ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Измерение состояния поверхности покрытия и основы из "Гальванотехника справочник " Для оценки цвета, блеска, степени шероховатости поверхности, наличия разного рода дефектов (шелушения, сколов, вздутий, растрескивания) используют оптические методы неразрушающего контроля (ОНК). [c.622] Физической основой ОН К является взаимодействие электромагнитного излучения оптического диапазона спектра (т. е. излучения с длинами волн от 0,1 до 1000 мкм) с объектом контроля (ОК). Наибольшее распространение получили методы и приборы, основанные на использовании видимого излучения — в диапазоне длин волн 0,4—0,78 мкм. [c.623] Изменение спектральных или интегральных фотометрических характеристик, обусловленное изменением физических свойств поверхности, приводит к соответствуюш,им изменениям амплитуды, частоты, фазы, поляризации, степени когерентности. К основным физическим эффектам, вызывающим модуляцию параметров объектов контроля, относятся отражение, поглощение, рассеяние, интерференция, дифракция, поляризация и другие оптические явления, рассматриваемые в курсах физической оптики [19.11. [c.623] С помощью ОНК можно контролировать такие характеристики качества поверхности гальванопокрытий, как наличие дефектов типа нарушения сплошности (раковины, царапины, пористость, отслоения, пятнистость, подгар углов и острых кромок, полосчатость, питтинг и др.), изменение цвета и блеска, микрогеометрия (шероховатость). [c.623] При организации визуального контроля следует иметь в виду уникальную способность нашего зрения быстро и точно оценивать сходство различных изображений. Поэтому целесообразно иметь наборы изображений образцовых структур поверхности гальванопокрытий, типовых дефектов для облегчения работы по классификации контролируемых объектов. При определении цветности покрытий целесообразно использовать атлас цветных образцов, выпускаемый ВНИИметрологии (Ленинград). [c.623] Наибольшее распространение в практике контроля гальванопокрытий получили стереомикроскопы и проекторы, а также измерительные микроскопы (табл. 19.7 19.8). [c.624] Для контроля покрытий в труднодоступных местах применяют линзовые или волоконнооптические эндоскопы (табл. 19.9). Действие последних основано на передаче света и изображения по гибким пучкам тонких регулярно уложенных оптических волокон. [c.624] В ряде случаев необходимо оценить размеры дефектов не только в плоскости покрытия, но и по его глубине. Для этой цели применяют специальные автоколлимационные, а также растровые микроскопы, позволяющие благодаря точной фокусировке изображения при перемещении объектов вдоль оптической оси прибора фиксировать глубину залегания отдельных слоев дефекта, т. е. осуществлять его топографирование . Точность приборов зависит от глубины резкости микроскопа и достигает 1 мкм для микрообъектива с увеличением 40 крат. [c.624] Большей точностью (до 0,10 мкм) обладают микроинтерферометры (табл. 19.10), в оптическую систему микроскопа которых включены дополнительные элементы, реализующие эффект интерференции при отражении света от поверхности. [c.624] Фотоэлектрические фотометры, измеряющие коэффициенты отражения от объекта (рефлектометры), могут быть использованы для объективной оценки степени шероховатости покрытия, так как имеется хорошая корреляция между отражательной способностью объекта контроля (зеркальной и/или диффузной) и микрогеометрией его поверхности [19.131. Параметры некоторых рефлектометров были приведены в табл. 19.10. [c.626] Вернуться к основной статье