Дебая — Шеррера метод

Лит. см. при ст. Дебая— Шеррера метод. [c.572]

Раснределенпе интенсивности Ii(Q) Д. р- р- л. кристаллом в широкой области значений Q, соответствующих всей элементарной ячейке обратной решётки или нескольким ячейкам, содержит детальную информацию о характеристиках кристалла и его несовершенствах. Экспериментально I iQ) может быть получено с помощью метода, использующего моиохроматич, рентгеновское излучение и позволяющего поворачивать кристалл вокруг разных осей и изменять направления волновых векторов ki, к , варьируя, т. о., Q в широком интервале значений. Менее детальная информация может быть получена Дебая — Шеррера методом или Лауэ методом, [c.691]

П. можно использовать для определения кристаллич. структуры соответствующих монокристаллов при облучении П. монохромагич. пучком проникающих частиц (рентгеновских квантов, нейтронов) наличие разо-риентированных монокристаллич. блоков фактически эквивалентно сканированию по углу и позволяет восстановить обратную решётку монокристалла (см. Дебая — Шеррера метод, Рентгенография материалов. Нейтронография структурная). [c.14]

Двойниковые кристаллы 230 Двойной эвтектики, поверхности 136 Дебая—Шеррера камеры, высокотемпературные 276 Дебая — Шеррера метод 251 Диаграммы равновесия 7 [c.393]

Дальний порядок 16 Двойники 179 Двойниковавие 87, 93 Дебая — Шеррера метод 156 Декантация 349 Десульфурация 334 Детекторы 210 [c.475]

Понимание многих факторов, влияющих на свойства и устойчивость твердых растворов, основывается на точном определении их периодов решетки. Около 30 лет назад Дебаем и Шеррером был введен в практику исследования метод порошка, позволяющий с большой точностью определять значения периодов решетки. [c.185]

Дебая — Шеррера метод 185 [c.474]

ПРЕЦИЗИОННЫЕ МЕТОДЫ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА для определения периода кристаллич. решетки — видоизменение Дебая — Шеррера метода. Эти методы основаны на том, что относительная ошибка измерения межплоскостного расстояния в кри- [c.196]

Дебая — Шеррера метод). [c.419]

Порошковый метод (метод Дебая— Шеррера). Метод Дебая —Шеррера эквивалентен методу вращающегося кристалла, с тем отличием, что теперь ось вращения не фиксирована, а имеет все возможные направления. Практически изотропное усреднение по направлениям падения достигается за счет применения поликристаллического образца или же порошка, зерна которого все еще имеют огромные размеры по атомным масштабам и способны поэтому обусловливать дифракцию рентгеновских лучей. Поскольку кристаллические оси отдельных зерен ориентированы случайным образом, дифракционная картина для порошка совпадает с той, крторая получилась бы при объединении дифракционных картин, относящихся ко всем возможным ориентациям монокристалла. [c.111]

Определение числа, размеров и разориентировки кристаллитов. Размеры кристаллитов поликрист, материалов существенно влияют на их механич. св-ва. Число N достаточно крупных ( 0,5—5 мкм) кристаллитов, участвующих в отражении рентг. лучей, определяется числом п точечных рефлексов, составляющих дебаевское кольцо рентгенограммы (см. Дебая — Шеррера метод) N = 2nla os 0, где а — пост, величина (параметр аппаратуры), 0 — брэгговский угол. Средний объём кристаллита — отношение объёма образца к N. [c.645]

Метод порошка (метод Дебая — Шеррера). Для исследования структуры поликристаллов используют монохроматическое излучение длины волны X. Съемку рентгенограмм производят ли-<6q на плоскую фотопленку, как в методе Лауэ (рис. 1.43), либо на пленку, расположенную на внутренней поверхности цилиндрической камеры, в центре которой установлен образец. В каче-.52 [c.52]

Метод порошков Дебая-Шеррера 3—166 [c.243]

Если мы имеем один монокристалл (см. стр. 156), то для получения отражения от какой-либо плоскости (кк1) этот кристалл надо облучать белым" рентгеновским излучением, в составе которого всегда найдётся такая длина волны X, которая будет удовлетворять уравнению (19). В методе порошков (Дебая-Шеррера) применяется не белое, а монохроматическое (характеристическое, см. стр. 154) излучение и в качестве образца не один монокристалл, а порошок (или другой агрегат), состоящий из множества мельчайших монокристалликов величиной не более 10 см, беспорядочно ориентированных в пространстве. В виде образца для исследования в случае пластичных металлов или сплавов может служить проволочка диаметром 0,2-0,5 мм и длиной около 5— 7 мм. Если пропускать параллельный пучок рентгеновых лучей через такой порошковый образец О (фиг. 56), то в нём всегда найдётся большое число монокристальных крупинок, в которых данная плоскость (кк1) будет ориентирована по отношению к направлению луча под брэгговским углом 6. В то же время все эти попадающие под условие отражения плоскости (Нк11 не будут параллельны между собой в различных крупинках, поэтому в сумме все отражённые лучи дадут конус отражения с характерным для данной плоскости кк1) [c.166]

МЕТАЛЛОФИЗИКА — раздел физики, в котором изучаются структура и свойства металлов МЕТОД [аналогии состоит в изучении какого-либо процесса путем замены его процессом, описываемым таким же дифференциальным уравнением, как и изучаемый процесс векторных диаграмм служит для сложения нескольких гармонических колебаний путем представления их посредством векторов встречных пучков используется для увеличения доли энергии, используемой ускоренными частицами для различных ядерных реакций Дебая — Шеррера применяется при исследовании структуры монохроматических рентгеновских излучений затемненного поля служит для наблюдения частиц, когда направление наблюдения перпендикулярно к направлению освещения Лагранжа в гидродинамике состоит в том, что движение жидкости задается путем указания зависимости от времени координат всех ее частиц ин1 ерференционного контраста служит для получения изображений микроскопических объектов путем интерференции световых воли, прошедших и не прошедших через объект меченых атомов состоит в замене атомов исследуемого вещества, участвующего в каком-либо процессе, их радиоактивными изотопами моделирования — метод исследования сложных объектов, явлений или процессов на их моделях или на реальных установках с применением методов подобия теории при постановке и обработке эксперимента статистический служит для изучения свойств макроскопических систем на основе анализа, с помощью математической статистики, закономерностей теплового движения огромного числа микрочастиц, образующих эти системы совнадений в ядерной физике состоит в выделении определенной группы одновременно происходящих событий термодинамический служит для изучения свойств системы взаимодействующих тел путем анализа условий и количественных соотношений происходящих в системе превращений энергии Эйлера в гидродинамике заключаегся в задании поля скоростей жидкости для кинематического описания г чения жидкости] [c.248]

Значительно благоприятнее рентгенографическое исследование. Так как при рентгенографическом исследовании бокситов в основном нужно определить минералы, кристаллические структуры которых уже известны, то на практике применяют только порошковый метод Дебая—Шеррера. На рис. 12 представлена рентгенограмма французского боксита, которая снята при Со—К-излучении с фильтром и экспозицией в течение 20 ч. [c.28]

В последние годы большой интерес вызывают многокомпонентные наноструктурные пленки, обладающие уникальным комплексом физико-механических свойств. Эти объекты, как правило, состоят из смеси нескольких кристаллических фаз, внедренных в аморфную матрицу. Получение изображения с индивидуального кристаллита является важной, но довольно трудной задачей. Средний размер нанокристаллитов обычно определяют или из полуширины дифракционных линий на рентгенограмме с помощью формулы Дебая—Шеррера, либо по методу темнопольных (ТП) изображений. Однако первый метод, особенно в случае наноструктур, может приводить к значительным погрешностям вследствие эффекта уширения дифракционных максимумов и их сложной формы. Это связано с вкладом целого ряда факторов, таких как суперпозиция дифракционных линий от нескольких фаз, присутствие нанокристаллитов переменного состава с различными параметрами кристаллической решетки, наличие макро- и микронапряжений. Размер нанокристаллитов, определенный по методу ТП изображений, хорошо подтверждается прямыми наблюдениями при проведении ПЭМ ВР. Однако следует помнить, что в случае наноразмерного масштаба порядка 1 нм и менее размер кристаллитов совпадает с размером светлых областей на ТП изображении, соответствующих аморфному контрасту, что не позволяет однозначно интерпретировать результаты. Размер этих областей обычно составляет 0,5...1,5 нм и зависит от величины дефокусировки. Отметим, что в литературе нет однозначного ответа на вопрос, какой материал, исходя из экспериментально полученных результатов, действительно считать аморфным. Иногда для описания аморфного состояния вещества [c.490]

В некоторых структурах в зависимости от положения атомов в решетке и кристаллографического направления имеется значительное различие в действительных расстояниях между парами атомов по сравнению с минимально возможными расстояниями между ними. Для изучения этого необходим более сложный анализ, включаюш,ий определение всех средних межатомных расстояний. Хорошим примером может слуя ить структура цементита, представленная на фиг. 8. В элементарной ячейке этой структуры имеются различные расстояния между атомами железа и углерода. Для определения этих расстояний, помимо расчета рентгенограммы, снятой по методу Дебая — Шеррера, и определения периодов решетки, необходимо изучить такн е интенсивности линий на рентгенограмме. [c.165]

ЧТО может привести к ошибке при определении периода решетки. Поскольку нельзя предполагать, что опилки после отжига имеют тот же химический состав, что и исхедная отливка, то на этой стадии исследования их следует подвергнуть химическому анализу этот анализ будет характеризовать состав опилок, действительно выдержанных в камере под рентгеновскими лучами. Из небольшого количества опилок после их просеивания через тонкое проволочное сито для отделения более крупных частиц (во избежание получения несплошных дифракционных линий на рентгенограммах) готовят соответствующий образец для исследования рентгеновским методом. Затем по рентгенограммам, полученным в камере Дебая — Шеррера, определяют периоды решетки при съемке рентгенограмм используют излучение, даюш,ее дифракционные линии под большими брэгговскими углами, поскольку это обеспечивает максимальную точность измерений. [c.101]

Изменение модификаций можно установить различными методами. Они основаны на различии физических, химических или других свойств обеих фаз. Метод, который используется наиболее часто, состоит в рентгенографическом определении структуры, которое дает точные параметры обеих структур. Однако часто достаточно определить ориентировки методами Дебая — Шеррера, Лауэ или с помощью ионизационных гониометрических снимков, чтобы установить точку превращения. Другой метод основан на изменении цвета, которое особенно проявляется у соединений ртути. Поэтому некоторые соеди- [c.185]

Периодические методы. Надежным методом обнаружения продукта реакции является рентгенографическое определение фаз различными способами (например, методами Дебая — Шеррера, Гинье). Применение ноппза-ционных гониометров, при использовании которых нет необходимости в длительной экспозиции (как в методах, основанных на почернении фотопленки), делает возмож- [c.420]

Поэтому в 1940 г. хМахла, основываясь на работах Глокера и его сотрудников, пытался измерить собственные напряжения в слоях меди рентгеновским методом, причем отклонения по величине постоянной решетки он определял, пользуясь кольцом Дебай-Шеррера. Этот метод впервые открывал возможность исследования влияния различных составов материала и состояний его структуры на образование внутренних напряжений в гальванических покрытиях. Способ обработки данных рентгеновского метода для измерения собственных напряжений был, однако, слишком сложным и дорогим, чтобы он мог получить нужное распространение. [c.175]

Метод Дебая—Шеррера [c.138]

С помощью метода Дебая—Шеррера провести рентгенографическое исследование образца, изготовленного в виде стержня из определенного металлического материала. По виду рентгеновских рефлексов определить состояние вещества, постоянные решетки и ее тип [22, с. 114—142 23, с. 210—235 24, с. 145—158]. [c.138]

РЕЗУЛЬТАТЫ СЪЕМКИ ПО МЕТОДУ ДЕБАЯ—ШЕРРЕРА [c.145]

Методу Дебая—Шеррера присущ существенный недостаток точность определенных по этому методу постоянных кристаллической решетки в лучшем случае не превышает 0,2. Эта неточность [c.148]

Повышению точности способствует также корректировка поглощения образца. Теоретические основы этого метода такие же, что н для метода Дебая—Шеррера (опыт 23). [c.148]

В отличие от съемок по методу Дебая—Шеррера следует с помощью юстировочного микроскопа произвести тщательную юстировку. Пленка должна быть подготовлена и установлена в камеру [c.148]

Метод обратной съемки является разновидностью метода Дебая—Шеррера. Принцип его заключается в том, что источник излучения и пленка представляют собой практически одно целое. Вследствие высокой чувствительности съемки в отраженном излучении этот метод особенно пригоден для определения малейших изменений размеров кристаллической решетки образца. В соответствии с этим отраженное излучение прежде всего применяется для определения фазового состава твердых растворов, а также упругих напряжений. Преимуществом этого метода является то, что рефлексы и 2 наблюдаются раздельно (расщепление ван-Аркеля) и таким же образом можно проводить их измерения. Недостаток метода заключается в том, что из-за незначительной проникающей способности рентгеновских лучей может быть исследована лишь структура поверхности. Чтобы устранить возможные повреждения поверхности в результате механической обработки, ее перед началом съемки следует слегка протравить. На практике нашли применение две разновидности этого метода плоской пленки по Заксу и Вертсу и конусной пленки по Реглеру. Наиболее широко распространенным является метод плоской пленки, поэтому более подробно рассмотрим лишь этот метод. [c.152]

Задача 1-9. Расскажите о порошковом методе рентгеноструктурного анализа Дебая — Шеррера и о принципе действия рентгеновского дифрактометра. [c.37]

Ответ. При использовании метода рентгеиоструктурного анализа, основанного на вращении кристалла, необходимо иметь монокристалл подходящих размеров. Кроме того, чтобы удовлетворялись условия применения формулы (1-3-21), монокристалл должен быть ориентирован определенным образом по отношению к направлению облучающего его рентгеновского потока. Это вызывается тем, что интерференция наблюдается только для определенного положения монокристалла. Так называемый метод Дебая— Шеррера основан иа использованнн поликристаллических тел или порошковых веп1еств н носит также название порошкового метода. Этот метод основан на использовании эффекта, возникающего под действием облучения рентгеновскими лучами кристаллического порошка, зерна которого имеют беспорядочную ориентацию. Среди массы зерен порошка, естественно, существуют такие, ориентация которых соответствует условиям фор.мулы Брэгга (1-3-21) для определенных значений периода ль и угла 0. Рентгеновский луч, отраженный таким кристаллическим порошком, концентрируется в конусе, половина угла при вершине которого равна 20, а направление этого луча совпадает с направлением центральной оси конуса (рис. 1-3-8). Следовательно, если поместить фотопленку в плоскость, перпендикулярную к облучающим рентгеновским лучам, то под их действием от каждой отдельной сетчатой плоскости на фотопластинке возникнут концентрические окружности. Такие окружности называют кольцами Дебая. [c.37]

Рис. 1-3-8. Метод Дебая — Шеррера.

Метод Дебая-Шеррера-Хёлла (метод порошков). Образец для исследования является мелкокристаллич. агрегатом. При достаточной малости величины кристалликов последние имеют какую угодно ориентацию, т. е. полюсы любой грани лежат во всех точках сферы, а следовательно и на отражающем круге. Т. о. для каждой грани мы получим отраженные лучи. Так как весь отражающий круг для данной грани в этом случае заполнен полюсами, то все отраженные от этой грани лучи идут по образуюшим конуса с осью КО1 и углом 2<р (фиг. 1). Каждой грани (/ 1 / 2 с расстоянием между плоскостями соответствует свой конус отраженных лучей с углом На пластинке, [c.314]

Применения Р. а. Возможность определения взаимного расположения атомов в кристаллах сделала P.a. весьма мощным орудием для изучения как структуры твердого тела, так и процессов, происходящих в нем. Весьма плодотворно оказалось применение Р. а. в металлографии. Возможность каждую фазу характеризовать определенной решеткой, возможность замечать весьма малые изменения параметров, происходящие наприм. при обравовании твердых растворов, обеспечивали широкое поле деятельности для методов Р. а. при изучении строения сплавов и тех изменений в их строении, которые возникают при термической обработке сплава. В этой области применяется гл. обр. метод Дебая-Шеррера, а в последнее время, с развитием выращивания монокристаллов металлов и твердых растворов, и др. методы. Большие возможности открыл Р. а. для изучения пластич. деформации, позволив определять без труда плоскости и направление скольжения при деформации монокристаллов, определять ориентацию (текстуру) кристаллитов, возникающую при волочении проволок или прокатке металла и т. п. Для изучения волокнистой структуры, образующейся при механич. обработке металла (протяжка, вальцовка), а также волокнистых структур органич. веществ (целлюлозы), методы Р. а., описанные выше, были видоизменены в соответствующем направлении. Зависимость ширины интерференционных максимумов от величины кристаллов позволила определить величину кристалликов субмикроскопич. размеров, что нашло себе применение в коллоидной химии. [c.317]

Более сложен, но дает лучшую информацию металлографический анализ, для которого приготовляют мнкрошлифы после отжига в водороде примерно при 1 000° С в течение 10 мин (рис. 6-1-11,6) и после кратковременного охлаждения до —80° С (рис, 6-1-11,с). Рентгеновский анализ по методу Дебая — Шеррера также значительно облегчает контроль ковара [Л. 46, 101]. [c.204]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...