313 — Расчет структурные

Метод количественного определения ферромагнитных структурных составляющих [3]. При известных магнитных свойствах отдельных составляющих можно определить их количество. Расчёт намагниченности насыщения, соответствующей количеству одной из составляющих, производится по формуле [c.178]

Анализ результатов. Численные расчёты проводились для системы сферических штампов (/(г) = r / 2R), R - радиус кривизны штампа), расположенных в узлах гексагональной решётки с шагом I. Установлено, что контактные характеристики и напряжённое состояние внутри тел зависят от следующих безразмерных структурных параметров относительного модуля упругости поверхностного слоя х — Е1/Е2, безразмерного расстояния между инденторами I = 1/R, относительной толщины [c.238]

К другой группе факторов относятся а) отклонения механических характеристик от нормативных благодаря нарушениям в условиях изготовления, ковки, термической обработки б) повышенная чувствительность к недостатка. механической обработки в) неоднородность свойств благодаря структурным особенностям материалов, малой пластичности, повышенной остаточной напряжённости и т. д. Эти отклонения в характеристиках механической прочности характеризуются сомножителем величина которого при применении более высококачественных материалов и совершенной технологии, при расчёте иа сопротивление пластическим деформациям составляет 1,2—2,0 в зависимости от степени пластичности при расчёте на усталость 2 составляет 1,3-1,7, увеличиваясь для менее однородных материалов (литьё) и деталей больших размеров и сложных форм до 2 = 3 и более. [c.384]

Кинематический расчёт коробок скоростей производят с помощью структурных сеток и графиков чисел оборотов (графиков п). [c.560]

Общим термодинамич. критерием равновесного распределения самопроизвольной намагниченности в ферромагнетике (его доменной структуры) явл. миним. значение полного термодинамич. потенциала ферромагн. образца. Этот потенциал сложно зависит от внеш. условий — темп-ры, упругих напряжений, внеш. эл.-магн. полей, структурного состояния образца, его формы и размеров. Из-за сложности определения термодинамич. потенциала в общем случае задача о доменной структуре решается последовательным расчётом отд. элементов доменной структуры (граничных слоёв между Д., внутр. дефектов и т. д.). [c.182]

Легко решается задача, обратная структурной расшифровке матем. расчёт структурных амплитуд по известной ат. структуре, а по ним — интенсивностей дифракц. отражений. Метод проб и ошибок, исторически первый метод расшифровки структур, состоит в сопоставлении экспериментально полученных 1 йлг1эксп с вычисленными на основе пробной модели значениями / й 1выч- В зависимости от величины фактора расходимости [c.641]

Структурные напряжения появляются в самом наплавленном металле швов, на контактной поверхности (при контактной сварке) и в зоне свариваемых участков. Структурные напряжения не ориентированы определённым образом в пространстве и взаимно уравновешены в микрообъёмах. Величина напряжений зависит от химического состава основного и наплавленного металла, а также от температурного режима сварки и условий охлаждения соединения и не может быть определена расчётом методами сопротивления материалов. При неблагоприятных обстоятельствах структурные напряжения вызывают трещины в наплавленном металле и переходной зоне как в горячем, так и холодном состоянии. Трещины иногда возникают независимо от внешних нагрузок. Структурные напряжения, опасные для [c.857]

Наиболее точные (прецизионные) значения постоянных решётки можно получить, если для расчёта пользоваться линиями, отвечающими брэгговским углам отражения, лежащим вблизи значений 90° (практически около 80°), так называемыми задними линиями на рентгенограмме. В отличие от передних линий задние К -линии дублетизированы, что даёт возможность точно учесть разницы длин волн Ка и /Сд излучения. В табл. 18 приведены прецизионные значения длин волн всех трёх Р-, ау и Ц2-составляющих серии К для наиболее употребительных анодов структурных трубок. [c.167]

Расчёт многоваловых передач производится с помощью структурных сеток (фиг. 7) и графиков чисел оборотов. Они строятся в координатах валы коробки— числа оборотов (последние в логарифмическом масштабе, что приводит к равномерной шкале). [c.33]

Д. н. играет существ, роль в работе ядерных реакторов, а также при использовании нейтронов для неразрушающего элементного и структурного анализа (см. Активационный анализ), в частности в геофизике для нейтропиого каратажа скважин. В этой связи часто требуется рассчитать потоки нейтронов как ф-ции координат и скоростей (а иногда и времени). Эти потоки описываются кинетическим уравнением Больцмана. Наиб, универсальный метод их численного расчёта — Монте-Карло метод. [c.690]

Из-за структурной чувствительности доменной структуры и процессов намагничивания и персмагничивания количеств. теория кривых намагничивания и петель гистерезиса ферромагнетиков находится в нач. стадии развития. Лишь в случае расчёта кривых намагничивания идеальных монокристаллов определ. формы в области, где Х раш Хсмеш [1 ]. можно развить строгую количеств, теорию для образцов простой формы (напр., эллипсоидов), допускающей однородность намагниченности при их структурной и хим. однородности. Теория кривых намагничивания и петель гистерезиса имеет важное значение для разработки новых и улучшения существующих магнитных материалов, играющих весьма важную и всё возрастающую роль в совр. технике (напр., в магн. дефектоскопии и структурном анализе, а также при конструировании элементов памяти ЭВМ, ускорительных секций, накопительных колец и г. п.). [c.289]

В рентг. структурном анализе. Так, ф-ла для распределения эл.-статич. потенциала ф(л , у, г) аналогична ф-ле для распределения электронной плотности р(л , у, z) в рентг. структурном анализе. Расчёт значений ф(х. У, г), обычно проводимый на ЭВМ, позволяет установить координаты X, у, Z атомов, расстояния между ними и т. л. (рис. 3). [c.585]

Величина диполь-дипольного взаимодействия парамагн. ядер изменяется в зависимости от ориентации магн. поля На относительно кристаллографич. осей. Изучение этой анизотропии даёт возможность определить взаимную ориентацию спинов ядер, расстояния между ядрами, характер и симметрию ближайшего окружения парамагн. центра, а также исследовать структурные дефекты кристаллов. При взаимодействии большого числа парамагн. ядер анализ сложных спектров ЯМР осуществляют с помощью т. н. второго момента спектральной линии, к-рый при взаимодействии одинаковых ядер описывается ф-лой Ван Флека [1, 2]. Второй момент определяется среднеквадратичной величиной локальных магн. полей, созданных на ядре всеми др. ядерными диполями. Каждая структурная модель характеризуется определ. значениями величины второго л омента, что успешно применяется при анализе структуры стеклообразных полупроводников. Существуют программы Для расчёта на ЭВМ вторых моментов линий ЯМР по структурным моделям для монокристаллов произвольной сингонии [9 ]. [c.678]

Почти все изложенные ниже результаты могут быть применены для определения контактных характеристик взаимодействующих тел и силы сопротивления их относительному перемещению по крайней мере на двух масштабных уровнях. Макромасштаб - это некоторая расчётная схема реального сопряжения. На этом уровне изучается распределение номинальных напряжений внутри номинальной области контакта в зависимости от макроформы и свойств контактирующих тел и условий взаимодействия. Микромасштаб - это модель элементарного (на данном структурном уровне) фрикционного контакта (например, контакт двух неровностей). Это позволяет использовать полученные результаты для расчёта контурных и фактических площадей контакта, сближения тел под нагрузкой, распределения контактных и внутренних напряжений при качении и скольжении. Кроме того, представленные в этой главе результаты позволяют определить те области изменения параметров, при которых учёт трения и несовершенной упругости приводит к существенному изменению конечных зависимостей по сравнению с упрощёнными постановками. [c.131]

Усадка 612 Стружколомание 624 Структурный анализ 59 Ступицы корпуса гидр луфты — Припуски — Расчёты 784 Стыковая сварка конта(4тная — см. Электросварка контактная стыковая [c.1073]

Метод атом-атомных потенциальных ф-ций применяется и для расчётов конформаций (чаще всего в гибких органич. молекулах, в к-рых вращения вокруг хим. связей сравнительно свободны). Минимизируя энергию молекулы по внутр. геом. параметрам (в частности, по углам вращения), находят равновесную конформацию. Применение метода атом-атомных потенциальных ф-ций в сочетании с рентгеновским структурным анализом привело к увеличению точности и надёжности определения структурных параметров нек-рых белков, полисахаридов, ДНК и транспортных РНК. [c.401]

Структурный элемент электрич.. цепи, включаемый в цепь для ограничения или регулирования силы тока. ЭЛЕКТРОАКУСТИКА, раздел прикладной акустики, содержание к-рого-составляют теория, методы расчёта и конструирование электроакустических преобразователей. Часто к Э. относят теорию и методы расчёта электромеханич. преобразователей (звукоснимателей, рекордеров, виброметров, [c.865]

В рентг. структурном анализе. Так, ф-ла для распределения электростатич. потенциала ф(л , у, ) аналогична ф-ле для распределения электронной плотности р(х, у, г) [ф-ла (2) в ст. Рентгеновский структурный анализ]. Расчёт значений ф(ж, у, г), обычно проводимый на ЭВМ, позволяет установить координаты ж, у, г атомов, расстояния между ними и т. д. (рис. 3). [c.892]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...