ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Рентгеновский анализ кристаллов из "Пособие по электротехническим материалам " Задача 1-8. Расскажите об условиях дифракции Брэгга. [c.36] Эта формула называется формулой дифракции Брэгга. Она представляет собой основную формулу рептгеноструктуриого анализа кристаллов. [c.37] Задача 1-9. Расскажите о порошковом методе рентгеноструктурного анализа Дебая — Шеррера и о принципе действия рентгеновского дифрактометра. [c.37] Де порошков, регистрация распределения дифракционных максимумов интенсивности производится автоматически с помощью счетчика. [c.38] Метод анализа кристаллов с применением дифрактометра в сравнении с методом, использующим фотографирование, обладает возможностью более быстрой и точной регистрации дифракционной картины и более удобен в эксплуатации. [c.38] При анализе кристаллической структуры какого-либо опытного образца период решетки й и относительную интенсивность 1 для каждого дифрагированного луча определяют сопоставлением дифракционной картины с картами, выпускаемыми Американским обществом по испытаниям материалов (АЗТМ). Таким способом можно определить постоянную решетки, проводя анализ вещества с помощью простых приемов, подобных измерениям тестером в электротехнике. [c.38] Вернуться к основной статье