Дебая-Шеррера

Метод порошка (метод Дебая — Шеррера). Для исследования структуры поликристаллов используют монохроматическое излучение длины волны X. Съемку рентгенограмм производят ли-<6q на плоскую фотопленку, как в методе Лауэ (рис. 1.43), либо на пленку, расположенную на внутренней поверхности цилиндрической камеры, в центре которой установлен образец. В каче-.52 [c.52]

Метод порошков Дебая-Шеррера 3—166 [c.243]

Если мы имеем один монокристалл (см. стр. 156), то для получения отражения от какой-либо плоскости (кк1) этот кристалл надо облучать белым" рентгеновским излучением, в составе которого всегда найдётся такая длина волны X, которая будет удовлетворять уравнению (19). В методе порошков (Дебая-Шеррера) применяется не белое, а монохроматическое (характеристическое, см. стр. 154) излучение и в качестве образца не один монокристалл, а порошок (или другой агрегат), состоящий из множества мельчайших монокристалликов величиной не более 10 см, беспорядочно ориентированных в пространстве. В виде образца для исследования в случае пластичных металлов или сплавов может служить проволочка диаметром 0,2-0,5 мм и длиной около 5— 7 мм. Если пропускать параллельный пучок рентгеновых лучей через такой порошковый образец О (фиг. 56), то в нём всегда найдётся большое число монокристальных крупинок, в которых данная плоскость (кк1) будет ориентирована по отношению к направлению луча под брэгговским углом 6. В то же время все эти попадающие под условие отражения плоскости (Нк11 не будут параллельны между собой в различных крупинках, поэтому в сумме все отражённые лучи дадут конус отражения с характерным для данной плоскости кк1) [c.166]

МЕТАЛЛОФИЗИКА — раздел физики, в котором изучаются структура и свойства металлов МЕТОД [аналогии состоит в изучении какого-либо процесса путем замены его процессом, описываемым таким же дифференциальным уравнением, как и изучаемый процесс векторных диаграмм служит для сложения нескольких гармонических колебаний путем представления их посредством векторов встречных пучков используется для увеличения доли энергии, используемой ускоренными частицами для различных ядерных реакций Дебая — Шеррера применяется при исследовании структуры монохроматических рентгеновских излучений затемненного поля служит для наблюдения частиц, когда направление наблюдения перпендикулярно к направлению освещения Лагранжа в гидродинамике состоит в том, что движение жидкости задается путем указания зависимости от времени координат всех ее частиц ин1 ерференционного контраста служит для получения изображений микроскопических объектов путем интерференции световых воли, прошедших и не прошедших через объект меченых атомов состоит в замене атомов исследуемого вещества, участвующего в каком-либо процессе, их радиоактивными изотопами моделирования — метод исследования сложных объектов, явлений или процессов на их моделях или на реальных установках с применением методов подобия теории при постановке и обработке эксперимента статистический служит для изучения свойств макроскопических систем на основе анализа, с помощью математической статистики, закономерностей теплового движения огромного числа микрочастиц, образующих эти системы совнадений в ядерной физике состоит в выделении определенной группы одновременно происходящих событий термодинамический служит для изучения свойств системы взаимодействующих тел путем анализа условий и количественных соотношений происходящих в системе превращений энергии Эйлера в гидродинамике заключаегся в задании поля скоростей жидкости для кинематического описания г чения жидкости] [c.248]

Лит. см. при ст. Дебая— Шеррера метод. [c.572]

Раснределенпе интенсивности Ii(Q) Д. р- р- л. кристаллом в широкой области значений Q, соответствующих всей элементарной ячейке обратной решётки или нескольким ячейкам, содержит детальную информацию о характеристиках кристалла и его несовершенствах. Экспериментально I iQ) может быть получено с помощью метода, использующего моиохроматич, рентгеновское излучение и позволяющего поворачивать кристалл вокруг разных осей и изменять направления волновых векторов ki, к , варьируя, т. о., Q в широком интервале значений. Менее детальная информация может быть получена Дебая — Шеррера методом или Лауэ методом, [c.691]

П. можно использовать для определения кристаллич. структуры соответствующих монокристаллов при облучении П. монохромагич. пучком проникающих частиц (рентгеновских квантов, нейтронов) наличие разо-риентированных монокристаллич. блоков фактически эквивалентно сканированию по углу и позволяет восстановить обратную решётку монокристалла (см. Дебая — Шеррера метод, Рентгенография материалов. Нейтронография структурная). [c.14]

При построении первого изотермического сечения системы, показанной на рис. 225, сначала следует снять с помощью камеры Дебая — Шеррера рентгенограммы фаз X, У, Z и U7, сверхструктуры в системе В — С и рентгенограммы твердых растворов, образованных на основе металлов А, В и С. Рентгенограмма должна быть сначала снята на отфильтрованном излучении Ка с такой длиной волны, чтобы исключалось аномальное рассеивание в области полосы поглощения. Рентгенограммы 2- или 3-фазных сплавов часто содержат так много ли- ций, что желательно вообще не иметь К -линий на рентгено- [c.358]

Двойниковые кристаллы 230 Двойной эвтектики, поверхности 136 Дебая—Шеррера камеры, высокотемпературные 276 Дебая — Шеррера метод 251 Диаграммы равновесия 7 [c.393]

Электронные лучи при прохождении через кристалл преломляются подобно рентгеновским. На рис. 10 приведено дифракционное изображение, похожее на диаграмму Дебая—Шеррера, полученное при просвечивании беспорядочно ориентированных частиц препарата. По диаметру колец при известном расстоянии между препаратом и фотопластинкой и известной длине волны, которая зависит от напряжения излучения, можно рассчитать расстояние d между атомными плоскостями. Зная величину d, можно определить в препарате природу кристаллических компонентов. В связи с тем что у электронного излучения короткие волны, например всего 0,0042 нм (0,042 А) при напряжении в 80 кв, получают четкое дифракционное изображение, а на рентгенограм- [c.26]

Значительно благоприятнее рентгенографическое исследование. Так как при рентгенографическом исследовании бокситов в основном нужно определить минералы, кристаллические структуры которых уже известны, то на практике применяют только порошковый метод Дебая—Шеррера. На рис. 12 представлена рентгенограмма французского боксита, которая снята при Со—К-излучении с фильтром и экспозицией в течение 20 ч. [c.28]

Отражения описывают ряд конических поверхностей, которые пересекают цилиндрическую пленку и образуют кольца Дебая—Шеррера. Используется при определении параметров решетки и фазовом анализе. [c.157]

Дальний порядок 16 Двойники 179 Двойниковавие 87, 93 Дебая — Шеррера метод 156 Декантация 349 Десульфурация 334 Детекторы 210 [c.475]

В последние годы большой интерес вызывают многокомпонентные наноструктурные пленки, обладающие уникальным комплексом физико-механических свойств. Эти объекты, как правило, состоят из смеси нескольких кристаллических фаз, внедренных в аморфную матрицу. Получение изображения с индивидуального кристаллита является важной, но довольно трудной задачей. Средний размер нанокристаллитов обычно определяют или из полуширины дифракционных линий на рентгенограмме с помощью формулы Дебая—Шеррера, либо по методу темнопольных (ТП) изображений. Однако первый метод, особенно в случае наноструктур, может приводить к значительным погрешностям вследствие эффекта уширения дифракционных максимумов и их сложной формы. Это связано с вкладом целого ряда факторов, таких как суперпозиция дифракционных линий от нескольких фаз, присутствие нанокристаллитов переменного состава с различными параметрами кристаллической решетки, наличие макро- и микронапряжений. Размер нанокристаллитов, определенный по методу ТП изображений, хорошо подтверждается прямыми наблюдениями при проведении ПЭМ ВР. Однако следует помнить, что в случае наноразмерного масштаба порядка 1 нм и менее размер кристаллитов совпадает с размером светлых областей на ТП изображении, соответствующих аморфному контрасту, что не позволяет однозначно интерпретировать результаты. Размер этих областей обычно составляет 0,5...1,5 нм и зависит от величины дефокусировки. Отметим, что в литературе нет однозначного ответа на вопрос, какой материал, исходя из экспериментально полученных результатов, действительно считать аморфным. Иногда для описания аморфного состояния вещества [c.490]

Рентгенограмма металлического порошка снята в рентгеновской камере Дебая—Шеррера на излучении молибдена Ка (Я = 0,7107 А). Для первых шести наблюдаемых линий дебаев-ские углы е оказались равными 7,35 7,82 8,33 10,7 12,8 и 13,9°. [c.10]

В некоторых структурах в зависимости от положения атомов в решетке и кристаллографического направления имеется значительное различие в действительных расстояниях между парами атомов по сравнению с минимально возможными расстояниями между ними. Для изучения этого необходим более сложный анализ, включаюш,ий определение всех средних межатомных расстояний. Хорошим примером может слуя ить структура цементита, представленная на фиг. 8. В элементарной ячейке этой структуры имеются различные расстояния между атомами железа и углерода. Для определения этих расстояний, помимо расчета рентгенограммы, снятой по методу Дебая — Шеррера, и определения периодов решетки, необходимо изучить такн е интенсивности линий на рентгенограмме. [c.165]

ЧТО может привести к ошибке при определении периода решетки. Поскольку нельзя предполагать, что опилки после отжига имеют тот же химический состав, что и исхедная отливка, то на этой стадии исследования их следует подвергнуть химическому анализу этот анализ будет характеризовать состав опилок, действительно выдержанных в камере под рентгеновскими лучами. Из небольшого количества опилок после их просеивания через тонкое проволочное сито для отделения более крупных частиц (во избежание получения несплошных дифракционных линий на рентгенограммах) готовят соответствующий образец для исследования рентгеновским методом. Затем по рентгенограммам, полученным в камере Дебая — Шеррера, определяют периоды решетки при съемке рентгенограмм используют излучение, даюш,ее дифракционные линии под большими брэгговскими углами, поскольку это обеспечивает максимальную точность измерений. [c.101]

Фазовый анализ продуктов окисления проводился рентгенографической съемкой с плоских образцов (съемка под 90°) и с порошковых цилиндров в камере Дебая-Шеррера на СиК излучении. [c.127]

Изменение модификаций можно установить различными методами. Они основаны на различии физических, химических или других свойств обеих фаз. Метод, который используется наиболее часто, состоит в рентгенографическом определении структуры, которое дает точные параметры обеих структур. Однако часто достаточно определить ориентировки методами Дебая — Шеррера, Лауэ или с помощью ионизационных гониометрических снимков, чтобы установить точку превращения. Другой метод основан на изменении цвета, которое особенно проявляется у соединений ртути. Поэтому некоторые соеди- [c.185]

Периодические методы. Надежным методом обнаружения продукта реакции является рентгенографическое определение фаз различными способами (например, методами Дебая — Шеррера, Гинье). Применение ноппза-ционных гониометров, при использовании которых нет необходимости в длительной экспозиции (как в методах, основанных на почернении фотопленки), делает возмож- [c.420]

Дебая — Шеррера метод 185 [c.474]

Рис. 1. Разрез (схематический) камеры Дебая — Шеррера (рисунок не в масштабе)

В настоящей работе эксперименты проводили в камере Дебая — Шеррера на хромовой проволоке высокой чистоты с содержанием кислорода 0,020—0,025% (вес.) и азота 0,003% (вес.), поставленной лабораторией Defen e Standards (Мельбурн, Австралия). Съемку проводили в атмосфере аргона при температурах 1080, 1240, 1700, 1735 и 1800° С, при этом не было получено никаких данных, свидетельствующих о наличии какой-либо другой структуры, кроме о. ц. к. При 1800° С образец настолько быстро испарялся, что происходило уменьшение сечения образца и примерно через 3 мин он разрушался. Поэтому при 1800° С на одну пленку последовательно делали съемку с шести разных образцов, после чего регистрировали отражения (110), (200) и (211) о. ц. к. структуры. При более низких температурах удовле- [c.242]

Поэтому в 1940 г. хМахла, основываясь на работах Глокера и его сотрудников, пытался измерить собственные напряжения в слоях меди рентгеновским методом, причем отклонения по величине постоянной решетки он определял, пользуясь кольцом Дебай-Шеррера. Этот метод впервые открывал возможность исследования влияния различных составов материала и состояний его структуры на образование внутренних напряжений в гальванических покрытиях. Способ обработки данных рентгеновского метода для измерения собственных напряжений был, однако, слишком сложным и дорогим, чтобы он мог получить нужное распространение. [c.175]

Метод Дебая—Шеррера [c.138]

С помощью метода Дебая—Шеррера провести рентгенографическое исследование образца, изготовленного в виде стержня из определенного металлического материала. По виду рентгеновских рефлексов определить состояние вещества, постоянные решетки и ее тип [22, с. 114—142 23, с. 210—235 24, с. 145—158]. [c.138]

Установка для микрорентгеноструктурного анализа с рентгеновской трубкой и фильтрами, камера Дебая—Шеррера (К = = 28,65 мм для нейтрального волокна пленки), электродвигатель 138 [c.138]

Рис. 66. Принципиальная схема камеры Дебая —Шеррера

Рис. 68. Схема облучения фотопленки в камере Дебая —Шеррера

РЕЗУЛЬТАТЫ СЪЕМКИ ПО МЕТОДУ ДЕБАЯ—ШЕРРЕРА [c.145]

На нормализованной медной проволоке провести прецизионное определение параметров кристаллической решетки. В камере Дебая-Шеррера с медным анодом (никелевый фильтр) снять рентгенограмму образца на асимметрично установленную фотопленку и произвести ее оценку, т. е. определить угол отражения, милле-ровские индексы и постоянную кристаллической решетки [22, с. 114—142 23, с. 221—235 24, с. 145—158]. [c.147]

Установка микрорентгеноструктурного анализа с рентгеновской трубкой и фильтрами, камера Дебая—Шеррера для цилиндрических кассет радиусом 28,65 мм, электродвигатель для вращения [c.147]

Методу Дебая—Шеррера присущ существенный недостаток точность определенных по этому методу постоянных кристаллической решетки в лучшем случае не превышает 0,2. Эта неточность [c.148]

Повышению точности способствует также корректировка поглощения образца. Теоретические основы этого метода такие же, что н для метода Дебая—Шеррера (опыт 23). [c.148]

В отличие от съемок по методу Дебая—Шеррера следует с помощью юстировочного микроскопа произвести тщательную юстировку. Пленка должна быть подготовлена и установлена в камеру [c.148]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...