ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Многолучевая интерференция в пластине и клине из "Лабораторные оптические приборы " В непосеребренной пластине вся энергия падающего луча приходится на два отраженных луча 1 и 2 и два пропущенных луча / и 2. Яркость обоих отраженных лучей практически одинакова и поэтому в двухлучевых интерферометрах полосы, образованные при интерференции лучей, отраженных от первой и второй поверхностей (лучи 1, 2), получаются достаточно контрастными. [c.165] В посеребренной пластине лучей с заметной яркостью значительно больше и в проходящем свете энергия распределена по лучам более равномерно. [c.165] Начиная с первого члена, все последующие значения квадратов амплитуд больше предыдущих в раз, следовательно, — знаменатель прогрессии. [c.166] Многолучевая интерференция наблюдается в пластине Люммера— Герке и эталоне Фабри—Перо. На этом явлении основан принцип действия интерференционных светофильтров и светоделителей, получивших широкое распространение. [c.168] Явление многолучевой интерференции в клине используется в приборах для определения неровностей ступенчатых поверхностей. При этом интерференционная картина наблюдается на поверхности воздушного клина. Для того чтобы полосы были достаточно контрастными, необходимо выполнить определенные условия. [c.168] На поверхность полупрозрачного зеркала (рис. 114) падает параллельный пучок лучей. [c.168] Часть лучистой энергии проходит через поверхность, другая часть отражается и часть поглощается полупрозрачным слоем. [c.168] Предположим, что полосы рассматриваются через лупу с увеличением Г = 10 и их видимая ширина составляет 2 мм. В этом случае ширина полос на поверхности клина должна быть равна 0,2 мм и общее число полос на см п = 50. Допустимое значение толщины клина / шах 0,87 мкм и а 4,5. [c.170] Для рассмотренного случая а = 4,5, а тах = 6 мкм. Следовательно, Д/г = 0,008 мкм. Обычно интерференционную картину на поверхности клина наблюдают при помощи микроскопа или лупы. Рассмотрим требования к системе микроскопа для наблюдения многолучевой интерференционной картины на поверхности клина. [c.170] например, N,, = 50, А, = 550 нлг, А = 0,20. [c.172] Выполнить клин толщиной 0,045 мкм очень трудно. [c.172] Из практических соображений должно быть /г 15 мкм. Для получения возможно большей величины коэффициент отражения выбирается в пределах до 0,90— 0,95. При этом коэффициент поглощения слоя желательно иметь минимальным. [c.172] Многолучевая интерференционная картина может наблюдаться в проходящем и отраженном свете. На рис. 115 приведен пример схемы многолучевого интерферометра для наблюдения в отраженном свете. Пучок лучей от источника монохроматического света 1 (микролампа) проходит через конденсор 2, светофильтр 3 и щель 4, которая расположена в фокальной плоскости объектива 6. [c.172] Следовательно, на поверхность клина, состоящего из полупрозрачных зеркальных пластин 7 и 8, падает параллельный пучок лучей. Интерференционная картина рассматривается при помощи дополнительной оптической системы, состоящей из объектива 9 и окуляра 10. Пластина 5 полупосеребрена и служит для отклонения пучка лучей, идущего от объектива 6 к объективу 9. [c.172] Пленку с отпечатком помешают в жидкость с известным показателем преломления п и вместе с жидкостью вводят в клиновидное пространство иммерсионной камеры (рис. П6). Последняя состоит из двух стеклянных пластин, внутренние поверхности которых посеребрены (поверхность верхней пластины полупрозрачная). Для защиты от механических повреждений no e- 1 I I 1 1 1 I 1 I ребренные поверхности дополнительно покрываются слоем более прочным, чем серебро. [c.173] Вернуться к основной статье