Многократное рассеяние излучени

При расчете у-квантов от сферической активной зоны можно пользоваться также формулами типа (9.63) и (9.63а), но с учетом многократного рассеяния излучения. При этом следует помнить, что учет накопления у-квантов в активной зоне в результате их многократного рассеяния— сложная задача, корректно решить которую можно лишь с помощью анализа уравнения переноса у-квантов. Проблема учета накопления у-квантов в материале источника (в данном случае активной зоны) подробнее рассмотрена в работе [41]. [c.60]

Применимость приближения однократного рассеяния предполагает, что амплитуда однократно рассеянного излучения будет очень малой по сравнению с амплитудой падающего пучка. Тогда амплитуда дважды ( и многократно) рассеянного излучения будет еще меньше и ею можно пренебречь в сравнении с амплитудой однократно рассеянного излучения. [c.99]

Рассеяние любым трехмерным объектом должно в принципе включать в себя процессы многократного рассеяния. Излучение, рассеянное одной частью объекта, будет проходить через другие его части и вновь рассеиваться. [c.172]

Для некогерентных источников конечных размеров и для значительного диапазона длин волн наблюдаемые интенсивности могут быть получены суммированием интенсивностей отдельных точечных источников с одинаковой длиной волны. Следовательно, мы можем начать с рассмотрения полностью когерентного падающего излучения, для которого суммируются амплитуды всего многократно рассеянного излучения. [c.172]

Симметричное разностное ядро выражается через неотрицательную ядерную функцию К[т). Такие уравнения встречаются д различных разделах математики и физики. В теории переноса излучения, терминологии которой мы будем придерживаться, уравнение (1) описывает многократное рассеяние излучения в плоскопараллельной среде. При этом г — оптическая глубина, то — г — оптическая толщина среды, О < Л < 1 — вероятность выживания фотона при однократном рассеянии, 5о(т) — функция, характеризующая мощность первичных источников излучения, а 5(т) — функция источников, пропорциональная энергии, излучаемой на глубине г после всех рассеяний. [c.102]

Энергетический к.п.д. источника может быть наиболее точно рассчитан по методу Монте—Карло (с учетом многократного рассеяния излучения). [c.10]

При аналогичных измерениях в камере искусственных туманов было получено, что в более разреженных дисперсных средах (при меньших оптических диаметрах пучков) границы применимости формул однократного рассеяния смещались в сторону больших оптических толщ и для туманов с р=1,7 м достигали т=16. Следует подчеркнуть, что в описанных экспериментальных исследованиях интенсивности и однократно и многократно рассеянного излучения оставались в этой области оптических толщ меньше ослабленной интенсивности прямого излучения. Более подробный анализ закономерностей энергетического ослабления оптического и лазерного излучения в дисперсных средах на примере атмосферного аэрозоля будет проведен в следующих главах монографии. [c.49]

Таким образом, принципиально важная закономерность для способа ориентирования путем наблюдения навстречу лучу качественно состоит в том, что, чем меньше угловая расходимость и оптический диаметр лазерного пучка, тем меньше яркость фона многократно рассеянного излучения и соответственно тем больше предельная дальность сохранения яркостного контраста пучка. Преимущество лазерного пучка перед другими источниками излучения (точечными и прожекторными) определяется высокой концентрацией оптической энергии в малом угловом растворе при малом диаметре пучка. [c.159]

На больших оптических глубинах исследования существенно усложняются. В физических экспериментах сложность связана с малой величиной регистрируемых импульсных сигналов, а численное моделирование требует огромного объема расчетов. Однако при больших глубинах, как и для проходящих импульсов, можно воспользоваться рядом упрощающих решение задачи обстоятельств, в частности тем, что угловое распределение интенсивности многократно рассеянного излучения в этом случае близко к изотропному. Это обстоятельство позволяет получить асимптотические соотношения, описывающие пространственно-угловую структуру импульсного сигнала, в том числе и для отраженного импульса [2, б [c.169]

Аналогичные закономерности для поляризации сумеречного неба наблюдались и в других участках неба. Все эти общие закономерности легко объясняются влиянием трех факторов соотношением однократно и многократно рассеянного излучения, изменчивостью аэрозольного состава атмосферы, различной ролью эмиссионного свечения атмосферы в разные периоды сумерек. Так, представляется логичной интерпретация Г. В. Розенберга 23] минимумов на кривых поляризации в области зенитных расстояний 96—100° присутствием аэрозоля на соответствующих высотах, а убывание степени поляризации при углах более 102° увеличивающейся ролью неполяризованного свечения ночного неба. Сравнение результатов поляризационных измерений для различных участков спектра подтверждает такую интерпретацию. [c.194]

Результаты последующих измерений поляризационных характеристик отраженного излучения от искусственных туманов различной плотности с выделением потоков суммарного и только многократно рассеянного излучения [8] приведены на рис. 7.3. Указанное выделение удалось провести для схемы совпадающих оптических осей источника и приемника. Представляя суммарную яркость в виде суммы В2 = Во+Вм, для степени поляризации можно записать выражение [c.211]

В2.)/(В2, +В2.) = (Ро + Рм7)/(1 +7), (7.1) где Во и Ро — яркость и степень поляризации однократно рассеянного излучения Вм и Рм — то же для многократно рассеянного излучения у = ( м1 + Вм2)/(Во1 + 02) — отношение яркостей многократно и однократно рассеянного излучения. Результаты расчета Ро по формуле (7.1) на основании измерений у, Рм и Ре приведены на рис. 7.3 (кривая 3). Расчетные точки для Ро в пределах ошибок измерений и расчета совпадают со значением Ро = = 100 % для однократно рассеянного излучения. Приведенные данные подтверждают, что причиной уменьшения степени поляризации для рассеянного назад излучения с увеличением плотности среды является возрастающая роль эффектов многократного рассеяния, причем при больших коэффициентах ослабления к — [c.211]

Из сопоставления рис. 7.1 и 7.3 следует, что с уменьшением расстояния между источником и приемником степень поляризации регистрируемого отраженного излучения уменьшается, но остается больше, чем для многократно рассеянного излучения. Этот результат является следствием большей роли эффектов многократного рассеяния в областях, более удаленных от оси пучка. [c.212]

В пространстве, содержащем всего лишь несколько частиц, интенсивность рассеиваемого излучения приблизительно равна интенсивности излучения, рассеиваемого одной частицей, умноженной на количество частиц. При большой концентрации частиц становится существенным многократное рассеяние, т. е. рассеяние излучения дважды и более. [c.237]

В работах [102, 403] получены уравнения переноса энергии вдоль пучка лучей, в которых многократное рассеяние выражено через однократное. Авторы работы [851] рассчитали теплообмен излучением в одномерном слое. В работе [8101 приведен расчет теплового потока излучения для полубесконечного цилиндрического газового столба без учета рассеяния. Лав и Грош [504] принимали рассеивающую среду состоящей из сферических частиц одинакового диаметра, имеющих комплексный показатель преломления. Поскольку этот метод можно непосредственно применить к задаче о множестве сферических частиц, рассмотрим его несколько подробнее. Запишем уравнение переноса энергии вдоль пучка лучей в следующем виде [c.238]

Многократно рассеянное у-излучение в защите учитывается обычно использованием факторов накопления в экспоненциальном представлении В = Л е < -Ь (1—Л))е Ног J,дg [c.147]

Фиат (2) = Л/о [АСо(0о, Р 2) -ь (1 - Л,) Со (00. Е02)], 12.38) записанной вместо формулы (12.37), не учитывающей многократно рассеянное в защите излучение. [c.147]

Обратно рассеянное излучение (альбедо излучения) возникает при многократном рассеянии квантов в контролируемом объекте и поглотителе, расположенном за объектом. При этом часть рассеянного излучения выходит обратно из поглотителя и воздействует на детектор и обслуживающий персонал. С ростом атомного номера вещества отражающей среды обратно рассеянное излучение уменьшается примерно пропорционально Z2. Оно возрастает при косом падении излучения [c.9]

Наконец, за третью составляющую рассеяния излучения на частице можно принять его перераспределение по направлениям, обусловленное преломлением излучения, проходящего сквозь частицу, и иногда связанное с одно-или многократным внутренним отражением. [c.82]

За исключением спектров белых карликов в большинстве звёздных спектральных линий преобладает многократное рассеяние света радиац. переходы намного более вероятны, чем ударные. Это приводит к тому, что при количеств, анализе спектров прибегают в общем случае к весьма громоздким расчётам переноса излучения в спектральных линиях с перераспределением энергии по частоте. [c.62]

Эйлеров 67 Милна задача 237 Многократное рассеяние излучения [c.528]

Использование факторов накопления или длин релаксации в геометрии широкого пучка. Многократно рассеянное излучение источн кков нейтронов часто учитывается использованием длин релаксации, соответствующих ослаблению нейтронов в условиях широкого пучка, так как известно, что обычно при толщине защиты больше 1—2 длин релаксации ослабление нейтронов с учетом рассеянного излучения можно описать экспоненциальной зависимостью. При этом следует обращать внимание на начальный участок кривой ослабления в первые 1—2 длины релаксации. Если ослабление на этом участке не описывается экспоненциальной функцией с той же длиной ослабления, как и на больших толщинах защиты, то в расчеты следует вводить соответствующую поправку. [c.147]

Дифракция ЖР-иалучения на совершенном кристалле благодаря регулярному расположению атомов крис-таллич. структуры носит динаынч. характер (динамич. дифракция см. Дифракция рентгеновских лг/ней). Это означает, что многократное рассеяние излучения на кристаллич. плоскостях сохраняет свои когерентные свойства, в результате чего амплитуда дифраги-ров. Волн становится сравнимой с амплитудой проходящей волны. Интерференция дифрагированных и проходящей волн приводит к образованию результирующего волнового поля в кристалле, к-рое может быть представлено а виде суперпозиции волн, получивших назв.. блоховских. Эфф. длина блоховской волны в кристалле принимает значение от единиц до десятков мкм, что существенно снижает требования к изготовлению ревтгенооптич. влементов. [c.348]

Коновалов Н.В. Сушкевич Т.А. Об области применимости плоской модели в задачах о многократном рассеянии излучения в земной атмосфере // Изв. СССР. ФАО. [c.783]

Учет многократного рассеяния при распространении оптических волн в дисперсных средах представляет собой одну из тех сложных задач, которые являются предметом исследований во многих разделах физики. Сюда относятся и задачи квантовой электродинамики, и задачи рассеяния тепловых нейтронов и заряженных частиц, и задачи астрофизики и физики атмосферы и т. д. Впервые Фолди [36] поставил задачу о многократном рассеянии волн и решил ее для модели точечных изотропных и статистически независимых рассеивателей. В последующем этот теоретический подход получил развитие и к настоящему времени имеется ряд полезных результатов, в том числе по физической интерпретации уравнений переноса, давно применяемых при практическом учете многократного рассеяния излучения. [c.55]

Интерпретация эффекта Родионова обоснована Г. П. Гущиным [7] и рассматривается как частный случай эффектов многократ-ного рассеяния в атмосфере. Сущность этих эффектов состоит в том, что при больших зенитных расстояниях Солнца спектрофотометрические приборы с конечным углом зрения наряду с прямым излучением регистрируют многократно рассеянное излучение. Доля последнего зависит от оптической толщи атмосферы, которая в свою очередь увеличивается с уменьшением длины волны и увеличением зенитного расстояния Солнца. Подробный расчет в приближении двукратного рассеяния показывает [7], что учет многократного рассеяния объясняет все наблюдаемые типы спектрального хода прозрачности атмосферы даже без учета аэрозольного ослабления. Более того, разработанная в [7] модель эффектов многократного рассеяния позволила записать уточненную формулу закона Бугера для атмосферы, учитывающую спектральный поток рассеянного солнечного излучения, поступающего в измерительный прибор из его телесного угла зрения. Эта формула подобна уточненной формуле закона Бугера (2.22) для горизонтальных трасс. [c.181]

Более подробный анализ расчетных и экспериментальных данных приводит к выводу, который следует из табл. 6.1, а именно 23] в период полусумерек и полных сумерек основным фактором, обусловливающим яркость неба, является однократное рассеяние прямых лучей Солнца только в период глубоких сумерек доминирующим становится многократно рассеянное излучение, поэтому, с точки зрения извлечения информации о строении атмосферы, интерес представляют только полусумерки и полные сумерки. [c.193]

В томе I, изданном Атомиздатом в 1969 г., приведены общие сведения по физике защиты, безотносительно к определенным источникам. В их числе единицы радиоактивности, предельно допустимые уровни ионизирующих излучений, взаимодействие излучений с веществом, численные, аналитические и полуэмпи-рические методы расчета прохождения излучения в радиационной защите, характеристики поля первичного и многократно рассеянного у- и нейтронного излучений в источнике и в защитных средах, инженерно-физические методы расчета защиты. [c.5]

В работе [90] обоснована целесообразность применения поперечных волн со строгой поляризацией колебаний, заключающаяся в том, что при многократном рассеянии на границах зе рен плоскость поляризаи,ии изменяется сильнее, чем при однократном отражении от дефекта. Ei .nH приемник реагирует на упругие волны с той же поляризацией, что и излученные, можно ожидать увеличения отношения сигнал—помеха. Однако результаты экспериментов показали, что эффект этот не столь значителен и выигрыш в чувствительнос ги меньше, чем при использовании продольных волн вместо поперечных, [c.294]

Для исследования влияния рассеянного излучения на резкость изображения дефекта величина размытия определялась просвечипанисм эталонов различной толщины. При этом предполагалось, что если рассеянные лучи принимают участие в образовании изображения дефекта, то вследствие увеличения числа рассеянных квантов на больших толщинах их доля в размытии края изображения дефекта будет расти с увеличением толщины. С этой целью проводились многократные просвечивания того же клинообразного эталона, а величина размытия определялась в различных участках f-снимка. Это соответствовало толщине просвечиваемого металла L = 180, 150 и 120 мм. Экспозиции при просвечивании подбирались таким образом, чтобы одна и та же толщина клина давала снимки с одинаковыми плотностями почернения, то есть почерпоние фона различных снимков во всех случаях было бы примерно одинаковым и лежало в пределах D — 0,9—1,0. Проведение опытов в области плотностей почернения (лежащей ниже оптимальной плотности Д — 1,75 и с максимальной разностью почернения А/>), объясняется трудностью ми-крофотометриропания больших плотностей почернения. [c.343]

Оптич. свойства М. с. определяются явлениями ослабления проходящего излучения вследствие рассеяния и поглощения и взаимного облучения разл. объёмов М. с. рассеянным излучением. Взаимное облучение имеет когерентную и некогерентную части. Когерентная часть взаимного облучения неоднородностей ведёт к изменению эфф, эл.-магн, поля, в к-ром они находятся, а следовательно, и рассеянного ими ноля. Когерентная часть взаимного облучения и интерференция иа-л>-чений, рассеянных различными объёмами, относятся к т, н. кооперативным эффектам, к-рые ведут к отличию оцтич. свойств М. с. от оптич. свойств образующих её частиц. Некогерентная часть взаимного облучения неоднородностей или объёмов среды представляется в форме многократного рассеяния. [c.222]

Здесь щ — число атомов сорта в 1 см , 2,- — заряд ядра, Го — радиус электрона, а = 1/137 (хр выражево в см). С помощью Р. е. д. мн. сложные процессы — тормозное излучение, образование пар, кулоновское многократное рассеяние — записываются в простой форме. Напр,, тормозное излучение электронов в поле ядер не зависит от энергии е электрона [c.200]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...