Анализ резонансная флуоресценция

Хотя резонансная флуоресценция впервые была обнаружена около 70 лет назад, как метод анализа она стала применяться только последнее десятилетие [40], а в вакуумной области спектра еще позже. Метод обладает очень высокой чувствительностью. [c.283]

Очевидно, что если у молекулы имеется множество вибронных мод, то и число дополнительных спектров флуоресценции будет велико. Они будут существенно затруднять проведение вибрационного анализа в основном спектре флуоресценции. Поэтому дополнительные спектры желательно подавить. Согласно формуле (12.13) интенсивность дополнительного спектра пропорциональна п шь — П ). Если частота возбуждающего лазера Шь попадает в максимум функции распределения п(шь), то величина п(шь - fi ), сдвинутая на fi от максимума, мала и дополнительный спектр флуоресценции будет иметь малую интенсивность, т. е. окажется подавлен. Рис. 5.1 показывает, что такое подавление дополнительных спектров флуоресценции происходит при возбуждении в резонансную область. В этом случае в суммарном свечении доминирует основной спектр флуоресценции, распределение интенсивности в котором совпадает с распределением интенсивности в однородном молекулярном спектре флуоресценции. [c.168]

Резонансная флуоресценция в вакуумной обласпи спектра только начинает изучаться [14—19]. Многие исследования проводились для использования флуоресценции при спектральном анализе [16, 18]. Наиболее подробно изучалась резонансная флуоресценция аргона [19]. Изучение флуоресценции атомов инертных газов облегчается тем, что концентрации их атомов могут определяться пря.мым путем, а не из уравнения упругости паров (как в случае металлов) и не из расчетов степени диссоциации (как в случае молекулярных газов). [c.325]

Фокусируя лазерное излучение, можно производить спектральный анализ микроколичеств вещества, локализованных в малых (до 10 см ) объёмах. С помощью импульсов непрерывного когерс [тпого излучения исследуется комбинационное и резонансное рассеяние атомов и молекул, а также возбуждается флуоресценция на больших расстояниях от источника, что даёт 1 0зможтгость дистанциоииого анализа атомного или молекулярного состава исследуемого объекта. [c.554]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...