ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Травление из "Металлография железа 1 " где описывался электронный микроскоп, особое внимание было уделено разрешающей способности, зависящей от длины волны используемого излучения, и почти ничего не было сказано об объектах исследования — непрозрачных телах. [c.46] Оптическая металлография, созданная такими учеными, как Осмонд, Троост, Мартенс и Сорби, стала практическим методом лишь после того как Ле Шателье разработал отражательный оптический микроскоп, позволяющий исследовать непрозрачные тела. [c.46] Также не были предназначены для исследования непрозрачных материалов новые виды микроскопов, основанные на применении ультрафиолетовых и рентгеновских лучей или электронов. Кроме того, проведение исследований на этих микроскопах оказалось весьма сложным и трудным, а разрешения не столь уж высокими, за исключением разрешений, получаемых в просвечивающей электронной микроскопии. [c.46] Несмотря на то, что в просвечивающем электронном микроскопе можно наблюдать прозрачные для электронов препараты и поэтому он непригоден для исследования массивных металлических образцов 2, обеспечиваемое им высокое разрешение заставило металлургов изобрести методы, которые позволили использовать микроскоп для металлографических наблюдений. [c.46] Поскольку невозможно исследовать саму металлическую поверхность, были сделаны попытки скопировать ее с помощью реплик или отпечатков , которые являются тонкими слепками, прозрачными для электронов. [c.46] Основной задачей при разработке этого метода было получение точных и чувствительных реплик точных в том смысле, что реплики должны без ошибок копировать топографию исследуемой поверхности, и чувствительных, т. е. способных обеспечить при наблюдении достаточное разрешение и необходимую степень контраста. [c.46] Однако этот метод, точность и чувствительность которого нельзя совершенствовать беспредельно, обладает разрешающей способностью значительно ниже теоретической. В противоположность оптической микроскопии здесь лимитирующим является не разрешение прибора, а разрешение реплики. [c.46] Следовательно, приготовление реплик должно быть рассмотрено с двух точек зрения методов приготовления и их влияния на разрешение изображения и интерпретацию результатов. [c.46] В этой связи следует помнить, что металлографическое исследование требует большого количества образцов. Поэтому приготовление реплик не должно отнимать много времени, а микрофотографии их должны легко интерпретироваться. Эти условия следует соблюдать даже в том случае, если их выполнение повлечет за собой некоторую потерю разрешения. [c.46] Этот вопрос уже был подробно рассмотрен в гл, 10 и здесь больше не будет обсуждаться. Следует лишь отметить, что образцы, предназначенные для электронномикроскопического исследования, должны полироваться тщательнее, чем для оптической микроскопии это связано с необходимостью получения высокого разрешения. [c.46] Травление образцов перед их металлографическим исследованием рассмотрено в гл. И. [c.46] Вернуться к основной статье