Параметры диффузного излучени

Параметры диффузного излучения. Когда плотность частиц настолько мала, что каждая частица видит стенку, с которой она обменивается энергией теплового излучения, Шпо можно представить просто в том виде, в каком этот параметр встречался ранее. [c.251]

В ранее использованной модели [163, 171] предполагалось, что элементарные слои, образующие стопу, имеют толщину, равную d, и их оптические характеристики принимались равными характеристикам частиц. Такая связь между свойствами элементарного слоя и образующих его частиц может быть использована по крайней мере в качестве первого приближения при плотной упаковке частиц. Если система частиц сохраняет высокую объемную концентрацию при неплотной упаковке, связь между параметрами элементарного слоя и образующих его частиц будет более сложной. Для расчета этой зависимости служит геометрическая модель элементарного слоя—двумерная модель дисперсной среды [177], в которой реальные частицы, расположенные случайным образом в одной плоскости, заменены системой регулярно расположенных в узлах плоской квадратной сетки с шагом 2ур сфер. В рамках геометрической оптики взаимодействие излучения с поверхностью не зависит от ее размеров [125], поэтому принято, что сферы имеют единичный радиус. Предполагается, что поверхность их диффузно отражающая, серая. Для расчета характеристик элементарного-слоя используется вспомогательная схема (рис. 4.1), образованная моделью 2 и двумя абсолютно черными плоскостями I и 3. Задав на а. ч. плоскости 1 поток излучения плотностью qb, можно найти коэффициенты отражения и пропускания модели rt и Т( по отношению потоков, попадающих на плоскости / и 5 после многократного отражения на частицах, образующих систему 2, к заданному потоку, а затем поглощательную способность и равную ей степень черноты. [c.149]

С зеркально отражающей поверхностью от кондуктивно-радиа-ционного параметра Ne подчиняется той же закономерности, что и для диффузно отражающих ребер. Однако значения эффективности зеркально отражающих ребер превышают аналогичные значения для диффузно отражающих ребер, причем это превышение более явно выражено при малых углах раскрытия и малых значениях степени черноты. Кривые достигают максимума при чисто кондуктивном переносе тепла (N >oo) эффективность ребра падает с уменьшением N (т. е. с ростом вклада излучения). [c.246]

Значения концентрации атомов цезия во всех случаях рассчитывались по соотношению Саха, в которое подставляли измеренные значения температуры Те и концентрации Пе электронов. Условия разряда были таковы, что возбуждался и ионизовался только цезий (в спектре излучения отсутствовали линии ртути). Те измерялась методом обращения линий диффузной серии, Пе — по ширине спектральных линий фундаментальной серии. Более подробно конструкция трубок и методы диагностики параметров плазмы описаны в [3]. [c.228]

В литературе описаны примеры расчета е круглой трубчатой полости с диффузно [1, 2] и зеркально [3, 4] отражающими стенками. В указанных работах проводится расчет средней по щели степени черноты трубки. Однако известно, что яркость отверстия зеркальной трубчатой полости неоднородна. Поэтому отдельные участки внутренней поверхности трубки, наблюдаемые через щель, могут иметь яркость как ниже, так и выше среднего значения. А ввиду сильной зависимости е зеркальных полостей ст направления излучения их степень черноты в конечном, даже небольшом, апертурном угле может значительно отличаться от е в среднем для данного угла направлении. Указанные факторы требуют внимательного анализа и обязательного учета в каждом конкретном случае. Целью такого анализа должно быть нахождение параметров полости и измерительной установки, при которых излучение, выходящее из щели и попадающее в измерительную установку, будет максимально или допустимо черным. [c.123]

Из (7-4) видно, что угловой коэффициент диффузного излучения элементарной поверхности dFi является чисто геометрическим параметром. Из уравнения (7-4) также следует, что геометрически подо бные системы поверхностей имеют одинаковые значения угловых коэффициентов. Уравнение (7-4) справедЛ Иво не только для диффузного эффективного излучения, но и для диффузного собственного и отраженного излучений. [c.90]

Биркбэк и др. [13] определяли экспериментально диффузную составляющую отражательной способности для металлических поверхностей с заданной однородной шероховатостью. Испытуемые поверхности подготавливались путем осаждения пленок чистого алюминия, золота, платины и никеля на образцы из стекла и никеля. Отношения полусферически-направленной отражательной способности шероховатой поверхности к полусферически-направленной отражательной способности идеальной поверхности (Л = 0,003 мкм) Tdro же материала измерялись при значениях параметра шероховатости h/X как меньше, так и больше единицы и при различных углах падения излучения. [c.86]

Между тем возможность гологра< ровання в многомодовом излучении представляет существенный практический интерес, особенно в тех случаях, когда геометрические параметр объектов и самой схемы требуют использования излучения с максимально достижимой мощностью. Обычно неоднородность поля многомодового излучения в объектном пучке без труда устраняется при его диффузном рассеянш. Однако такое же рассеяние опорного пучка обычно оказывается невозможным, поскольку оно эквивалентно использованию протяженного опорного источника со всеми вытекающими отсюда последствиями. [c.45]

Геометрические параметры экспериментальной установки подбирались таким о азом, чтобы на объект попадало достаточно большое число поперечных мод. Сфокусированные голограммы регистрировались с единичным увеличением и после фотохимической о аботки отбеливались. Производилась также контрольная регистрация голограмм с нерассеянным опорным пучком (в схеме рис. 21, 5 удален диффузор). Восстановление изображений проводилось в излучении того же лазера и в белом свете лампы накаливания. В случае, когда голограммы сфокусированных изо а-жений регистрировались в многомодовом излучении без диффузного рассеяния опорного пучка, наблюдались искажения восстановленных изображекшй, имеющие вид темных пяген (разрывов), количество и густота которых зависела от числа генерируемых поперечных мод. Однако в отличие от случая регистрации в тех же условиях голограмм Френеля, изменение позиции наблюдателя (смещение точки наблюдения) при реконструкции практически не приводит к изменению конфигурации разрывов в восстановленном изображении - картина привязана к шюскости голограммы сфокусированного изо ажения. [c.51]

Задачу для одного слоя в приближении фазовой решетки заново сформулировали Каули и Меррей [90]. Когда проектируется распределение потенциала в слое, то максимумы спроектированного потенциала изменяются в зависимости от числа атомов любого сорта в атомных рядах в направлении падающего пучка. При подстановке этих максимумов в комплексную экспоненту функции прохождения для фазовой решетки рассеяние уже не будет линейной функцией числа и сорта атомов. Амплитуды рассеянного излучения будут зависеть от вероятности встретить, скажем, линии из трех или четырех атомов золота. Резкие основные отражения будут модифицироваться псевдотемпературным фактором (см. гл. 12), который, как в случае интенсивностей диффузного рассеяния, будет зависеть от значений отдельных параметров многоатомной корреляции. [c.387]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...