ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Пластические деформации толстостенных цилиндров под действием внутреннего давления из "Сопротивление материалов Том 2 " ДЕФОРМАЦИИ ЗА ПРЕДЕЛОМ УПРУГОСТИ. [c.322] Имея это давление, мы можем леУко вычислить напряжения в любой точке в упругой области стенки, пользуясь формулами, подобными формулам. а) ). [c.324] Обратившись к нашему предыдущему примеру, где Ь = 2а и положив сж=1,5а, мы найдем из уравнения (5 89), что = 0,624 (2 т ). [c.324] При г 5= с первый член правой части уравнения обращается в нуль, и значение становится равным значению окружного напряжения, вызываемого давлением X в смежной упругой зоне стенки. Выражения (289) и (290) дают напряжения, возникающие во внутренней части стенки цилиндра, которая претерпевает пластическую деформацию. Для наружной части, которая остается упругой, нужно использовать формулы, подобные формулам (а). Таким путем задача о распределении напряжений для случая цилиндра, который претерпевает лишь частичную пластическую деформацию, полностью решена. [c.324] Все эти вычисления основываются на допущении, что за пределом текучести материал течет без увеличения напряжений. 15 противном случае остаточные напряжения не могут быть вычислены так просто, как пояснено выше, и нужно обратиться к опытному определению остаточных напряжений. В таких случаях можно использовать метод, подобный тому, который применяется при определении рстатОчных напряжений при изгибе. Мы снимаем тонкие слои металла, начиная с внутренней поверхности цилиндра ), и после каждого среза измеряем деформацию, вызванную в осевом и окружном направлениях на наружной поверхности цилиндра. Такие измерения дают достаточные сведения для вычисления остаточных напряжений. [c.325] Остаточные напряжения в цилиндрах можйо вызвать не только пластической деформацией, описанной выше, но также и неравномерным охлаждением и изменением объема металла при рекристаллизации в различных процессах горячей/ обработки. Иногда эти напряжения приобретают первостепенное значение, как, например, в ч больших поковках, и уже разработано несколько методов их определения ). [c.325] Вернуться к основной статье