Индицированне рентгенограмм кристаллов гексагональной системы

При индицировании рентгенограмм кристаллов гексагональной системы можно также применять метод разностей. Зависимость между sin fl и индексами для случая гексагональной структуры имеет вид [c.274]

Рис- 71. График Шварца и Сумма для индицирования рентгенограмм кристаллов гексагональной системы. [c.280]

Для больших индексов отражения и в ряде других случаев индицирование рентгенограмм кристаллов гексагональной системы удобно проводить по различным вариантам логарифмических графиков. [c.284]

Эти Графики применимы также для индицирования кристаллов ромбоэдрической системы в гексагональной системе индексов. При этом следует иметь в виду, что на рентгенограммах кристаллов ромбоэдрической системы отсутствуют линии, не удовлетворяющие условию [c.282]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...