Проблемы тестирования микросхем

Значительная часть компонентов компьютера реализована на больших интегральных схемах (БИС), благодаря которым законченные подсистемы компьютера поставляются в виде готовых блоков. Примером такого блока в виде БИС служит сам микропроцессор. По мере все большего уплотнения элементов в БИС проблемы их функционального тестирования резко усложняются. Любая БИС до поставки подвергается лишь ограниченному тестированию, а отказы могут проявиться при эксплуатации из-за возникновения комбинаций сигналов, которые не применялись в процессе тестирования, или таких изменений некоторого параметра компонента, которые вызывают нехарактерное поведение микросхемы. [c.36]

Чтобы показать проблемы тестирования БИС более наглядно, определим время, необходимое для тестирования типичной микросхемы. Для проверки такого сложного прибора, как микропроцессор, на каладую команду из его системы команд с учетом всех возможных двоичных наборов для каждой команды необходимое число тест-комбинаций определяется следующей формулой [c.39]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...