклянных призмах (измерения проведены оптическим методом). [c.17]

Методы контроля то.чщины покрытий, получаемых электрохимическими и химическими способами, а также термины и определения основных понятий в области измерения толщины стандартизированы [122, 132]. Анализ литературы показал, что из девяти методов определения толщины покрытий, рекомендуемых стандартом [122], для газотермических покрытий используются лишь три магнитный, электромагнитный (вихревых токов) и металлографический. Остальные методы не применяются либо из-за высокой коррозионной стойкости керамических покрытий (кулонометрический метод и методы струи и капли), либо из-за сложности и специфичности необходимого оборудования (радиационный и оптический методы), либо из-за больших погрешностей (гравиметрический метод). [c.82]

Профилометрический метод. Так же, как и в двух описанных выше оптических методах, в профилометрическом методе определения толщины покрытия необходимо получить уступ между покрытием и основным металлом при удалении покрытия на локальном участке поверхности. В данном случае, однако, толщина определяется из профилограммы, полученной путем регистрации изменений положения стальной иглы при ее перемещении по испытуемой поверхности. Для усиления передаваемого движения иглы увеличения графического изображения исследуемого профиля поверхности, по которому можно провести непосредственные измерения, используются электронные приборы. [c.141]

Определение внутренних напряжений консольным методом проводят на установке, состоящей из консоли, от-счетного микроскопа (оптическая часть микроскопа МИР-12) и термостатирующего устройства (рис. 31). Консоль представляет собой две пластины из нержавеющей стали размером 80X15 мм, толщиной 0,25—0,3 мм (пластина-подложка) и 1,0—1,5 мм (пластина-основа-ние), соединенные точечной сваркой через двухмиллиметровую стальную прокладку. В пластине-основании иногда предусматриваются три отверстия диаметром 10 мм для измерения толщины покрытия микрометром. Пласти-ну-подложку щлифуют шкуркой №№12—20, обезжиривают уайт-спиритом и измеряют ее толщину в трех точках б. Лакокрасочный материал наносят наливом или кистью так, чтобы не было потеков по краям и на обратной стороне пластины, помещают на подставку и сразу измеряют расстояние между пластиной-подложкой и пластиной-основанием к. На подставке можно закреплять одновременно шесть консолей. После отверждения покрытия измеряют длину пленки I, суммарную толщину покрытия б + Аб (в тех же точках, в которых измеряли толщину подложки) и расстояние между пластинами к + Ак. Внутренние напряжения о (в МПа) рассчитывают по формуле [c.145]

Из неразрушающих методов контроля наибольшее распространение получили электромагнитные методы, метод измерения масс, метод прямого измерения. Радиометрический метод измерения толщины высокоз4>фективен, но, к сожалению, сравнительно редко используется. Толщину покрытий деталей сложной формы в ряде случаев можно определить рентгенотелевизионным методом. Для измерения толщины в особых случаях используют оптический и тепловой методы. [c.613]

Для определения толщины покрытий известны разнообразные способы -от простого измерения микрометром до применения сложных оптически. и магнитных приборов. Распространено определение толщины покрытий магнитными методами без нарушения целостности покрытия (толщиномерами типа ИТП-1, МИП-10, МТ-ЗОН и др.). Пршщип действия этих приборов основан на изменении силы протяжения мапптга к ферромагнитной подложке [c.116]

Для измерения толщины лакокрасочных покрытий на немагнитных металлах и сплавах (алюминий, свинец, медь и др.) приходится прибегать к мето-дал разрушающего контроля, снятию пленок с подложки. В научных лабораториях применяют более сложный и точный оптический метод с помощью двойного микроскопа МИС-11. [c.117]

Иитерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

Известны разнообразные способы определения толщины как свободной пленки, так и покрытия на подложке - от простого измерения микрометром до применения сложных оптических и магнитных приборов. Наибольшее распространение получило определение толщины покрытий магнитными методами, так как эти методы дают возможность опрепелить толщину лакокрасочного покрытия на любом предмете (ю ферромапшт-ных металлов) без нарушения целостности покрытия. [c.126]

Метод оптически активных покрытий основан на измерении упругих сдииго-вых деформаций пластинки из оптически чувствительного материала (например, ЭД6-М), наклеенной на плоскую поверхность модели, имитирующей локальную зону натурной детали. Метод является достаточно надежным и отработанным, в том число и в условиях циклического нагружения модельных элементов, сварных соединений. Измеряемые деформации составляют 0,1. ..2,0% при толщине пластинки 1 мм. Для метода характерны следующие особенности влияние толщины наклепки на разрешающую способность и точность измерения деформаций (особенно в зонах с высокими градиентами), а также зависимость оптических характеристик от времени и числа циклов (в связи с чем необходима предварительная градуироика). [c.171]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...